[發明專利]一種軟錯誤的監控方法和設備

有效

• 申請號: 202110349788.7
• 申請日: 2021-03-31
• 公開（公告）號: CN113032177B
• 公開（公告）日: 2023-05-26
• 發明（設計）人: 張濤;劉彥靜
• 申請（專利權）人: 杭州迪普信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/07
• 分類號: G06F11/07
• 代理公司: 北京博思佳知識產權代理有限公司 11415
• 代理人: 陳蕾

1.一種軟錯誤的監控方法，其特征在于，所述方法應用于芯片，所述方法包括：

響應于芯片內部發生軟錯誤，所述芯片內的軟錯誤防護控制器修正所述軟錯誤；

基于所述軟錯誤防護控制器的狀態線輸出的信號變化，判定所述軟錯誤防護控制器的軟錯誤信息，并寫入存儲器中；

所述方法還包括：

響應于芯片啟動，基于所述軟錯誤防護控制器的狀態線輸出的信號變化，判定所述軟錯誤防護控制器的啟動信息；

將所述啟動信息寫入存儲器中；

所述方法還包括：

傳輸所述存儲器中的第一信息至所述芯片上的聯合測試工作組JTAG調試接口，所述存儲器中的第一信息包括如下至少一項：軟錯誤信息和啟動信息，所述JTAG調試接口用于與調試設備連接。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

讀取存儲器中的信息，并傳輸給上位機，所述存儲器中的信息包括如下至少一項：軟錯誤信息和啟動信息。

3.根據權利要求1-2任一所述的方法，其特征在于，所述軟錯誤信息包括如下至少一項：軟錯誤防護控制器的工作狀態，軟錯誤發生的時間，軟錯誤的類型，距離上次發生可修正軟錯誤的時間間隔，距離上次發生不可修正軟錯誤的時間間隔，以及是否發生異常。

4.一種軟錯誤的監控設備，其特征在于，所述設備包括：

軟錯誤防護模塊，用于響應于芯片內部發生軟錯誤，修正所述軟錯誤，同時通過自身的狀態線輸出信號的變化；

狀態寄存器模塊，用于基于所述軟錯誤防護模塊的狀態線輸出的信號變化，判定所述軟錯誤防護模塊的軟錯誤信息，并寫入交互存儲模塊中；

交互存儲模塊，用于存儲所述狀態寄存器模塊寫入的軟錯誤信息；

所述軟錯誤防護模塊，還用于響應于芯片啟動，同時通過自身的狀態線輸出信號的變化；

所述狀態寄存器模塊，還用于基于所述軟錯誤防護模塊的狀態線輸出的信號變化，判定所述軟錯誤防護模塊的啟動信息，并寫入交互存儲模塊中；

所述交互存儲模塊，還用于存儲所述狀態寄存器模塊寫入的啟動信息；

所述設備還包括：

調試模塊，用于獲取所述交互存儲模塊中的第一信息，并傳輸至芯片上的JTAG調試接口，所述交互存儲模塊中的第一信息包括如下至少一項：軟錯誤信息和啟動信息，所述JTAG調試接口用于與調試設備連接。

5.根據權利要求4所述的設備，其特征在于，所述設備還包括：

上位機交互模塊，用于讀取所述交互存儲模塊中的信息，并傳輸給上位機，所述交互存儲模塊中的信息包括如下至少一項：軟錯誤信息和啟動信息。

6.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述程序被處理器執行時實現權利要求1至3任一所述的方法。