[發(fā)明專利]一種高精密檢測設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110354337.2 | 申請日: | 2021-04-01 |
| 公開(公告)號: | CN112729418B | 公開(公告)日: | 2021-06-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孫亞輝;劉建雄;韓深深;司億意;郭旭;鄧鈔 | 申請(專利權(quán))人: | 健芮智能科技(昆山)有限公司 |
| 主分類號: | G01D21/02 | 分類號: | G01D21/02;G01G19/00;G01B21/08 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬 |
| 地址: | 215300 江蘇省蘇州市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 精密 檢測 設(shè)備 | ||
1.一種高精密檢測設(shè)備,其特征在于,包括:
測量臺(1),其設(shè)置有通孔(11),所述通孔(11)的上方設(shè)置有定位板(2),所述定位板(2)用于裝夾待測零件(100);
高度測量模塊(3),其包括伺服傳動機(jī)構(gòu)(31)和高度檢測機(jī)構(gòu)(32),所述高度檢測機(jī)構(gòu)(32)設(shè)置于所述伺服傳動機(jī)構(gòu)(31)上,所述伺服傳動機(jī)構(gòu)(31)用于驅(qū)動所述高度檢測機(jī)構(gòu)(32)升降,以使所述高度檢測機(jī)構(gòu)(32)接觸所述待測零件(100)的待測部位,得出所述待測部位的高度;
重量測量模塊(4),所述重量測量模塊(4)包括稱重平臺(41)和垂向升降機(jī)構(gòu)(42),所述稱重平臺(41)安裝于所述垂向升降機(jī)構(gòu)(42)上,所述垂向升降機(jī)構(gòu)(42)能夠驅(qū)動所述稱重平臺(41)升降,使所述稱重平臺(41)穿設(shè)所述通孔(11)并托起所述定位板(2),以測量所述待測零件(100)的重量;
所述待測零件(100)安裝于所述定位板(2),所述垂向升降機(jī)構(gòu)(42)驅(qū)動所述稱重平臺(41)托起所述定位板(2),以測量所述待測零件(100)和所述定位板(2)的重量,所述稱重平臺(41)的測量值減去所述定位板(2)的重量,以得出所述待測零件(100)的重量;所述垂向升降機(jī)構(gòu)(42)驅(qū)動所述稱重平臺(41)下降,以使所述定位板(2)下落至所述測量臺(1),所述伺服傳動機(jī)構(gòu)(31)驅(qū)動所述高度檢測機(jī)構(gòu)(32)下降至接觸所述待測零件(100)的待測部位,以測量所述待測部位的高度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精密檢測設(shè)備,其特征在于,所述高度檢測機(jī)構(gòu)(32)包括第一測量組件(321)和第二測量組件(322),所述第一測量組件(321)和所述第二測量組件(322)沿水平方向錯(cuò)位分布,且所述第一測量組件(321)和所述第二測量組件(322)分別與所述待測零件(100)的第一待測部位和第二待測部位的位置相匹配,所述第一測量組件(321)和所述第二測量組件(322)能夠分別測量所述第一待測部位和所述第二待測部位的高度。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的高精密檢測設(shè)備,其特征在于,所述高度檢測機(jī)構(gòu)(32)還包括固定板(33),所述第一測量組件(321)包括第一傳感器(3211)、第一測量板(3212)和第一導(dǎo)向軸(3213),所述第一傳感器(3211)安裝于所述固定板(33)上,所述第一導(dǎo)向軸(3213)滑動安裝于所述固定板(33),且所述第一導(dǎo)向軸(3213)的底端固定所述第一測量板(3212),頂端接觸所述第一傳感器(3211);
所述第二測量組件(322)包括第二傳感器(3221)、第二測量板(3222)和第二導(dǎo)向軸(3223),所述第二傳感器(3221)安裝于所述固定板(33)上,所述第二導(dǎo)向軸(3223)滑動安裝于所述固定板(33),且所述第二導(dǎo)向軸(3223)的底端固定所述第二測量板(3222),頂端接觸所述第二傳感器(3221)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的高精密檢測設(shè)備,其特征在于,所述第一測量組件(321)包括導(dǎo)套(3215)、卡箍和彈性件(3214),所述導(dǎo)套(3215)固定于所述固定板(33),所述第一導(dǎo)向軸(3213)可滑動穿設(shè)于所述導(dǎo)套(3215),所述第一導(dǎo)向軸(3213)靠近所述第一傳感器(3211)一端設(shè)置所述卡箍,所述卡箍能夠限制所述第一導(dǎo)向軸(3213)從所述導(dǎo)套(3215)脫落,所述彈性件(3214)用于向所述第一導(dǎo)向軸(3213)施加向下的彈力。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的高精密檢測設(shè)備,其特征在于,所述待測零件(100)的頂壁(1002)中心上設(shè)置有凸起的接線柱(1001);所述第一測量板(3212)呈圓形,所述第二測量板(3222)呈環(huán)形,所述第二測量板(3222)環(huán)設(shè)于所述第一測量板(3212),且所述第二測量板(3222)的高度低于所述第一測量板(3212)的高度,所述第一測量板(3212)用于測量所述接線柱(1001)的高度,所述第二測量板(3222)用于測量所述待測零件(100)的所述頂壁(1002)高度。
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