[發明專利]檢測缺陷的方法、裝置和電子設備

在審

• 申請號: 202110350671.0
• 申請日: 2021-03-31
• 公開（公告）號: CN115147338A
• 公開（公告）日: 2022-10-04
• 發明（設計）人: 王紹昶;王亞蕊;曹旸
• 申請（專利權）人: 歐姆龍（中國）有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00;G06T7/136;G06T7/62;G01N21/88
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 王曦;陶海萍

1.一種檢測缺陷的裝置，其特征在于，該裝置包括：

獲得單元，其獲得待檢測對象的圖像作為原始圖像；

第一判斷單元，其根據深度學習模型，生成與所述原始圖像對應的修復圖像，所述修復圖像是沒有缺陷的圖像，所述深度學習模型是基于對沒有缺陷的待檢測對象的訓練圖像訓練得到，將所述原始圖像和所述修復圖像進行比較，判斷所述原始圖像中是否存在缺陷，得到第一判斷結果；

第二判斷單元，其使用基于機器視覺的判斷模型，判斷所述原始圖像中是否存在缺陷，得到第二判斷結果；以及

第三判斷單元，其根據所述第一判斷結果和所述第二判斷結果判斷所述原始圖像中是否存在缺陷。

2.如權利要求1所述的裝置，其中，

對于拍攝待檢測對象的具有突起或凹陷的表面所得到的所述原始圖像，

在所述第一判斷結果為所述原始圖像中不存在缺陷的情況下，

所述第二判斷單元使用所述基于機器視覺的判斷模型，判斷所述原始圖像中是否存在缺陷，得到所述第二判斷結果。

3.如權利要求1所述的裝置，其中，

對于拍攝待檢測對象的不具有突起或凹陷的表面所得到的所述原始圖像，

在使用所述基于機器視覺的判斷模型得到的所述第二判斷結果為所述原始圖像中不存在缺陷的情況下，

所述第一判斷單元生成與所述原始圖像對應的修復圖像，并將所述原始圖像和所述修復圖像進行比較，得到所述第一判斷結果。

4.如權利要求1所述的裝置，其中，

在所述第一判斷單元中，將所述原始圖像和所述修復圖像進行比較時，基于加速的可交換光流法比較所述原始圖像和所述修復圖像在各區域的幅值，得到像素的幅值圖。

5.如權利要求4所述的裝置，其中，所述第一判斷單元還進行如下處理：

基于幅值閾值對所述幅值圖進行處理，得到反映缺陷的缺陷圖；以及

根據所述缺陷圖中缺陷的長度、寬度和面積中至少一者與對應閾值的關系，判斷所述原始圖像中是否存在缺陷，得到所述第一判斷結果。

6.如權利要求1所述的裝置，其中，所述裝置還包括：

確定單元，其對所述原始圖像進行輪廓檢測，從而確定圖像中的感興趣區域。

7.一種電子設備，所述電子設備包括權利要求1至6中任一項所述的檢測缺陷的裝置。

8.一種檢測缺陷的方法，其特征在于，該方法包括：

獲得待檢測對象的圖像作為原始圖像；

根據深度學習模型，生成與所述原始圖像對應的修復圖像，所述修復圖像是沒有缺陷的圖像，所述深度學習模型是基于對沒有缺陷的待檢測對象的訓練圖像訓練得到；

將所述原始圖像和所述修復圖像進行比較，判斷所述原始圖像中是否存在缺陷，得到第一判斷結果；

使用基于機器視覺的判斷模型，判斷所述原始圖像中是否存在缺陷，得到第二判斷結果；以及

根據所述第一判斷結果和所述第二判斷結果判斷所述原始圖像中是否存在缺陷。

9.如權利要求8所述的方法，其中，

對于拍攝待檢測對象的具有突起或凹陷的表面所得到的所述原始圖像，

在所述第一判斷結果為所述原始圖像中不存在缺陷的情況下，

使用所述基于機器視覺的判斷模型，判斷所述原始圖像中是否存在缺陷，得到所述第二判斷結果。

10.如權利要求8所述的方法，其中，

對于拍攝待檢測對象的不具有突起或凹陷的表面所得到的所述原始圖像，

在使用所述基于機器視覺的判斷模型得到的所述第二判斷結果為所述原始圖像中不存在缺陷的情況下，生成與所述原始圖像對應的修復圖像，并將所述原始圖像和所述修復圖像進行比較，得到所述第一判斷結果。