[發(fā)明專利]精度檢測方法、裝置和計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110341158.5 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113124799B | 公開(公告)日: | 2023-09-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊昌碧;謝宇光;張勇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江門市奔力達(dá)電路有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B21/00 | 分類號(hào): | G01B21/00 |
| 代理公司: | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205 | 代理人: | 梁國平 |
| 地址: | 529000 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 精度 檢測 方法 裝置 計(jì)算機(jī) 可讀 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
本發(fā)明公開了一種精度檢測方法、裝置和計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。其中,所述精度檢測方法,應(yīng)用于數(shù)控鉆孔機(jī),所述數(shù)控鉆孔機(jī)設(shè)置有多個(gè)主軸,所述主軸用于對(duì)線路板鉆孔,所述方法包括:獲取預(yù)設(shè)坐標(biāo)信息和預(yù)設(shè)鉆帶,所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)信息包括有與多個(gè)所述主軸一一對(duì)應(yīng)的參考點(diǎn)坐標(biāo)位置,所述預(yù)設(shè)鉆帶包括與所述多個(gè)主軸對(duì)應(yīng)的鉆孔程序;對(duì)于每一個(gè)所述主軸,根據(jù)所述參考點(diǎn)坐標(biāo)位置和所述鉆孔程序得到預(yù)設(shè)鉆孔坐標(biāo);根據(jù)所述預(yù)設(shè)鉆孔坐標(biāo)控制對(duì)應(yīng)的所述主軸對(duì)所述線路板進(jìn)行鉆孔以得到與鉆孔位置對(duì)應(yīng)的實(shí)測鉆孔坐標(biāo);根據(jù)所述預(yù)設(shè)鉆孔坐標(biāo)和所述實(shí)測鉆孔坐標(biāo)得到所述主軸的鉆孔位置精度。通過該精度檢測方法,能夠降低數(shù)控鉆孔機(jī)的精度檢測成本。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及鉆孔檢測技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種精度檢測方法、裝置和計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù)
線路板上的孔徑越來越小、越來越密集,因此對(duì)鉆孔的精度要求也越來越高,為了能夠滿足線路板的孔位置精度,需要對(duì)鉆孔機(jī)的精度定時(shí)進(jìn)行檢測,避免不良產(chǎn)品的產(chǎn)生。目前常用的檢測方法為用鉆孔機(jī)的每一個(gè)主軸鉆測試板,然后對(duì)測試板的鉆孔進(jìn)行測試,以檢測出對(duì)應(yīng)主軸的精度,進(jìn)而判定主軸精度是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)。但是,由于每個(gè)主軸都需要1個(gè)測試板,而通常每臺(tái)鉆孔機(jī)有多個(gè)主軸,隨著鉆孔機(jī)臺(tái)數(shù)的不斷增加,使得測試板的需求數(shù)量增大,導(dǎo)致測試成本較高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題之一。為此,本發(fā)明提出一種精度檢測方法、裝置和計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),能夠在對(duì)數(shù)控鉆孔機(jī)進(jìn)行精度檢測時(shí)有效降低測試成本。
第一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種精度檢測方法,應(yīng)用于數(shù)控鉆孔機(jī),所述數(shù)控鉆孔機(jī)設(shè)置有多個(gè)主軸,所述主軸用于對(duì)線路板鉆孔,所述方法包括:獲取預(yù)設(shè)坐標(biāo)信息和預(yù)設(shè)鉆帶,所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)信息包括有與多個(gè)所述主軸一一對(duì)應(yīng)的參考點(diǎn)坐標(biāo)位置,所述預(yù)設(shè)鉆帶包括與所述多個(gè)主軸對(duì)應(yīng)的鉆孔程序;對(duì)于每一個(gè)所述主軸,根據(jù)所述參考點(diǎn)坐標(biāo)位置和所述鉆孔程序得到預(yù)設(shè)鉆孔坐標(biāo);根據(jù)所述預(yù)設(shè)鉆孔坐標(biāo)控制對(duì)應(yīng)的所述主軸對(duì)所述線路板進(jìn)行鉆孔以得到與鉆孔位置對(duì)應(yīng)的實(shí)測鉆孔坐標(biāo);根據(jù)所述預(yù)設(shè)鉆孔坐標(biāo)和所述實(shí)測鉆孔坐標(biāo)得到所述主軸的鉆孔位置精度。
根據(jù)本發(fā)明第一方面的一些實(shí)施例,在所述對(duì)于每一個(gè)所述主軸,根據(jù)所述參考點(diǎn)坐標(biāo)位置和所述鉆孔程序得到預(yù)設(shè)鉆孔坐標(biāo)之前,包括:根據(jù)所述主軸和所述參考點(diǎn)坐標(biāo)位置建立一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系表。
根據(jù)本發(fā)明第一方面的一些實(shí)施例,所述對(duì)于每一個(gè)所述主軸,根據(jù)所述參考點(diǎn)坐標(biāo)位置和所述鉆孔程序得到預(yù)設(shè)鉆孔坐標(biāo),包括:對(duì)每一個(gè)鉆孔程序,取所述參考點(diǎn)坐標(biāo)位置為所述鉆孔程序的零位,并根據(jù)所述零位得到對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)鉆孔坐標(biāo)。
根據(jù)本發(fā)明第一方面的一些實(shí)施例,所述根據(jù)所述預(yù)設(shè)鉆孔坐標(biāo)控制對(duì)應(yīng)的所述主軸對(duì)所述線路板進(jìn)行鉆孔以得到與鉆孔位置對(duì)應(yīng)的實(shí)測鉆孔坐標(biāo),包括:根據(jù)所述預(yù)設(shè)鉆孔坐標(biāo),控制所述主軸執(zhí)行與所述預(yù)設(shè)鉆孔坐標(biāo)對(duì)應(yīng)的所述鉆孔程序以對(duì)所述線路板進(jìn)行鉆孔;根據(jù)所述鉆孔程序,得到所述線路板上與鉆孔位置對(duì)應(yīng)的實(shí)測鉆孔坐標(biāo)。
根據(jù)本發(fā)明第一方面的一些實(shí)施例,在所述根據(jù)所述預(yù)設(shè)鉆孔坐標(biāo)和所述實(shí)測鉆孔坐標(biāo)得到所述主軸的鉆孔位置精度之前,包括:獲取所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)信息,并取所述參考點(diǎn)坐標(biāo)位置為所述線路板的坐標(biāo)系零位。
根據(jù)本發(fā)明第一方面的一些實(shí)施例,所述根據(jù)所述預(yù)設(shè)鉆孔坐標(biāo)和所述實(shí)測鉆孔坐標(biāo)得到所述主軸的鉆孔位置精度,包括:獲取所述預(yù)設(shè)鉆孔坐標(biāo)和所述實(shí)測鉆孔坐標(biāo);根據(jù)所述預(yù)設(shè)鉆孔坐標(biāo)和所述實(shí)測鉆孔坐標(biāo)得到對(duì)應(yīng)的偏差值;根據(jù)所述偏差值得到所述主軸的鉆孔位置精度。
根據(jù)本發(fā)明第一方面的一些實(shí)施例,所述根據(jù)所述預(yù)設(shè)鉆孔坐標(biāo)和所述實(shí)測鉆孔坐標(biāo)得到對(duì)應(yīng)的偏差值,包括:計(jì)算所述預(yù)設(shè)鉆孔坐標(biāo)與所述零位的距離得到第一絕對(duì)值,并計(jì)算所述實(shí)測鉆孔坐標(biāo)與所述坐標(biāo)系零位的距離得到第二絕對(duì)值;根據(jù)所述第一絕對(duì)值和多個(gè)第二絕對(duì)值的差值得到所述偏差值。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于江門市奔力達(dá)電路有限公司,未經(jīng)江門市奔力達(dá)電路有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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