[發明專利]一種球柵陣列(BGA)器件焊點清洗工藝的調節方法及清洗工藝有效
| 申請號: | 202110352869.2 | 申請日: | 2021-04-01 |
| 公開(公告)號: | CN112739045B | 公開(公告)日: | 2021-07-13 |
| 發明(設計)人: | 王琳濤;王文慧;譚朋朋 | 申請(專利權)人: | 電信科學技術儀表研究所有限公司 |
| 主分類號: | H05K3/26 | 分類號: | H05K3/26 |
| 代理公司: | 北京維正專利代理有限公司 11508 | 代理人: | 張瑞雪 |
| 地址: | 101149*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 陣列 bga 器件 清洗 工藝 調節 方法 | ||
1.一種球柵陣列(BGA)器件焊點清洗工藝的調節方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1、球柵陣列(BGA)器件的模型構建:
確定實際待清洗球柵陣列(BGA)器件上的焊球間距、焊盤大小以及焊球標稱直徑;準備含有球柵陣列(BGA)器件焊盤的PCB裸板、焊球、錫膏、植珠網和透明片,其中,所述焊球標稱直徑和所述焊盤大小相適配;
在所述PCB裸板上根據實際待清洗球柵陣列(BGA)器件上的焊球間距、焊盤大小以及焊球標稱直徑進行植球后得到植球PCB,其中,通過錫膏和植珠網進行植球、或者通過焊球和植珠網進行植球;將所述透明片和所述植球PCB進行封裝固定,得到球柵陣列(BGA)器件模型;
S2、清潔工藝的調節:根據實際待清洗球柵陣列(BGA)器件的焊球間距、焊盤大小以及焊球標稱直徑選擇初始清洗方法清洗所述球柵陣列(BGA)器件模型;
調整清洗方法中的清洗參數,隨后可視化判斷該調整操作是否有效:若是清洗后通過放大鏡觀察無助焊劑殘留和白色殘留,則該調整操作有效,否則無效;
隨后繼續調整清洗參數,最終獲得球柵陣列(BGA)器件焊點清潔度達標的清洗工藝。
2.根據權利要求1所述的一種球柵陣列(BGA)器件焊點清洗工藝的調節方法,其特征在于,在所述PCB裸板上植球時,具體步驟為:根據實際待清洗球柵陣列(BGA)器件上的焊球間距選擇具有對應焊盤大小的焊盤,隨后根據焊盤大小確定所述焊球標稱直徑,然后再進行植球。
3.根據權利要求1-2任一項所述的一種球柵陣列(BGA)器件焊點清洗工藝的調節方法,其特征在于,通過≥20倍放大鏡觀察是否無助焊劑殘留和白色殘留。
4.采用權利要求1-3任一所述調節方法得到的球柵陣列(BGA)器件焊點的清洗工藝,其特征在于,針對不同球柵陣列(BGA)器件,所述清洗工藝為:
當清洗焊球間距≥1.0 pitch且封裝尺寸≤15×15 mm的球柵陣列(BGA)器件時,所述清洗工藝為:清洗8-12 min后漂洗0.5-3 min,隨后漂洗1.5-5 min,最后漂洗1.5-5 min;
當清洗焊球間距≥0.65 pitch且封裝尺寸≤30×30 mm的球柵陣列(BGA)器件、或焊球間距≥0.5 pitch且封裝尺寸≤10×10 mm的球柵陣列(BGA)器件時,所述清洗工藝為:清洗12-16 min后漂洗0.5-3 min,隨后漂洗1.5-5 min,漂洗1.5-5 min,最后漂洗1-3.5 min;
當清洗焊球間距≥0.65 pitch且封裝尺寸≤50×50 mm的球柵陣列(BGA)器件、或焊球間距≥0.5 pitch且封裝尺寸≤15×15 mm的球柵陣列(BGA)器件、或焊球間距≥0.4 pitch的球柵陣列(BGA)器件時,所述清洗工藝為:清洗16-20 min后漂洗0.5-3 min,隨后漂洗1.5-5 min,漂洗1.5-5 min,最后漂洗1.5-5 min。
5.根據權利要求4所述的清洗工藝,其特征在于,在清洗球柵陣列(BGA)器件時,所選擇的清洗劑為適合噴淋設備的水基清洗劑中的一種。
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