[發明專利]一種高溫條件下測試行波抑制材料衰減性能的方法

有效

• 申請號: 202110338806.1
• 申請日: 2021-03-30
• 公開（公告）號: CN113049611B
• 公開（公告）日: 2023-01-20
• 發明（設計）人: 王巖;汪勇峰;王煥青;肖志河;巢增明
• 申請（專利權）人: 北京環境特性研究所
• 主分類號: G01N23/00
• 分類號: G01N23/00;G01S7/36;G01S7/41
• 代理公司: 北京格允知識產權代理有限公司 11609
• 代理人: 劉曉

1.一種高溫條件下測試行波抑制材料衰減性能的方法，其特征在于，所述方法包括如下步驟：

S1、制備行波標準板與耐高溫行波材料樣板；

S2、驗證測試系統在點頻工作方式下的精度；

S3、通過時域測量的方式先后測試行波標準板在常溫條件下的點頻RCS數據和耐高溫行波材料樣板在高溫條件下的點頻RCS數據；在采用時域測量的方式進行測試時，時域加門僅截取行波標準板和耐高溫行波材料樣板的行波峰所在的有效目標區域內的回波數據作為點頻RCS數據；

S4、通過近遠場變換的方法分別將行波標準板和耐高溫行波材料樣板通過步驟S3獲取的點頻RCS數據變換成遠場點頻RCS數據；

S5、在步驟S4獲得的行波標準板和耐高溫行波材料樣板的遠場點頻RCS數據中，在最大行波RCS理論方位角附近分別查找行波標準板的RCS的峰值σ_smax與耐高溫行波材料樣板的RCS峰值σ_tmax，依據σ_smax、σ_tmax和行波標準板的長度L，計算得到行波抑制材料的行波衰減率α；

其中，使用以下公式計算行波抑制材料的行波衰減率α：

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述行波標準板采用耐高溫金屬材料制成，所述行波標準板的制備滿足如下一個或多個要求：

(a)行波標準板的尺寸規格根據測試頻段f不同而不同：

當1GHz≤f＜2GHz時，所述行波標準板的長度為1000mm，寬度為200mm，厚度為8mm；

當2GHz≤f＜8GHz時，所述行波標準板的長度為500mm，寬度為100mm，厚度為6mm；

當f≥8GHz時，所述行波標準板的長度為300mm，寬度為100mm，厚度為5mm；

(b)所述行波標準板的長度的加工誤差為自由公差，所述行波標準板的寬度的加工誤差為±0.2mm，所述行波標準板的厚度的加工誤差為±0.5mm；

(c)所述行波標準板的短邊加工成銳邊緣，邊緣角為10°±0.2°，銳邊緣的厚度小于0.1mm，所述行波標準板的相對較大的平面的四角圓弧度小于0.1mm；

(d)所述行波標準板的表面粗糙度不大于3.2×10^-3mm。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述耐高溫行波材料樣板包括良導體層和涂覆或粘貼在所述良導體層上的行波抑制材料，所述耐高溫行波材料樣板的制備滿足如下一個或多個要求：

(I)采用與所述行波標準板相同的制備要求制備所述良導體層；

(II)所述行波抑制材料均勻地涂覆或粘貼在所述良導體層的相對較大的平面上，所述行波抑制材料的四周與所述良導體層的周邊齊平；

(III)涂覆或粘貼在所述良導體層上的所述行波抑制材料的厚度小于入射電磁波的波長的3％，厚度不均勻度小于5％。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，步驟S2包括如下子步驟：

S21、開啟測試系統；

S22、設置測試系統的系統參數；所述系統參數包括工作方式、工作頻率、極化、方位角范圍和方位角采樣間隔；其中，工作方式設定為點頻工作方式，極化設定為水平極化，方位角范圍設定為-90°～+90°，方位角采樣間隔設定為0.2°；

S23、測定背景響應電壓矢量

S24、測定含背景的定標球響應電壓矢量得到定標球的響應電壓矢量以計算定標球的RCS數據，并將定標球的RCS數據作為理論值σ₀；

S25、在常溫條件下測試標準金屬球的RCS數據，并將標準金屬球的RCS數據與步驟S24得到的理論值σ₀對比從而驗證測試系統的精度。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于：

在進行步驟S22之前，先將測試系統預熱至少30分鐘。