[發(fā)明專利]高靈敏度標(biāo)記物激發(fā)和檢測(cè)結(jié)構(gòu)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110341055.9 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113109300A | 公開(公告)日: | 2021-07-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何皓;張雷;李曉琴;周彩媚 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市光與生物科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/63 | 分類號(hào): | G01N21/63;G01N21/01 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202 | 代理人: | 肖宇揚(yáng) |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市光明區(qū)光明街*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 靈敏度 標(biāo)記 激發(fā) 檢測(cè) 結(jié)構(gòu) | ||
本發(fā)明公開了一種高靈敏度標(biāo)記物激發(fā)和檢測(cè)結(jié)構(gòu),包括光源、反射鏡片以及圖像獲取裝置。光源發(fā)出光線中包含了標(biāo)記物激發(fā)光線,反射鏡片將標(biāo)記物激發(fā)光反射到待檢測(cè)物上,而且光源發(fā)出光線中除標(biāo)記物激發(fā)光線以外的光線透過反射鏡片,避免了雜光反射到待檢測(cè)物上所產(chǎn)生的噪光干擾;然后待檢測(cè)物發(fā)出標(biāo)記物響應(yīng)光,標(biāo)記物響應(yīng)光沿著標(biāo)記物激發(fā)光的光路方向的反向延伸方向傳播,由于標(biāo)記物響應(yīng)光的波長與標(biāo)記物激發(fā)光不同,標(biāo)記物響應(yīng)光透過反射鏡片后,被圖像獲取裝置捕捉獲取,圖像獲取裝置獲得含有標(biāo)記物響應(yīng)光光點(diǎn)數(shù)量以及分布位置的圖像,以供計(jì)算機(jī)或者人工進(jìn)行高精準(zhǔn)度地分析,本發(fā)明還具有結(jié)構(gòu)簡單,成本低的特點(diǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種高靈敏度標(biāo)記物激發(fā)和檢測(cè)結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
體外診斷產(chǎn)品又稱“IVD”,英文全名為“in vitro diagnostic products”,是將特定生物標(biāo)志物進(jìn)行標(biāo)記后(例如將所要檢測(cè)的抗體被酶標(biāo)記/鐵蛋白標(biāo)記/膠體金標(biāo)記),然后再通過設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)的一種技術(shù)。特定生物標(biāo)志物一般是指可供客觀測(cè)定和評(píng)價(jià)的一個(gè)普通生理或病理或治療過程中的某種特征性的生化指標(biāo),通過對(duì)它的測(cè)定可以獲知機(jī)體當(dāng)前所處的生物學(xué)過程中的進(jìn)程,檢查一種疾病特異性的生物標(biāo)志物,對(duì)于疾病的鑒定、早期診斷及預(yù)防、治療過程中的監(jiān)控可能起到幫助作用。但是現(xiàn)有的檢測(cè)設(shè)備存在著結(jié)構(gòu)復(fù)雜、檢測(cè)精度不高的缺點(diǎn)。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)中至少一個(gè)缺陷,本發(fā)明提供一種高靈敏度標(biāo)記物激發(fā)和檢測(cè)結(jié)構(gòu)。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,提供了一種高靈敏度標(biāo)記物激發(fā)和檢測(cè)結(jié)構(gòu),包括光源、反射鏡片以及圖像獲取裝置;其中,反射鏡片上設(shè)有激發(fā)光反射膜,以使得反射鏡片能夠反射光源發(fā)出光線中含有的標(biāo)記物激發(fā)光線,且使得反射鏡片能夠允許光源發(fā)出光線中除標(biāo)記物激發(fā)光線以外的光線透過;反射鏡片設(shè)置在光源的出光光路上,以在光源發(fā)光時(shí),反射鏡片將標(biāo)記物激發(fā)光反射到待檢測(cè)物上;圖像獲取裝置設(shè)置在標(biāo)記物激發(fā)光的光路方向的反向延伸方向上,以使得當(dāng)標(biāo)記物激發(fā)光照射待檢測(cè)物后,待檢測(cè)物所反射的標(biāo)記物響應(yīng)光透過反射鏡片后能夠被圖像獲取裝置獲取。
在使用時(shí),將待檢測(cè)物設(shè)置在反射鏡片的反射光路上;然后,開啟光源,光源發(fā)出光線中包含了標(biāo)記物激發(fā)光線,反射鏡片將標(biāo)記物激發(fā)光反射到待檢測(cè)物上,而且光源發(fā)出光線中除標(biāo)記物激發(fā)光線以外的光線透過反射鏡片,避免了雜光反射到待檢測(cè)物上所產(chǎn)生的噪光干擾;然后待檢測(cè)物發(fā)出標(biāo)記物響應(yīng)光,標(biāo)記物響應(yīng)光沿著標(biāo)記物激發(fā)光的光路方向的反向延伸方向傳播,由于標(biāo)記物響應(yīng)光的波長與標(biāo)記物激發(fā)光不同,標(biāo)記物響應(yīng)光透過反射鏡片后,被圖像獲取裝置捕捉獲取,圖像獲取裝置獲得含有標(biāo)記物響應(yīng)光光點(diǎn)數(shù)量以及分布位置的圖像,以供計(jì)算機(jī)或者人工進(jìn)行高精準(zhǔn)度地分析,本發(fā)明還具有結(jié)構(gòu)簡單,成本低的特點(diǎn)。
在一些實(shí)施方式中,還包括第一凸透鏡;第一凸透鏡設(shè)置在標(biāo)記物激發(fā)光的光路上。
這樣,反射鏡片所反射的多個(gè)入射角度不同的標(biāo)記物激發(fā)光通過第一凸透鏡的整理后,以平行光的形式照射到待檢測(cè)物上,那么待檢測(cè)物所反射的標(biāo)記物響應(yīng)光也以平行光的方式沿著與標(biāo)記物激發(fā)光相反的方向射出,然后再通過第一凸透鏡的整理后聚焦,避免了標(biāo)記物響應(yīng)光的流失,有利于圖像獲取裝置獲得更多的標(biāo)記物響應(yīng)光,從而可以獲得更加清晰精確的圖像。
在一些實(shí)施方式中,還包括第二凸透鏡;第二凸透鏡設(shè)置在標(biāo)記物激發(fā)光的光路方向的反向延伸方向上。
這樣,當(dāng)標(biāo)記物響應(yīng)光通過第一凸透鏡的整理后聚焦后,隨著各方向上的標(biāo)記物響應(yīng)光的朝遠(yuǎn)離焦點(diǎn)的方向延伸,各方向上的標(biāo)記物響應(yīng)光會(huì)離焦分散,然后再通過第二凸透鏡的整理后,各方向上的標(biāo)記物響應(yīng)光以平行光的形式照射到圖像獲取裝置上,從而使得圖像獲取裝置獲得更加清晰精確的圖像。
在一些實(shí)施方式中,還包括雜色濾光片,雜色濾光片設(shè)置在圖像獲取裝置的入光側(cè)。
這樣,雜色濾光片過濾了標(biāo)記物響應(yīng)光中雜色,排除了雜色的干擾,從而使得圖像獲取裝置獲得更加清晰精確的圖像。
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 標(biāo)記裝置及標(biāo)記方法
- 同步數(shù)字體系網(wǎng)絡(luò)標(biāo)記交換的標(biāo)記處理方法
- 標(biāo)記裝置及標(biāo)記方法
- 標(biāo)記頭和標(biāo)記裝置
- 用于通過標(biāo)記光線標(biāo)記物體的標(biāo)記設(shè)備
- 標(biāo)記裝置以及標(biāo)記方法
- 標(biāo)記系統(tǒng)
- 激光標(biāo)記方法、激光標(biāo)記機(jī)及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 用于標(biāo)記標(biāo)記對(duì)象的標(biāo)記系統(tǒng)
- 標(biāo)記方法及標(biāo)記裝置
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
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- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
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