[發(fā)明專利]半導(dǎo)體元件的制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110362853.X | 申請日: | 2021-04-02 |
| 公開(公告)號: | CN113539950A | 公開(公告)日: | 2021-10-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 薛宇涵 | 申請(專利權(quán))人: | 南亞科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768 |
| 代理公司: | 隆天知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003 | 代理人: | 黃艷 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 元件 制備 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體元件的制備方法,包括:
形成一第一導(dǎo)電線,該第一導(dǎo)電線包括一第一突出部,該第一突出部形成在該第一導(dǎo)電線的其中一側(cè);
形成一第二導(dǎo)電線,該第二導(dǎo)電線包括第二突出部,該第二突出部形成在該第二導(dǎo)電線的其中一側(cè),并面對該第一突出部;
形成一孔洞在該第一突出部與該第二突出部之間;以及
執(zhí)行一蝕刻制程以擴展該孔洞成為一氣隙。
2.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體元件的制備方法,其中,該蝕刻制程是以平行于該第一導(dǎo)電線與該第二導(dǎo)電線的主軸而擴展該孔洞。
3.如權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體元件的制備方法,還包括:形成一第一襯墊層在該氣隙中,其中該第一襯墊層由下列材料所制:氧化硅、氮化硅、氮氧化硅,或氧化氮化硅。
4.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體元件的制備方法,還包括:形成多個保護層在該第一導(dǎo)電線與該第二導(dǎo)電線上,其中該多個保護層由下列材料所制:鉭、氮化鉭、氮碳化鎢、鈷-鎢-磷化物合金、磷化鈷合金、鎳-鎢-磷化物合金、鎳硼合金、鈷-鎢-硼合金、鎳-錸-磷化物合金、鈷-錸-磷化物合金,或鎳。
5.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體元件的制備方法,還包括:形成一覆蓋層以密封該氣隙。
6.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體元件的制備方法,還包括:形成多個阻障層在該第一突出部的各側(cè)邊上以及在該第二突出部的各側(cè)邊上,其中該多個阻障層由下列材料所制:鈦、氮化鈦、氮化鈦硅、鉭、氮化鉭,或氮化鉭硅。
7.如權(quán)利要求6所述的半導(dǎo)體元件的制備方法,其中,該多個阻障層的一厚度介于大約到大約之間。
8.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體元件的制備方法,其中,位在該第一突出部與該第二突出部之間的一距離,小于位在該第一導(dǎo)電線與該第二導(dǎo)電線之間的一距離。
9.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體元件的制備方法,其中,該第一突出部形成在該第一導(dǎo)電線的其中一端,且該第二突出部形成在該第二導(dǎo)電線的其中一端。
10.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體元件的制備方法,還包括:形成一隔離層以及一第一襯墊層,其中該第一襯墊層形成在該第一突出部的其中一側(cè)上、在該第二突出部的其中一側(cè)上以及在該隔離層的一上表面上,其中該第一突出部的該側(cè)以及該第二突出部的該側(cè)相互面對設(shè)置。
11.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體元件的制備方法,還包括:形成一隔離層以及多個第二襯墊層,其中該第一導(dǎo)電線與該第二導(dǎo)電線形成在該隔離層上,該多個第二襯墊層形成在該第一突出部的各側(cè)邊上、在該第二突出部的各側(cè)邊上以及在該隔離層的一上表面上。
12.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體元件的制備方法,還包括:形成多個第三襯墊層在該第一突出部的各側(cè)邊上以及在該第二突出部的各側(cè)邊上。
13.如權(quán)利要求12所述的半導(dǎo)體元件的制備方法,還包括:形成一覆蓋層以密封該氣隙;以及形成一第四襯墊層在該覆蓋層下方,以及在該第一突出部與該第二突出部之間。
14.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體元件的制備方法,還包括:形成一密封層在該第一導(dǎo)電線與該第二導(dǎo)電線的一端上,其中該第一導(dǎo)電線、該第二導(dǎo)電線以及該密封層未在相同的一垂直位面。
15.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體元件的制備方法,還包括:形成一覆蓋層以密封該氣隙;以及形成多個保護層在該第一導(dǎo)電線與該覆蓋層之間,以及在該第二導(dǎo)電線與該覆蓋層之間。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





