[發(fā)明專利]一種四氟化硅的制備方法及裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110365956.1 | 申請(qǐng)日: | 2021-04-06 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113184857A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-07-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王云飛;柳彤;鄭秋艷;林坤;劉海芳;李旭;蔣玉虎;呂隨強(qiáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中船重工(邯鄲)派瑞特種氣體有限公司 |
| 主分類號(hào): | C01B33/107 | 分類號(hào): | C01B33/107 |
| 代理公司: | 北京理工大學(xué)專利中心 11120 | 代理人: | 周蜜 |
| 地址: | 057550 河北省邯*** | 國(guó)省代碼: | 河北;13 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 氟化 制備 方法 裝置 | ||
1.一種四氟化硅的制備方法,其特征在于:所述方法步驟如下:
①將SiO2顆粒作為硅源分層放置在反應(yīng)塔中的分層板上,從塔頂抽真空,加熱分層板溫度至200℃~400℃;
②向反應(yīng)塔中通入體積分?jǐn)?shù)為99.9%的氫氣,在200℃~400℃發(fā)生如式Ι所示的反應(yīng),反應(yīng)5h~10h,
H2+SiO2→Si+H2O Ι;
③繼續(xù)對(duì)反應(yīng)塔進(jìn)行加熱并抽真空,加熱溫度為200℃~400℃,抽真空時(shí)間為5h~10h;然后通入氟氣和氮?dú)饣旌蠚怏w,在100℃~200℃下發(fā)生如Ⅱ所示的反應(yīng),反應(yīng)3h~8h,得到粗品SiF4,
Si+F2→SiF4 Ⅱ;
④將粗品SiF4通過(guò)反應(yīng)塔的出料管路收集至低溫儲(chǔ)罐,低溫儲(chǔ)罐由冷卻釜及其上方連接的冷卻柱構(gòu)成,冷卻釜和冷卻柱外側(cè)均設(shè)有液氮夾套;冷卻釜的溫度為-90℃~-150℃,冷卻柱的溫度為-50℃~-90℃,然后從低溫儲(chǔ)罐上方抽真空至1KPa~2KPa,得到高純四氟化硅。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種四氟化硅的制備方法,其特征在于:所述SiO2顆粒的粒徑為5mm~20mm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種四氟化硅的制備方法,其特征在于:步驟①中塔頂抽真空時(shí)間為10h~15h。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種四氟化硅的制備方法,其特征在于:氟氣和氮?dú)饣旌蠚怏w中氟氣的體積分?jǐn)?shù)為20%~40%。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種四氟化硅的制備方法,其特征在于:冷卻釜的溫度為-110℃~-150℃,冷卻柱的溫度為-60℃~-80℃。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種四氟化硅的制備方法,其特征在于:所述SiO2顆粒的粒徑為5mm~20mm;
步驟①中塔頂抽真空時(shí)間為10h~15h;
氟氣和氮?dú)饣旌蠚怏w中氟氣的體積分?jǐn)?shù)為20%~40%;
冷卻釜的溫度為-110℃~-150℃,冷卻柱的溫度為-60℃~-80℃。
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