[發(fā)明專利]一種感染標(biāo)志物智能評(píng)估用設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110365179.0 | 申請(qǐng)日: | 2021-04-06 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113447474A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-09-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 嚴(yán)啟滔;嚴(yán)啟基 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 南京精迅分子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/76 | 分類號(hào): | G01N21/76 |
| 代理公司: | 石家莊隆康知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 13140 | 代理人: | 李慧 |
| 地址: | 210024 江蘇省南京*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 感染 標(biāo)志 智能 評(píng)估 設(shè)備 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種感染標(biāo)志物智能評(píng)估用設(shè)備,包括標(biāo)志物芯片檢測(cè)儀、芯片放置板和芯片檢測(cè)板,所述芯片放置板位于標(biāo)志物芯片檢測(cè)儀內(nèi)部的底部,所述芯片檢測(cè)板位于芯片放置板的頂部。本發(fā)明通過(guò)設(shè)置標(biāo)志物芯片檢測(cè)儀、芯片放置板、芯片檢測(cè)板、限定構(gòu)件、限定板、第一固定桿、第一滑動(dòng)板、U型卡槽、擋板構(gòu)件、第二固定桿、L型卡槽、L型卡塊、固定擋板、密封組件、密封罩、合頁(yè)和密封圈的配合使用,解決了現(xiàn)有標(biāo)志物檢測(cè)時(shí)將發(fā)光陣列芯片放置在檢測(cè)臺(tái)上,當(dāng)放置多個(gè)發(fā)光陣列芯片,發(fā)光陣列芯片容易移動(dòng),同時(shí)在儀器放置時(shí),放置臺(tái)暴露在外面,容易受到污染,造成檢測(cè)樣本受到影響的問(wèn)題。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于感染標(biāo)志物評(píng)估技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種感染標(biāo)志物智能評(píng)估用設(shè)備。
背景技術(shù)
腫瘤檢測(cè)需要使用到標(biāo)志物芯片檢測(cè)儀,標(biāo)志物芯片檢測(cè)儀在使用過(guò)程中具有檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確、靈敏度高、檢測(cè)快速、成本底和同時(shí)檢測(cè)多種腫瘤標(biāo)志物的特點(diǎn),但在對(duì)標(biāo)志物檢測(cè)時(shí)將發(fā)光陣列芯片放置在檢測(cè)臺(tái)上,當(dāng)放置多個(gè)發(fā)光陣列芯片,發(fā)光陣列芯片容易移動(dòng),同時(shí)在儀器放置時(shí),放置臺(tái)暴露在外面,容易受到污染,造成檢測(cè)樣本受到影響的問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種感染標(biāo)志物智能評(píng)估用設(shè)備,具備方便固定和防護(hù)的優(yōu)點(diǎn),解決了現(xiàn)有標(biāo)志物檢測(cè)時(shí)將發(fā)光陣列芯片放置在檢測(cè)臺(tái)上,當(dāng)放置多個(gè)發(fā)光陣列芯片,發(fā)光陣列芯片容易移動(dòng),同時(shí)在儀器放置時(shí),放置臺(tái)暴露在外面,容易受到污染,造成檢測(cè)樣本受到影響的問(wèn)題。
本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的,一種感染標(biāo)志物智能評(píng)估用設(shè)備,包括標(biāo)志物芯片檢測(cè)儀、芯片放置板和芯片檢測(cè)板,所述芯片放置板位于標(biāo)志物芯片檢測(cè)儀內(nèi)部的底部,所述芯片檢測(cè)板位于芯片放置板的頂部;
所述芯片檢測(cè)板的數(shù)量為四個(gè),且均勻分布于芯片放置板的頂部;
所述芯片放置板內(nèi)部的前側(cè)設(shè)置有與芯片檢測(cè)板配合使用的限定構(gòu)件,所述芯片放置板內(nèi)部的后側(cè)設(shè)置有擋板構(gòu)件,且擋板構(gòu)件的前側(cè)與芯片檢測(cè)板的后側(cè)配合使用;
所述芯片放置板的頂部設(shè)置有密封組件,所述密封組件的底部與芯片放置板的頂部配合使用,且限定構(gòu)件、芯片檢測(cè)板和擋板構(gòu)件均位于密封組件的內(nèi)部。
作為本發(fā)明優(yōu)選的,所述限定構(gòu)件包括限定板、第一固定桿、第一滑動(dòng)板和U型卡槽,所述限定板的底部與第一固定桿的頂部固定連接,所述第一固定桿的底部與第一滑動(dòng)板的頂部固定連接,所述第一固定桿的表面與U型卡槽的內(nèi)部活動(dòng)連接,所述第一滑動(dòng)板位于芯片放置板內(nèi)部的前側(cè)。
作為本發(fā)明優(yōu)選的,所述擋板構(gòu)件包括第二固定桿、四個(gè)L型卡槽、四個(gè)L型卡塊和四個(gè)固定擋板,所述第二固定桿的底部與四個(gè)L型卡塊的頂部固定連接,四個(gè)所述L型卡槽均開(kāi)設(shè)于芯片放置板頂部的后側(cè),所述L型卡槽與L型卡塊配合使用,四個(gè)所述固定擋板的后側(cè)與第二固定桿前側(cè)的頂部固定連接,所述固定擋板的底部與芯片檢測(cè)板頂部的后側(cè)配合使用。
作為本發(fā)明優(yōu)選的,所述密封組件包括密封罩、合頁(yè)和密封圈,所述密封罩后側(cè)的底部與合頁(yè)固定連接,所述密封罩通過(guò)合頁(yè)與芯片放置板頂部的后側(cè)活動(dòng)連接,所述密封圈的頂部與密封罩的底部固定連接,所述密封圈的底部與芯片放置板的頂部接觸,且限定構(gòu)件和擋板構(gòu)件均位于密封罩的內(nèi)部。
作為本發(fā)明優(yōu)選的,所述第一滑動(dòng)板的左側(cè)設(shè)置有第二滑動(dòng)板,所述第二滑動(dòng)板的表面與芯片放置板的內(nèi)壁活動(dòng)連接,所述第二滑動(dòng)板的左側(cè)固定連接有彈簧,所述彈簧的左側(cè)與芯片放置板的內(nèi)壁固定連接。
作為本發(fā)明優(yōu)選的,所述固定擋板內(nèi)部的底部開(kāi)設(shè)有第一凹槽,所述第一凹槽的內(nèi)部設(shè)置有密封墊,且密封墊為橡膠材質(zhì)。
作為本發(fā)明優(yōu)選的,所述限定板內(nèi)部的底部開(kāi)設(shè)有三個(gè)第二凹槽,所述第二凹槽的內(nèi)部設(shè)置有多個(gè)限位輪,多個(gè)所述限位輪串聯(lián),且與第二凹槽的內(nèi)壁活動(dòng)連接,多個(gè)所述限位輪的底部與芯片檢測(cè)板的頂部配合使用。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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