[發明專利]一種散射源高度的測試方法及檢測裝置有效

申請號：	202110347403.3	申請日：	2021-03-31
公開（公告）號：	CN113075657B	公開（公告）日：	2023-01-13
發明（設計）人：	呂鳴;候浩浩;高超;任群庭;劉芳	申請（專利權）人：	北京環境特性研究所
主分類號：	G01S13/89	分類號：	G01S13/89;G01S7/41;G01S7/40
代理公司：	北京格允知識產權代理有限公司 11609	代理人：	李寧寧
地址：	100854***	國省代碼：	北京;11
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種散射高度測試方法檢測裝置
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【說明書】：

本申請提供了一種散射源高度的測試方法及測試裝置，測試方法包括如下步驟：根據第一電磁波生成散射源回波功率的第一二維分布圖像。根據第二電磁波生成散射源回波功率的第二二維分布圖像。根據第一二維分布圖像與第二二維分布圖像得到功率差值。將功率差值與預存數據匹配，得到散射源的相對高度的三維圖像信息。本申請基于幅度比鑒的思路，利用成像測試中地面多路徑反射造成的照射波束幅度“錐削”效應，通過建立測試場景中散射源高度與接收回波信號強度關系的數學模型，比較不同高度天線測量下同一散射源幅度變化，能夠快速、準確的得到散射中心的高度信息，實現對散射源高效定位與診斷的目的。

技術領域

本申請涉及檢測技術領域，尤其涉及一種散射源高度的測試方法及測試裝置。

背景技術

目前，進行RCS測試時，準確獲取散射源的三維空間位置信息對于目標散射特征診斷而言具有重要的意義。而要獲取目標散射源完整的三維空間位置信息，一般需要對目標進行三維微波成像。相應的，要求測試天線在兩個空間維度的孔徑上進行數據采集。相對于二維成像測試，三維成像測試所耗費的時間大大延長，從而限制了其在實際RCS測試中的應用。

而基于相位信息的干涉SAR/ISAR(合成孔徑/逆合成孔徑)技術，通過設置高度上存在微小差異的兩個接收端，建立目標散射源高度與兩天線接收信號相位差之模型，從而反演散射源的高度信息。相比于傳統三維成像方法，上述方法效率大大提高。但基于相位信息的干涉測高方法無法直接應用于存在地面反射情況下的RCS成像測試。其原因是地面多路徑反射會產生以地平面為對稱面的鏡像散射源，在其影響下，測量系統接收到的不同高度散射源的回波信號相位變化極小，因此難以通過相位信息反演散射源高度。

發明內容

本申請的目的是提供一種能夠快速、準確的得到散射中心的高度信息，實現對散射源高效定位與診斷的測試方法及檢測裝置。

為了實現上述至少之一的目的，本申請第一方面的實施例提供了一種散射源高度的測試方法包括如下步驟：

建立功率差值與散射源的相對高度對應的預存數據；

調整收發天線到達第一架設高度，并通過收發天線對散射源連續發射多段頻率的電磁波進行連續掃頻；

收發天線接收散射源反射的第一電磁波；

根據第一電磁波生成散射源回波功率的第一二維分布圖像；

調整收發天線到達第二架設高度，并通過收發天線對散射源連續發射多段頻率的電磁波進行連續掃頻；

收發天線接收散射源反射的第二電磁波；

根據第二電磁波生成散射源回波功率的第二二維分布圖像；

根據第一二維分布圖像與第二二維分布圖像得到功率差值；

將功率差值與所述預存數據匹配，得到散射源的相對高度的三維圖像信息。