[發(fā)明專利]基于核引導(dǎo)可變卷積和雙窗聯(lián)合雙邊濾波器的高光譜圖分類方法及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110361621.2 | 申請(qǐng)日: | 2021-04-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113033686B | 公開(公告)日: | 2022-03-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馮收;朱文祥;趙春暉;吳丹;秦博奧;成浩;樊元澤;豐瑞 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 哈爾濱工程大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06V10/764 | 分類號(hào): | G06V10/764;G06V10/74;G06V10/774;G06V10/30;G06V20/10;G06V10/82;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G06V10/58 |
| 代理公司: | 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 23109 | 代理人: | 時(shí)起磊 |
| 地址: | 150001 黑龍江*** | 國(guó)省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 引導(dǎo) 可變 卷積 聯(lián)合 雙邊 濾波器 光譜 分類 方法 系統(tǒng) | ||
1.基于核引導(dǎo)可變卷積和雙窗聯(lián)合雙邊濾波器的高光譜圖分類方法,其特征在于,包括以下步驟:
針對(duì)待分類的高光譜圖像,利用基于核引導(dǎo)可變卷積和雙窗聯(lián)合濾波的高光譜圖像分類模型進(jìn)行分類處理;
所述的基于核引導(dǎo)可變卷積和雙窗聯(lián)合濾波的高光譜圖像分類模型主要包括特征提取和再分類兩個(gè)階段;
在第一階段中,待分類的高光譜圖像的大小為H*W*B,對(duì)于高光譜圖像中任一個(gè)像素點(diǎn)A,取以該像素點(diǎn)為中心的N*N范圍的區(qū)域作為特征提取網(wǎng)絡(luò)的輸入;特征提取網(wǎng)絡(luò)的輸入就是大小為N*N*B的高光譜立方體塊;
首先,利用多層核引導(dǎo)可變卷積層組成特征提取網(wǎng)絡(luò)提取空譜特征;
然后,將提取出來的特征輸入到全連接層中,得到初始分類概率圖,大小為H*W*C;特征提取階段組成的網(wǎng)絡(luò)稱為核引導(dǎo)可變卷積網(wǎng)絡(luò)KDCNet;
在第二階段中,對(duì)于初始的分類概率圖中任一個(gè)像素點(diǎn)B,取以該像素點(diǎn)為中心的N1*N1范圍作為再分類階段中第一個(gè)雙窗聯(lián)合雙邊濾波器模塊的其中一個(gè)輸入;之后,取待分類的高光譜圖像中的像素點(diǎn)B為中心的N1*N1范圍的區(qū)域輸入到雙參數(shù)核模塊中,生成相似度圖;該相似度圖是第一個(gè)雙窗聯(lián)合雙邊濾波器模塊的另一個(gè)輸入;在再分類階段中,首先將大小為N1*N1的相似度圖和大小為N1*N1*C的初始的分類概率圖輸入到第一個(gè)雙窗聯(lián)合雙邊濾波器模塊中,經(jīng)過優(yōu)化后,再將優(yōu)化后的結(jié)果和大小為N1*N1的相似度圖輸入到第二個(gè)雙窗聯(lián)合雙邊濾波器模塊中;
對(duì)于初始的分類概率圖中任一個(gè)像素點(diǎn)進(jìn)行上述操作,輸出的結(jié)果就是最終的分類概率圖;對(duì)最終的分類概率圖進(jìn)行最大概率取值,得到最終的分類結(jié)果圖。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于核引導(dǎo)可變卷積和雙窗聯(lián)合雙邊濾波器的高光譜圖分類方法,其特征在于,所述取以該像素點(diǎn)為中心的N*N范圍的區(qū)域作為特征提取網(wǎng)絡(luò)的輸入的過程中,如果中心像素鄰域區(qū)域范圍小于N*N,用0補(bǔ)全。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于核引導(dǎo)可變卷積和雙窗聯(lián)合雙邊濾波器的高光譜圖分類方法,其特征在于,所述特征提取網(wǎng)絡(luò)為三層核引導(dǎo)可變卷積層組成特征提取網(wǎng)絡(luò)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的基于核引導(dǎo)可變卷積和雙窗聯(lián)合雙邊濾波器的高光譜圖分類方法,其特征在于,所述雙參數(shù)核模塊生成相似度圖的過程包括以下步驟:
其中,和是兩個(gè)高斯核計(jì)算,生成兩個(gè)參數(shù),分別代表距離相似度和光譜相似度;δsδr是高斯核參數(shù);q0是輸入特征圖的中心像素點(diǎn),x(q0)為對(duì)應(yīng)像素點(diǎn)的值;q代表輸入特征圖的每一個(gè)像素點(diǎn),x(q)為對(duì)應(yīng)像素點(diǎn)的值;S′(q)為相似度圖;B是輸入特征x的深度。
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