[發明專利]量子點產品的測試裝置及量子點產品的測試方法

在審

• 申請號: 202110354695.3
• 申請日: 2021-03-31
• 公開（公告）號: CN113092418A
• 公開（公告）日: 2021-07-09
• 發明（設計）人: 李鵬飛;許懷書;季洪雷;陳細俊
• 申請（專利權）人: 惠州視維新技術有限公司
• 主分類號: G01N21/55
• 分類號: G01N21/55;G01N21/01
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

1.一種量子點產品的測試裝置，其特征在于，包括：

積分球，所述積分球內部設置有空腔，所述積分球上形成有開關門；

反射模組，所述反射模組限定出內腔，所述內腔的底部設置有光源，所述光源的光線入射方向由所述內腔的底部朝向所述內腔的頂部開口；

玻璃壓片，所述玻璃壓片設置于所述內腔的頂部開口，用于在進行測試時，將待測試量子點產品壓在所述反射模組與所述玻璃壓片之間。

2.如權利要求1所述的量子點產品的測試裝置，其特征在于，所述光源采用380nm至500nm的藍光；和/或

所述光源位于所述空腔的圓心處。

3.如權利要求1所述的量子點產品的測試裝置，其特征在于，所述反射模組的內腔內壁設置有反射片，所述反射片的反射率大于等于90％，所述反射片為白色或者銀色。

4.如權利要求1所述的量子點產品的測試裝置，其特征在于，所述玻璃壓片為透明玻璃，所述玻璃壓片的厚度大于等于2mm，所述玻璃壓片在380～780nm光線下透過率大于等于98％。

5.如權利要求1所述的量子點產品的測試裝置，其特征在于，所述反射模組的外輪廓為圓臺型，所述光源設置在所述圓臺內部靠近上底面的一側，所述圓臺的上底面半徑大于等于100mm，所述圓臺下底面半徑大于上底面半徑并且大于等于130mm，所述圓臺的高度為10～20mm；和/或

所述反射模組的外輪廓為長方體，所述光源設置在所述長方體內部靠近上底面的一側，所述長方體的長大于等于130mm，所述長方體的寬大于等于140mm，所述長方體的高度為10～20mm。

6.一種量子點產品的測試方法，其特征在于，應用于如權利要求1所述的量子點產品的測試裝置，所述方法包括：

閉合積分球的開關門，開啟光源，記錄所述積分球獲取的第一測試數據；

開啟積分球的開關門，將待測試量子點產品放置于所述玻璃壓片與所述反射模組之間，其中，所述待測試量子點產品完全覆蓋所述反射模組的頂部開口；

閉合所述積分球的開關門，記錄所述積分球獲取的第二測試數據；

根據所述第一測試數據以及所述第二測試數據計算所述待測試量子點產品的測試結果。

7.如權利要求6所述的量子點產品的測試方法，其特征在于，所述第一測試數據包括：所述光源的發射光譜對應的第一光子數、所述第一光子數攜帶的第一能量、所述光源的發射光譜以外的光譜范圍對應的第二光子數以及所述第二光子數攜帶的第二能量；

所述第二測試數據包括：所述光源的發射光譜對應的第三光子數、所述第三光子數攜帶的第三能量、所述光源的發射光譜以外的光譜范圍對應的第四光子數以及所述第四光子數攜帶的第四能量。

8.如權利要求6所述的量子點產品的測試方法，其特征在于，所述光源的發射光譜為380～500nm，所述光源的發射光譜以外的光譜范圍為500～780nm。

9.如權利要求6-8任一項所述的量子點產品的測試方法，其特征在于，所述根據所述第一測試數據以及所述第二測試數據計算所述待測試量子點產品的測試結果的步驟包括：

計算所述第四光子數與所述第二光子數之間的第一差值；

計算所述第一光子數與所述第三光子數之間的第二差值；

將所述第一差值與所述第二差值的比值作為所述待測量量子點產品的量子效率；

將所述量子效率作為所述待測試量子點產品的測試結果。

10.如權利要求6-8任一項所述的量子點產品的測試方法，其特征在于，所述根據所述第一測試數據以及所述第二測試數據計算所述待測試量子點產品的測試結果的步驟還包括：

計算所述第四能量與所述第二能量之間的第三差值；

計算所述第一能量與所述第三能量之間的第四差值；

將所述第三差值與所述第四差值的比值作為所述待測量量子點產品的光能轉化效率；

將所述光能轉化效率作為所述待測試量子點產品的測試結果。