[發(fā)明專利]一種用于滲漏檢測(cè)的頻分電法校正方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110364562.4
• 申請(qǐng)日: 2021-04-06
• 公開（公告）號(hào): CN113031078B
• 公開（公告）日: 2022-01-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉嶸;劉春明;曹創(chuàng)華;周煒鑒;王貴財(cái);郭榮文;唐冬春;程云濤;陳儒軍;汪鑫強(qiáng);汪衡珍;宋智勇;王金海
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中南大學(xué)
• 主分類號(hào): G01V3/00
• 分類號(hào): G01V3/00;G01V13/00;G01M3/00;G01M3/16
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• 代理人: 暫無(wú)信息

1.一種用于滲漏檢測(cè)的頻分電法校正方法，其具體步驟如下：

a)在填埋場(chǎng)內(nèi)部布置一條或多條電法勘探測(cè)線，如果是多條電法勘探測(cè)線，則所有電法勘探測(cè)線不相交；

b)在填埋場(chǎng)外部布置供電電極A1和B1，在填埋場(chǎng)內(nèi)部布置供電電極A2和B2及頻分電法供電系統(tǒng)，并供電，供電電極A1和B1所通過的電信號(hào)頻率f₁與供電電極A2和B2所通過的電信號(hào)頻率f₂不相同，即f₁≠f₂；

c)本步驟基于工作模式不同，分2種情況：第一種是差分工作模式，第二種是總場(chǎng)工作模式；

若開展的是差分工作模式，則在填埋場(chǎng)內(nèi)部的電法勘探測(cè)線上布置測(cè)量電極M和N，并布置測(cè)量系統(tǒng)，同時(shí)觀測(cè)測(cè)量電極M和N之間的頻率f₁電信號(hào)的電位差V_MN-A1B1-f1和頻率f₂電信號(hào)的電位差V_MN-A2B2-f2，開展某次電位差測(cè)量時(shí)的測(cè)量電極M和N均在同一條電法勘探測(cè)線上，后續(xù)步驟的開展某次電位差測(cè)量時(shí)的測(cè)量電極M和N均在同一條電法勘探測(cè)線上；同時(shí)記錄通過供電電極A1和B1上的頻率f₁電信號(hào)的供電電流值；同時(shí)記錄通過供電電極A2和B2上的頻率f₂電信號(hào)的供電電流值；

若開展的是總場(chǎng)工作模式，則在填埋場(chǎng)內(nèi)部的電法勘探測(cè)線上布置測(cè)量電極M和在填埋場(chǎng)外部布置無(wú)窮遠(yuǎn)測(cè)量電極P，并布置測(cè)量系統(tǒng)，同時(shí)觀測(cè)測(cè)量電極M和無(wú)窮遠(yuǎn)測(cè)量電極P之間的頻率f₁電信號(hào)的總電場(chǎng)V_M-A1B1-f1和頻率f₂電信號(hào)的總電場(chǎng)V_M-A2B2-f2；同時(shí)記錄通過供電電極A1和B1上的頻率f₁電信號(hào)的供電電流值；同時(shí)記錄通過供電電極A2和B2上的頻率f₂電信號(hào)的供電電流值；

d)本步驟基于工作模式不同，分2種情況：若開展的是差分工作模式，則改變測(cè)量電極M和N的位置，再次同時(shí)觀測(cè)測(cè)量電極M和N之間的頻率f₁電信號(hào)的電位差和頻率f₂電信號(hào)的電位差；同時(shí)記錄通過供電電極A1和B1上的頻率f₁電信號(hào)的供電電流值；同時(shí)記錄通過供電電極A2和B2上的頻率f₂電信號(hào)的供電電流值；

若開展的是總場(chǎng)工作模式，則改變測(cè)量電極M的位置，再次同時(shí)觀測(cè)測(cè)量電極M和無(wú)窮遠(yuǎn)測(cè)量電極P之間的頻率f₁電信號(hào)的總電場(chǎng)和頻率f₂電信號(hào)的總電場(chǎng)；同時(shí)記錄通過供電電極A1和B1上的頻率f₁電信號(hào)的供電電流值；同時(shí)記錄通過供電電極A2和B2上的頻率f₂電信號(hào)的供電電流值；

e)直至填埋場(chǎng)內(nèi)設(shè)計(jì)的所有測(cè)點(diǎn)上的電位差或總電場(chǎng)測(cè)量完畢；差分工作模式的測(cè)點(diǎn)的記錄點(diǎn)以測(cè)量電位差時(shí)的測(cè)量電極M與N的中心為記錄點(diǎn)，并以該中心的平面坐標(biāo)作為測(cè)點(diǎn)的平面坐標(biāo)；總場(chǎng)工作模式的測(cè)點(diǎn)的記錄點(diǎn)以測(cè)量總電場(chǎng)時(shí)的測(cè)量電極M為記錄點(diǎn)；

f)根據(jù)工作模式，選擇公式計(jì)算；若是差分工作模式，按照公式(1)，求取所有測(cè)點(diǎn)的差分判漏參數(shù)LEAK_MN，

公式(1)中的V_MN-A1B1-f1為供電電極A1和B1供電時(shí)，測(cè)量電極M和N上的測(cè)量頻率f₁電信號(hào)的電位差；為測(cè)量電極M和N之間的距離；I_A1B1-MN-f1為測(cè)量電極M和N上測(cè)量電位差時(shí)，供電電極A1和B1通過的頻率f₁電信號(hào)的供電電流值；K_MN-A2B2為供電電極A2和B2、測(cè)量電極M和N的裝置系數(shù)；V_MN-A2B2-f2為供電電極A2和B2供電時(shí)，測(cè)量電極M和N上的頻率f₂電信號(hào)的電位差；I_A2B2-MN-f2為測(cè)量電極M和N上測(cè)量頻率f₂電信號(hào)的電位差時(shí)，供電電極A2和B2通過的頻率f₂電信號(hào)的供電電流值；公式(1)中的I_A1B1-MN-f1、V_MN-A1B1-f1、K_MN-A2B2、V_MN-A2B2-f2、I_A2B2-MN-f2中的測(cè)量電極M和N的位置均相同；

若是總場(chǎng)工作模式，則按照公式(2)，求取所有測(cè)點(diǎn)的總場(chǎng)判漏參數(shù)LEAK_M，

公式(2)中的V_M-A1B1-f1為供電電極A1和B1供電時(shí)，測(cè)量電極M和無(wú)窮遠(yuǎn)測(cè)量電極P上的測(cè)量頻率f₁電信號(hào)的總電場(chǎng)；I_A1B1-M-f1為測(cè)量電極M和無(wú)窮遠(yuǎn)測(cè)量電極P上測(cè)量總電場(chǎng)時(shí)，供電電極A1和B1通過的頻率f₁電信號(hào)的供電電流值；K_M-A2B2為供電電極A2和B2、測(cè)量電極M的裝置系數(shù)；V_M-A2B2-f2為供電電極A2和B2供電時(shí)，測(cè)量電極M和無(wú)窮遠(yuǎn)測(cè)量電極P上的頻率f₂電信號(hào)的總電場(chǎng)；I_A2B2-M-f2為測(cè)量電極M和無(wú)窮遠(yuǎn)測(cè)量電極P上測(cè)量頻率f₂電信號(hào)的總電場(chǎng)時(shí)，供電電極A2和B2通過的頻率f₂電信號(hào)的供電電流值；公式(2)中的I_A1B1-M-f1、V_M-A1B1-f1中的測(cè)量電極M的位置均相同；

g)根據(jù)工作模式，進(jìn)行圖形繪制；若開展的是差分工作模式，則對(duì)測(cè)點(diǎn)的差分判漏參數(shù)根據(jù)測(cè)點(diǎn)平面坐標(biāo)進(jìn)行差分判漏參數(shù)圖形繪制；若只有一條電法勘探測(cè)線，則繪制差分判漏參數(shù)單曲線圖形；若有多條電法勘探測(cè)線，則繪制差分判漏參數(shù)平面剖面圖；

若開展的是總場(chǎng)工作模式，則對(duì)測(cè)點(diǎn)的總場(chǎng)判漏參數(shù)根據(jù)測(cè)點(diǎn)平面坐標(biāo)進(jìn)行總場(chǎng)判漏參數(shù)圖形繪制；若只有一條電法勘探測(cè)線，則繪制總場(chǎng)判漏參數(shù)單曲線圖形；若有多條電法勘探測(cè)線，則繪制總場(chǎng)判漏參數(shù)平面剖面圖；

h)對(duì)g)步驟的差分判漏參數(shù)或總場(chǎng)判漏參數(shù)圖形按照判斷滲漏點(diǎn)的法則進(jìn)行分析，判斷填埋場(chǎng)是否存在滲漏，若存在滲漏，獲取滲漏點(diǎn)的平面坐標(biāo)位置。