[發(fā)明專利]中子能譜通用型解譜方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備和可讀介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110346030.8
• 申請日: 2021-03-31
• 公開（公告）號: CN113241125B
• 公開（公告）日: 2022-09-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 孟海燕;顧龍;張璐;李金陽;于銳;姜韋;王大偉;彭天驥;唐延澤;田旺盛;范德亮;范旭凱;盛鑫;朱彥雷;劉璐;姚存峰;張宏鵬;李秀凌
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院近代物理研究所
• 主分類號: G16C10/00
• 分類號: G16C10/00;G06F30/25;G01T3/00;G06F111/08
• 代理公司: 北京紀(jì)凱知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11245
• 代理人: 趙悅

本發(fā)明屬于中子能譜研究技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種中子能譜通用型解譜方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備和可讀介質(zhì)，包括以下步驟：S1根據(jù)實驗參數(shù)判斷中子實驗類型，并將實驗參數(shù)傳輸至步驟S4；S2根據(jù)實驗參數(shù)判斷是否需要進行活化截面制作，若需要則制作活化截面，若不需要則使用已知的活化截面，并將制作的活化截面或已知的活化截面?zhèn)鬏斨敛襟ES4；S3根據(jù)實驗參數(shù)判斷是否需要進行初始能譜計算，若需要則進行初始能譜計算，如不需要則使用已有的初始能譜，并將計算的初始能譜或已有的初始能譜傳輸至步驟S4；S4對S1?S3中的數(shù)據(jù)進行整合和處理，完成對應(yīng)實驗方法解譜。其能夠使用于所有的中子能譜測量實驗，避免了實驗方法不同造成無法完成解譜。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種中子能譜通用型解譜方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備和可讀介質(zhì)，屬于中子能譜研究技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)

中子能譜對于中子學(xué)物理的研究和工程的設(shè)計具有重要的意義。中子能譜測量對于研究中子屏蔽，材料輻照性能，中子劑量等也有著重要的意義。中子能譜對反應(yīng)堆設(shè)計和運行、放射性同位素生產(chǎn)、單晶硅中子輻照摻雜、中子照相系統(tǒng)設(shè)計、開展硼中子俘獲治療(BNCT)及中子散射衍射譜儀設(shè)計等方面的作用至關(guān)重要。

加速器驅(qū)動次臨界系統(tǒng)(ADS系統(tǒng))是一種目前正在普遍研究的新型反應(yīng)堆。對于這種新型反應(yīng)堆而言，目前大部分研究還只停留在理論階段，而任何理論計算都需要實驗校驗，如計算模型簡化是否合理，各種近似參數(shù)的選取是否恰當(dāng)，計算結(jié)果是否正確。若能測得堆芯內(nèi)不同位置的中子能譜，就能為理論分析提供實驗依據(jù)；在燃耗分析中，測定堆內(nèi)個點不同燃耗深度下的譜型變化，對提高分析精度有很大的幫助。通過直接測定反應(yīng)堆內(nèi)的中子能譜，可為堆物理計算模型的建立提供參考標(biāo)準(zhǔn)，在實驗測量的基礎(chǔ)上，可以不斷完善計算模型，修正各種計算參數(shù)，從而大大提高理論計算的可靠度。

參考其他核反應(yīng)堆，對于ADS系統(tǒng)次臨界反應(yīng)堆而言，研究和測量反應(yīng)堆內(nèi)的中子譜也主要包括以下的一些位置：堆芯柵格內(nèi)的中子能譜，堆芯內(nèi)關(guān)鍵部位結(jié)構(gòu)材料位置的中子譜，輻照孔道內(nèi)中子譜，反應(yīng)堆周圍工作場中子譜等。隨著ADS系統(tǒng)次臨界反應(yīng)堆的建立，會展開大量的次臨界反應(yīng)堆中子能譜測量。

目前，測量中子能譜的方法有多球譜儀、飛行時間法、核反應(yīng)法、核反沖法、多箔活化法和各種晶體衍射譜儀。研究ADS系統(tǒng)次臨界反應(yīng)堆的中子譜時，根據(jù)位置的不同開展不同的中子能譜測量實驗，這就需要不同的解譜方法來確定不同位置的中子能譜。至今為止，還未有一個涵蓋所有實驗方法解譜的方法，而且，大部分的解譜程序只包含最后的解譜部分或者只包含解譜部分和初始能譜部分，沒有完全涵蓋根據(jù)實驗來制作活化截面和計算初始能譜。

發(fā)明內(nèi)容

針對上述問題，本發(fā)明的目的是提供一種中子能譜通用型解譜方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備和可讀介質(zhì)，其能夠使用于所有的中子能譜測量實驗，避免了實驗方法不同造成無法完成解譜。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采取以下技術(shù)方案：一種中子能譜通用型解譜方法，包括以下步驟：S1根據(jù)實驗參數(shù)判斷中子實驗類型，并將實驗類型及其對應(yīng)的實驗參數(shù)傳輸至步驟S4；S2根據(jù)實驗參數(shù)判斷是否需要進行活化截面制作，若需要則制作活化截面，若不需要則使用已知的活化截面，并將制作的活化截面或已知的活化截面?zhèn)鬏斨敛襟ES4；S3根據(jù)實驗參數(shù)判斷是否需要進行初始能譜計算，若需要則進行初始能譜計算，如不需要則使用已有的初始能譜，并將計算的初始能譜或已有的初始能譜傳輸至步驟S4；S4對S1-S3中的數(shù)據(jù)進行整合和處理，完成對應(yīng)實驗方法解譜。

進一步，中子實驗類型包括：多球譜儀解譜、多箔活化法解譜、飛行時間法解譜、核反應(yīng)法解譜、核反沖法解譜和衍射譜儀解譜。

進一步，活化截面通過PREPRO程序制作。

進一步，活化截面的制作方法為：每次活化截面制作只能制作一個核素的不同反應(yīng)道截面，每次制作完成之后然后進行相應(yīng)核素及其反應(yīng)道活化截面校驗，通過校驗之后把相關(guān)反應(yīng)道截面存放在活化截面提取和輸出中，然后進行下一個核素活化截面制作。