[發明專利]一種檢測識別流體中的未知顆粒的方法與設備

在審

• 申請號: 202110366742.6
• 申請日: 2021-04-06
• 公開（公告）號: CN113138143A
• 公開（公告）日: 2021-07-20
• 發明（設計）人: 曹路;宋鳳麒
• 申請（專利權）人: 江蘇集創原子團簇科技研究院有限公司
• 主分類號: G01N15/00
• 分類號: G01N15/00;G01N21/49
• 代理公司: 南京瑞弘專利商標事務所(普通合伙) 32249
• 代理人: 趙艷平

1.一種檢測識別流體中的未知顆粒的方法，用于識別存在于特定位置的流體中的未知顆粒的方法，其特征是，方法包括：通過引導光束穿過流體并在二個以上不同方向上檢測從光束散射的光到檢測器來檢測顆粒；顆粒穿過沿著所述光束的檢測區域，并記錄事件的所述檢測器的輸出以產生事件向量，該事件向量包括在表示顆粒多維投影的存儲器中建立數據，其中每個事件向量在投影的多個分離的已知顆粒體積中的每個都有多個不同的已知顆粒種類，其中包括：

確定不在所述已知顆粒體積之一的多個未知顆粒中的每一個未知顆粒的在多維投影的所述存儲器中的位置；確定位于所述多維投影中某個位置的未知顆粒，指可能位于所述已知顆粒體積之外的，可能存在的新的顆粒種類，并且顆粒的密度至少比所述多維投影中的顆粒的平均密度大50％投影。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征是，其中：在確定一定數量的流體中的新顆粒種類后，在顯微鏡下檢查顆粒，以確定新顆粒種類的可能種類。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征是，其中：所述識別可能的新顆粒物種的步驟包括，識別與所述已知顆粒物種體積的平均值具有相同數量級的體積中的顆粒的存在，并且其中顆粒的密度至少比平均值大100％所述多維投影中的顆粒密度。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征是，其中：如果新的顆粒種類的位置接近所述已知顆粒體積的第一個，則采取檢查所述新種類的顆粒以確定其種類是否與所述第一已知顆粒的種類相同的步驟；如果是，則將所述第一已知顆粒的體積擴展到包括所述新顆粒物種的體積。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征是，包括：記錄事件向量的安全背景圖案，該事件向量是通過至少不含足夠數量的致病微生物引起疾病的安全樣本而進行的；

所述識別新顆粒物種的步驟包括識別其平均密度比所述安全背景圖案的顆粒的平均密度大至少50％的顆粒簇。

6.一種用于識別在特定位置的新流體樣本中存在的未知顆粒的方法，其特征是，該方法包括通過引導光束穿過流體并檢測從光束沿二個以上不同方向散射的光到檢測器來檢測顆粒，當顆粒穿過沿著所述光束的檢測區域并記錄事件的所述檢測器的輸出以產生事件矢量時，該事件矢量包括在表示多維投影的存儲器中建立數據，其中各組事件矢量為多個不同已知顆粒的，每個顆粒位于投影的多個分離的已知顆粒空間的投影中，包括記錄事件向量的安全背景圖案，以獲取在所述特定位置采集的安全背景的流體樣本，該樣本被發現是安全的；

確定在所述存儲器中代表所述新的流體樣本中的多個未知顆粒中的每一個的多維投影的位置；

識別可能的新顆粒種類，該顆粒位于所述多維投影中位于所述已知顆粒體積之外的位置，并且其中顆粒的密度比新的流體樣本中顆粒的平均密度至少大50％和安全背景圖案中的顆粒。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征是，其中：所述識別新顆粒物種的步驟包括從新模式中的顆粒的事件向量中減去安全背景模式中的某些顆粒的事件向量，其中安全背景模式中的顆粒與新模式中的顆粒位于基本上相同的位置圖案。

8.用于識別待分析流體中存在的未知顆粒的設備，其特征是，該設備包括用于產生光束的裝置和多個檢測器，每個檢測器在沿光束方向的檢測區域檢測沿不同方向散射的光顆粒進入檢測區域，從而產生一個事件，一個事件的檢測器的輸出構成該事件的事件向量，該設備包括一個存儲器，該存儲器存儲多個已知顆粒模式的顆粒，每個顆粒均是已知的-種，其中每個已知顆粒圖樣都包含多個事件向量，每個事件向量都適合多維投影的較小已知顆粒體積，其中每個事件向量都是多維投影中的一個點，每個較小的已知顆粒體積都包含以下事件向量：一個顆粒物種彼此分離；并且該設備包括處理電路，該處理電路包括用于模式識別裝置指出由未知顆粒的事件產生的未知事件矢量是否位于已知顆粒體積之一中，其中：

所述處理電路被構造為存儲那些不在已知顆粒體積之一中的未知顆粒的事件向量；

所述處理電路包括聚類算法模塊，該聚類算法模塊確定不位于已知顆粒體積之一中的事件矢量，包括在所述多維投影中形成一個或多個聚類的一個或多個組，并生成輸出，指示何時找到集群。

9.根據權利要求8所述的設備，其中，所述流體可以包含足夠量的諸如病原微生物的不安全顆粒，并且是不安全的流體，并且所述流體可以不含足夠量的所述不安全顆粒，因此是安全的流體，并且其中：

所述存儲器存儲模式，每個模式包括適合于小的已知顆粒體積的已知顆粒的多個事件向量，還存儲安全背景簽名，該安全背景特征包括表示所述多維投影中的點的多個事件向量，所述投影中的點是至少從實際產生的事件向量產生的一個被測試為安全的流體樣本，并且所述處理電路搜索安全背景特征中不存在的那些顆粒的簇。