[發明專利]基于電離室矩陣MatriXX檢驗直線加速器光射野一致性的方法

有效

• 申請號: 202110362965.5
• 申請日: 2021-04-02
• 公開（公告）號: CN113209496B
• 公開（公告）日: 2022-12-09
• 發明（設計）人: 付廷巖;孫亞平;趙旺兄;樊婷;姚偉;郝宏毅;莊慶昕;吳曉東;張宇卉;楊勇;張魯寧;梁瑞;袁春生;馬麗;王雪霽;郭瑩;倪曉波;鄭冬菊;劉醫輝
• 申請（專利權）人: 寧夏回族自治區人民醫院（寧夏眼科醫院;西北民族大學第一附屬醫院）
• 主分類號: A61N5/10
• 分類號: A61N5/10
• 代理公司: 上海智信專利代理有限公司 31002
• 代理人: 鄭暄;豆欣欣

1.一種基于電離室矩陣MatriXX檢驗直線加速器光射野一致性的方法，其特征在于，所述的方法包括步驟：

S1，根據直線加速器的QA光射野一致性要求中的光野大小，計算出預設光野大小；

S2，對于光射野一致性滿足臨床使用要求的直線加速器，使用免洗膠片測量預設光野大小時四邊鉛門對應的射野誤差；

S3，使用電離室矩陣MatriXX測量預設光野大小時四邊鉛門對應的射野誤差，建立電離室矩陣MatriXX與免洗膠片誤差間的關系；

S4，使用電離室矩陣MatriXX進行光射野一致性的檢測，在誤差超過預設范圍時使用免洗膠片驗證并校準；

所述的步驟S3具體為：

S3.1，將機架機頭置0，并將電離室矩陣MatriXX置床面，使電離室矩陣MatriXX上的中心“十”字與直線加速器叉絲重合、兩側相應標記線與激光橫線重合；

S3.2，打開電離室矩陣MatriXX電源，設定預設光野大小，直線加速器出束，采集數據；

S3.3，讀取電離室矩陣MatriXX圖像中X1、X2、Y1和Y2在信號50%處的讀數，計算光射野一致性誤差，分別記為?X1_M、?X2_M、?Y1_M、?Y2_M；

S3.4，建立電離室矩陣MatriXX與免洗膠片所測量的光射野一致性誤差間的關系，即，?X1_M與?X1_F、?X2_M與?X2 _F、?Y1 _M與?Y1_F、?Y2_M與?Y2 _F間的對應關系；

在步驟S4中，每次的測得值記為?X1`<sub>M</sub>、?X2`_M、?Y1`<sub>M</sub>、?Y2` _M，則?X1`<sub>M</sub>-?X1<sub>M</sub>+?X1<sub>F</sub>、?X2`_M -?X2_M+?X2_F、?Y1`<sub>M</sub> -?Y1<sub>M</sub>+?Y1<sub>F</sub>、?Y2`_M -?Y2_M+?Y2_F分別為X1、X2、Y1和Y2四個鉛門的位置誤差，若位置誤差超過±2mm，則使用免洗膠片驗證并校準。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述的直線加速器的光射野一致性首先使用免洗膠片進行校驗合格，其中，將所述的免洗膠片所測量的光射野一致性誤差記為?X1_F、?X2_F、?Y1_F、?Y2_F。