[發明專利]一種半導體測試探針用磨斜面夾緊定位裝置有效
| 申請號： | 202110342925.4 | 申請日： | 2021-03-30 |
| 公開（公告）號： | CN113109600B | 公開（公告）日： | 2022-12-13 |
| 發明（設計）人： | 張飛龍;付盼紅;張明海;申嘯 | 申請（專利權）人： | 渭南木王智能科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/04 | 分類號： | G01R1/04;G01R1/067;G01R31/26 |
| 代理公司： | 西安賽嘉知識產權代理事務所(普通合伙) 61275 | 代理人： | 王偉超 |
| 地址： | 714000 陜西省渭*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 半導體 測試 探針 斜面 夾緊 定位 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種半導體測試探針用磨斜面夾緊定位裝置，其特征在于，包括：
底板（1）；
第一夾板（3），所述第一夾板（3）設置在所述底板（1）上，所述第一夾板（3）上設置有多個第一夾緊孔（11）；
第二夾板（9），所述第二夾板（9）滑動設置在第一夾板（3）上，第二夾板（9）上設置有多個與第一夾緊孔（11）相匹配的第二夾緊孔（10）；
兩限位塊（2），兩所述限位塊（2）設置在底板（1）上相對的兩側，第一夾板（3）和第二夾板（9）位于兩限位塊（2）之間；
兩所述限位塊（2）上均設置有調節螺絲（4）；
兩所述限位塊（2）上均設置有兩固定螺絲（5），兩所述固定螺絲（5）位于對應調節螺絲（4）的兩側，每個固定螺絲（5）的端部均設置有壓縮彈簧（6）；
所述底板（1）另一相對的兩側分別設置有限位側板（7），所述第一夾板（3）和第二夾板（9）位于兩限位側板（7）之間；
所述第一夾板（3）的兩側分別設置有與壓縮彈簧（6）和調節螺絲（4）相匹配的限位槽（12）。
2.根據權利要求1所述的半導體測試探針用磨斜面夾緊定位裝置，其特征在于，所述第一夾緊孔（11）和所述第二夾緊孔（10）均為斜孔。
3.根據權利要求2所述的半導體測試探針用磨斜面夾緊定位裝置，其特征在于，所述限位塊（2）上設置有多個用于裝配調節螺絲（4）和固定螺絲（5）的退位槽（8）。
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