[發明專利]一種CPU性能測試探針清潔方法

有效

• 申請號: 202110339325.2
• 申請日: 2021-03-30
• 公開（公告）號: CN112916504B
• 公開（公告）日: 2022-11-18
• 發明（設計）人: 金麒龍
• 申請（專利權）人: 蘇州宏達威電子科技有限公司
• 主分類號: B08B3/12
• 分類號: B08B3/12;B08B3/02;B08B13/00
• 代理公司: 蘇州企知鷹知識產權代理事務所(普通合伙) 32420
• 代理人: 蔡天明

本發明涉及一種CPU性能測試探針清潔方法，包括：步驟一：對待清洗探針進行超聲波脫脂去油處理3?5mi n，脫脂去油藥劑的PH為7.0?8.5；步驟二：用32?45℃的溫水進行沖洗；步驟三：蒸餾水沖洗；步驟四：將探針置于清洗槽內，在清洗槽內加入清洗藥劑進行超聲波振蕩清洗，清洗時長為5?8mi n，其中，清洗藥劑包含活性劑；步驟五：用溫度為室溫的清洗水進行多道水洗；步驟六：對水洗完成的探針進行干燥處理。通過依次進行脫脂去油處理、溫水沖洗、蒸餾水沖洗、超聲波振蕩清洗和多道水洗過程對探針進行徹底清洗，最后對探針進行快速干燥處理，使得探針表面達到潔凈干燥的狀態，避免探針生銹腐蝕，延長探針的使用壽命。

技術領域

本發明涉及CPU檢測技術領域，特別涉及一種CPU性能測試探針清潔方法。

背景技術

CPU在加工完成后，為保證CPU產品質量和性能穩定性，需要對CPU進行測試，目前CPU測試過程為：將待測CPU放置在測試設備上，測試設備驅動測試探針與CPU上的引腳相插接，再通過相應的測試軟件運行測試程序測試CPU的性能。由于測試探針需要經常與CPU相接觸，長期使用后在探針的外表面會因形成氧化層、沾污油污、雜質、錫渣等影響測試性能，因此需要將測試探針定時拆卸清洗。現有的清洗方法在清洗完成后會有清洗藥劑殘留在測試探針表面，導致測試探針易出現生銹腐蝕等情況，縮短測試探針的使用壽命。

發明內容

為解決上述技術問題，本發明提供了一種CPU性能測試探針清潔方法，具有減少藥劑殘留、提高清潔效果、延長使用壽命的優點。

為達到上述目的，本發明的技術方案如下：

一種CPU性能測試探針清潔方法，包括：

步驟一：對待清洗探針進行超聲波脫脂去油處理3-5min，脫脂去油藥劑的PH為7.0-8.5；

步驟二：用32-45℃的溫水進行沖洗，沖洗時長為5-10s；

步驟三：用蒸餾水沖洗3-5s使探針溫度下降至室溫；

步驟四：將探針置于清洗槽內，在清洗槽內加入清洗藥劑進行超聲波振蕩清洗，清洗時長為5-8min，其中，清洗藥劑包含活性劑；

步驟五：用溫度為室溫的清洗水進行多道水洗；

步驟六：對水洗完成的探針進行干燥處理。

實現上述技術方案，首先將探針放置在超聲波清洗機中進行脫脂去油處理，去除探針上沾污的油污類異物，并對雜質、錫渣等異物進行清洗，通過弱酸性的脫脂去油藥劑能夠中和呈弱酸性的油脂，使得清洗效果更佳，再用溫水對探針進行沖洗，去除殘留在探針表面的脫脂去油藥劑和油脂，同時溫水的溫度可以較好的避免溫度過低導致油脂凝結，再用蒸餾水沖洗后使探針降至室溫，減少探針的溫度對后續清洗效果的影響，同時通過蒸餾水能夠進一步去除探針表面的雜質，接著通過清洗藥劑進行超聲波振蕩清洗，去除探針表面的氧化層，使探針表面重新恢復至潔凈狀態，再通過多道水洗過程對探針進行徹底清洗，去除殘留在探針表面的雜質和清洗藥劑，最后對探針進行快速干燥處理，使得探針表面達到潔凈干燥的狀態，避免探針生銹腐蝕，延長探針的使用壽命。

作為本發明的一種優選方案，所述步驟一中超聲波脫脂去油處理時長為3.5min，脫脂去油藥劑的PH為7.5-8。

作為本發明的一種優選方案，所述步驟一中所述脫脂去油藥劑為濃度為2-3％的脫脂劑AS-209的水溶液。

作為本發明的一種優選方案，所述步驟二中溫水的溫度為35-38℃，沖洗時長為6-8s。

作為本發明的一種優選方案，所述步驟四中所述活性劑包括陰離子型表面活性劑和/或非離子型表面活性劑。

作為本發明的一種優選方案，所述步驟四中所述清洗藥劑包括質量百分比為3-6％的陰離子型表面活性劑和質量百分比為8-12％的非離子型表面活性劑。