[發明專利]一種全自動老化測試系統及方法

在審

• 申請號: 202110356226.5
• 申請日: 2021-04-01
• 公開（公告）號: CN113049904A
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發明（設計）人: 張凱
• 申請（專利權）人: 韋森特(東莞)科技技術有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/01;B07C5/34;B07C5/38
• 代理公司: 東莞技創百科知識產權代理事務所(普通合伙) 44608
• 代理人: 邱凱

本發明公開了一種全自動老化測試系統及方法，其中，全自動老化測試系統包括前加工機構，前加工機構包括燒錄組件和機械臂組件，燒錄組件將老化測試程序寫入被測工件之中，機械臂組件將被測工件送至燒錄組件，并將被測工件從燒錄組件取下送至輸送機構；老化測試機構，老化測試機構包括老化測試組件和上下料組件，老化測試組件為被測工件供電，上下料組件將被測工件與老化測試組件連接，或將被測工件從老化測試組件取下并送至輸送機構；后加工機構，后加工機構包括機械臂組件和卸載組件，卸載組件從被測工件中將老化測試程序卸載，機械臂組件將被測工件從輸送機構取下送至卸載組件。本發明具有節省人力、提高生產效率、適用面廣的優點。

技術領域

本發明涉及老化測試技術領域，具體為一種全自動老化測試系統及方法。

背景技術

隨著社會的發展，人們對電子產品的質量要求越來越高，為了提高電子產品的出廠質量，在出廠前需要對電子產品進行老化測試，從而篩選出電子產品可能存在的早期故障，以提高產品的穩定性和可靠性，這是電子產品生產流程中的重要環節。

現有技術中，對電子產品進行老化測試時，一般采用皮帶傳送的生產流程，其中所有老化測試環節均由人工來操作，先是由作業人員逐一將產品放到測試治具上，然后將測試治具放入測試房或測試設備內進行老化測試，測試完成后再逐一將產品放回皮帶并運送到下一個工位。顯然，這種生產流程中，所有的測試工作均靠人工操作，占用大量人力資源，且存在人員疏忽混淆良品與不良品的情況，限制了產能的提高，不僅效率低而且產品質量不穩定，無法滿足大批量的產品老化測試需求。

如授權公告號為CN102749547B的中國發明專利公布了一種機械手式自動老化測試設備，具體的涉及一種機械手式自動老化測試設備，其結構包括有機架、治具、輸入升降機構、插件機構、老化機構、測試機構、輸出升降機構以及控制裝置。與現有技術相比，本發明通過一條連續生產線實現電子產品老化及測試的自動化控制，大大節省了人力，可顯著提高企業的生產效率，降低生產成本。

但在實際應用中發現，上述對比文件中的技術方案存在以下問題：

一、如對比文件中的技術方案，空載治具經輸入升降機構進入到上機工位，作業員將電子產品依次放入治具的產品安裝槽，然后治具輸送至插件機構的插件工位，插件機構將電子產品插入至產品安裝槽內固定，接著，治具進入老化機構，該過程是通過進出料機械手裝置實現將治具由進料升降機輸送至老化架的老化工位進行老化，以及老化完成后將治具由老化工位輸送至出料升降機；然后，治具進入測試機構，并將治具與測試裝置電連接完成老化后的性能測試，當測試完成后，治具到達下機工位處，此時，可將治具上的電子產品卸載，然后空治具由輸出升降機構返回至上機工位處，如此完成一次電子產品的自動老化測試。需要人工將電子產品依次放入治具的產品安裝槽，嚴重浪費人力，自動化程度較低，與自動化設備的初衷相違背。

二、部分電子產品如智能手機、平板電腦在進行老化測試前，需要預先寫入老化程序，而上述對比文件中的技術方案均沒有設置此功能，需要額外配備人力及設備對產品進行程序燒錄，這就導致老化測試系統的適用面不足，只能用于少部分電子產品的老化測試工作。

因此，針對現有技術中的不足，有必要推出一種全自動老化測試系統，以改善以上問題。

發明內容

本發明的目的在于提供一種全自動老化測試系統及方法，具備節省人力、提高生產效率、適用面廣的優點，解決了以上背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：一種全自動老化測試系統及方法，包括：

前加工機構，所述前加工機構包括燒錄組件和機械臂組件，所述燒錄組件用于將老化測試程序寫入被測工件之中，所述機械臂組件用于將被測工件從輸送機構取下送至燒錄組件，并在燒錄完成后將被測工件從燒錄組件取下送至輸送機構；