[發明專利]用于探針卡探針調整的擺放治具及其應用

在審

• 申請號: 202110339949.4
• 申請日: 2021-03-30
• 公開（公告）號: CN112946460A
• 公開（公告）日: 2021-06-11
• 發明（設計）人: 傅智云
• 申請（專利權）人: 無錫紫電半導體有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/073
• 代理公司: 無錫市匯誠永信專利代理事務所(普通合伙) 32260
• 代理人: 朱曉林

本發明公開了一種用于探針卡探針調整的擺放治具及其應用，其可實現探針卡探針間距或平行度的快速調整，調整操作方便快捷，可防止成品質量參差不齊，可提高加工效率和成品質量，擺放治具包括底座、位于底座的探針卡放置區、膠片放置區，探針卡放置區用于放置探針卡，探針卡放置區包括至少兩個，膠片放置區位于底座并與探針卡放置區相鄰布置，膠片放置區與膠片的形狀相匹配，膠片放置區用于放置膠片，膠片上開有與探針卡的探針對應的通孔，探針卡擺放治具的應用包括：將膠片固定于膠片放置區，將探針卡固定于探針卡放置區，使探針卡上的探針與膠片上的通孔一一對應，調整相鄰兩個探針之間的距離和探針的平行度。

技術領域

本發明涉及探針卡加工設備技術領域，具體為一種用于探針卡探針調整的 擺放治具及其應用。

背景技術

探針卡又稱IC探測卡，是一種用于測試IC芯片良品率的精密工具，探針 生產過程中，涉及打盲孔或微孔、開槽、折彎等加工工藝，探針加工完成后將 其固定于PCB板，形成探針卡。彎折探針與PCB板固定后，探針的彎折部常 存在歪斜、平行度差等問題，為滿足后續IC芯片測試安裝要求，需對探針的平 行度、相鄰探針之間的間距進行調整操作，目前常用的探針平行度或探針間距 調整方式為人工使用鑷子等簡單工具手動調整，且一次只能對一個探針卡進行 調整操作，調整完成后，需采用顯微鏡對每個探針卡上的探針進行檢測，因此， 調整操作費時費力。尤其在探針卡批量生產時，這種調整方式存在成品質量參 差不齊等缺陷，嚴重影響了加工效率和成品質量的提高。

發明內容

針對現有技術中存在的人工使用鑷子等手動調整探針卡探針的間距或平行 度的方式，費時費力，易使成品質量參差不齊，影響加工效率和成品質量的問 題，本發明提供了一種用于探針卡探針調整的擺放治具及其應用，其可實現探 針卡探針間距或平行度的快速調整，調整操作方便快捷，且一次可實現至少兩 個探針卡探針的調整，可防止成品質量參差不齊，可提高加工效率和成品質量。

為實現上述目的，本發明采用如下技術方案：

一種用于探針卡探針調整的擺放治具及其應用，其包括底座、位于所述底 座的探針卡放置區，所述探針卡放置區的形狀與探針卡的形狀相匹配，用于所 述放置探針卡，其特征在于，所述探針卡放置區包括至少兩個，所述擺放治具 還包括膠片放置區，所述膠片放置區位于所述底座并與所述探針卡放置區相鄰 布置，所述膠片放置區與膠片的形狀相匹配，所述膠片放置區用于放置膠片， 所述膠片上開有與所述探針卡的探針對應的通孔。

其進一步特征在于，所述探針卡放置區為四邊形或圓形；

所述探針卡放置區為四邊形時，所述膠片放置區為四邊形；

所述膠片放置區位于所述底座的中部，所述探針卡放置區位于所述膠片放 置區的兩側，且兩側的所述探針卡放置區以所述膠片放置區的橫向中心線為軸 對稱分布；

所述探針卡放置區開有第一凹槽，所述膠片放置區開有第二凹槽；

所述第一凹槽為階梯狀；

所述第二凹槽的底端開有與所述膠片的通孔對應的第三凹槽、第四凹槽， 所述膠片上開有兩排平行分布的通孔，所述第三凹槽、第四凹槽與所述膠片上 的兩排通孔分別對應；

所述探針卡放置區包括支撐板、分布于所述支撐板兩側的通孔，所述支撐 板位于所述第一凹槽的中部，所述支撐板的中部固定有定位塊，所述定位塊的 中心開有第一螺紋孔；

所述第一凹槽與所述第二凹槽之間設置有對向凸起且對稱分布的支撐塊， 兩個所述支撐塊的頂端分別開有第二螺紋孔。

一種調整探針卡探針的方法，該方法基于上述擺放治具實現，其特征在于， 所述方法包括：S1、將所述膠片固定于所述膠片放置區；

S2、將所述探針卡固定于所述探針卡放置區；