[發(fā)明專利]基于多頻電磁法與并行直流電法的場地質(zhì)量快速檢測方法

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• 申請日: 2021-03-31
• 公開（公告）號: CN112946756A
• 公開（公告）日: 2021-06-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 周俊峰;張顯峰;楊超;朱偉
• 申請（專利權(quán)）人: 上海元易勘測設(shè)計有限公司
• 主分類號: G01V3/00
• 分類號: G01V3/00;G01V3/04
• 代理公司: 上海伯瑞杰知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31227
• 代理人: 李慶

本發(fā)明提供一種基于多頻電磁法與并行直流電法的場地質(zhì)量快速檢測方法，包括步驟：S1：單獨采用多頻電磁法對目標(biāo)場地進行掃面，獲得第一平面信息和第一斷面信息；S2：單獨采用并行直流電法對目標(biāo)場地進行測深，獲得第二平面信息和第二斷面信息；S3：處理信息并提取三維空間數(shù)據(jù)，形成三維空間圖；S4：重復(fù)S1～S3直至完成整個目標(biāo)場地的檢測。本發(fā)明的一種基于多頻電磁法與并行直流電法的場地質(zhì)量快速檢測方法，可快速檢測，判斷出減量化后建筑垃圾空間分布；快速判斷復(fù)墾土是否有重金屬污染。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及場地質(zhì)量檢測領(lǐng)域，尤其涉及一種基于多頻電磁法與并行直流電法的場地質(zhì)量快速檢測方法。

背景技術(shù)

1、“減量化復(fù)墾”是指對不符合土地利用總體規(guī)劃要求，而且社會經(jīng)濟或者環(huán)境效益較差的建設(shè)用地，通過拆除、復(fù)墾等土地整治工作，恢復(fù)農(nóng)地生產(chǎn)能力，發(fā)揮生態(tài)用地功能。部分減量化復(fù)墾場地在經(jīng)過了廠房等建筑的拆除后，地下3m以淺分布較多的碎磚、混凝土塊等建筑垃圾，影響了作為農(nóng)業(yè)用地的驗收。故減量化復(fù)墾場地中建筑垃圾的分布及其含量是作為評估合格農(nóng)用地的一重要指標(biāo)；此外，減量化后覆土(客土)是否有重金屬污染等，決定著復(fù)墾后的用途。

2、當(dāng)前場地垃圾檢測是采用傳統(tǒng)的鉆孔(挖孔)手段，即根據(jù)土地的建筑或使用歷史，挑選一部分區(qū)域用鉆機取土(或挖機開挖)揭露。

3.針對減量化后土地的檢測工作，一方面要確定殘留建筑垃圾的平面位置，另一方面要確定其深度，同時還要快速提供檢測結(jié)果。目前，地球物理方法技術(shù)多應(yīng)用于地下垃圾填埋場及其污染探測，減量化土地整理和復(fù)墾后的檢測驗收等相關(guān)工作則沒有地球物理探測手段報道。

4.土地中的“好土”與“垃圾土”之間，“好土”與“污染土”之間，確實存在一些物性差異，如何利用這些差異進行檢測區(qū)分，這方面的成果目前很少，且建設(shè)用地復(fù)墾驗收需現(xiàn)場快速出成果，探測效率要求高，具有較強的實用創(chuàng)新性；

目前對于場地建筑垃圾分布檢測主要采用鉆孔或者挖機開挖揭露，對重金屬污染主要為鉆孔取土、取水進行試驗分析。對于大面積的減量化復(fù)墾土地來說，這種方法首先是效率低下，其次是以點代面，并不能準(zhǔn)確反映場地建筑垃圾和重金屬污染分布的全貌，也不經(jīng)濟。

常用地球物理方法包括：

高精度磁測方法、激發(fā)激化法、高密度電阻率法、探地雷達技術(shù)、瞬變電磁法、地震面波法等，尤以高密度電阻率法、GPR兩種地球物理方法居多。

用探地雷達法探測，只能解決極少一部分問題(因為受目標(biāo)體大小、地電條件、干擾異常等因素影響較大，特別是上海地區(qū)潛水位淺，往往很難探測出有效異常)；用地震面波法探測，容易錯判異常(因為上海地區(qū)潛水位淺，屬于軟土介質(zhì)，能量往往易于陷入其中，無法成像；加之基階與高階無法有效區(qū)分，往往假異常較多，錯判率較高)；用高精度磁測方法探測，由于城市環(huán)境干擾大，不能較好地解決日變站的問題，因此只能進行磁梯度探測，所獲信息較少；而傳統(tǒng)高密度電法、瞬變電磁法等則由于探測裝置問題，探測效率不高，無法滿足現(xiàn)實需求。

發(fā)明內(nèi)容

針對上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足，本發(fā)明提供一種基于多頻電磁法與并行直流電法的場地質(zhì)量快速檢測方法，可快速檢測，判斷出減量化后建筑垃圾空間分布；快速判斷復(fù)墾土是否有重金屬污染。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種基于多頻電磁法與并行直流電法的場地質(zhì)量快速檢測方法，包括步驟：

S1：單獨采用多頻電磁法對一目標(biāo)場地進行掃面，獲得所述目標(biāo)場地的第一平面信息和第一斷面信息；

S2：單獨采用并行直流電法對所述目標(biāo)場地進行測深，獲得所述目標(biāo)場地的第二平面信息和第二斷面信息；

S3：處理所述第一平面信息、第一斷面信息、第二平面信息和第二斷面信息并提取三維空間數(shù)據(jù)，形成一三維空間圖；

S4：重復(fù)S1～S3直至完成整個所述目標(biāo)場地的檢測。