[發明專利]一種集成的線序測試裝置和方法

在審

• 申請號: 202110338499.7
• 申請日: 2021-03-25
• 公開（公告）號: CN113075589A
• 公開（公告）日: 2021-07-06
• 發明（設計）人: 馮曉樂;楊其宇;程名峻;鐘勁豪
• 申請（專利權）人: 廣東工業大學
• 主分類號: G01R31/58
• 分類號: G01R31/58
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 郭帥

本發明涉及一種集成的線序測試裝置和方法，包括主機和副機，主機包括主控模塊、模數轉換模塊、端口選擇模塊和接線端口模塊，副機包括至少2條并聯連接的環回線路，每條環回線路均包括半導體元件和電阻。該集成的線序測試裝置通過在副機上采用半導體元件的單向導通特性，優化了副機的電路結構，降低了電阻的選取難度、對電阻精度和模數轉換模塊精度的要求，極大地降低了設計難度，減小了該集成的線序測試裝置的制作成本，通過該集成的線序測試裝置測試線路主要在只有兩根線路正常接通的情況下能辨別出線序，簡化的測試；解決了現有的線序測試方法實現起來比較復雜或者成本較高的技術問題。

技術領域

本發明涉及測試技術領域，尤其涉及一種集成的線序測試裝置和方法。

背景技術

現有的線序測試方法實現起來比較復雜或者成本較高，其中最簡單的裝置和方法如中國知識產權局在2011年4月13日公開了公布號為CN102012465A的一種線序測試方法，該線序測試方法要求環回端的電阻選取必須滿足以下兩個條件：一個條件是環回端電阻的阻值兩兩不相等；另一個條件是任意兩個環回端電阻的阻值相加的和不一樣。該線序測試方法極大地縮小環回端電阻的阻值可選范圍。當待測線路較多時，環回端電阻的選取就變得非常困難，并且需要更高精度的模數轉換模塊進行電壓測量，使得線序測試成本增加，漸而增加了產品的生產成本。并且該線序測試方法的辨別速度較慢，它需要分別以斷路檢測模式、短路檢測模式、正常線序判斷模式來檢測線路接線情況。若線路存在n條，則大概需要進行電平檢測多次。例如在線路只有兩條接線正常的情況下，無法辨別出線路內部的線序情況，只能辨別是否存在線路短路或斷路。

為了降低線序測試方法環回端電阻選取難度和測試裝置制作成本以及解決只有兩條線路連接的情況下存在的問題，需要提供一種新的線序測試裝置和方法。

發明內容

本發明實施例提供了一種集成的線序測試裝置和方法，用于解決現有的線序測試方法實現起來比較復雜或者成本較高的技術問題。

為了實現上述目的，本發明實施例提供如下技術方案：

一種集成的線序測試裝置，包括主機和副機，所述主機用于通過每一個接線端口向所述副機發送測試信號，并實時檢測所述副機與所述測試信號對應的反饋信號；所述主機包括主控模塊、模數轉換模塊、端口選擇模塊和接線端口模塊，所述端口選擇模塊包括第一端口選擇子模塊和第二端口選擇子模塊，所述第一端口選擇子模塊分別與所述模數轉換模塊、所述主控模塊和所述接線端口模塊連接，所述第二端口選擇子模塊分別與所述主控模塊和所述接線端口模塊連接；所述副機包括至少2條并聯連接的環回線路，每條所述環回線路上均設置有連接端口，所述接線端口模塊上設置有與所述環回線路條數相等的接線端口，所述連接端口與所述接線端口連接；每條所述環回線路均包括半導體元件和電阻，所述半導體元件與所述電阻并聯連接且并聯連接后與所述連接端口連接。

優選地，所述第一端口選擇子模塊通過電平檢測通道與所述接線端口模塊連接，所述第二端口選擇子模塊通過接地通道與所述接線端口模塊連接。

優選地，所述第一端口選擇子模塊與所述模數轉換模塊連接之間還連接有基準電阻和基準電壓源。

優選地，所述第一端口選擇子模塊和所述第二端口選擇子模塊上均設置有開關元件，所述開關元件為八選一模擬開關、三極管、MOS管或繼電器。

優選地，所述主機的電阻和所述副機的電阻均大于所述端口選擇模塊13中開關元件的導通電阻。

優選地，所述模數轉換模塊與所述主控模塊連接，所述模數轉換模塊為ADC模塊或壓頻轉換模塊。

優選地，所述半導體元件為二極管。

優選地，該集成的線序測試裝置還包括用于顯示測試結果的顯示模塊，所述顯示模塊與所述主控模塊連接。

本發明還提供一種集成的線序測試方法，包括以下步驟：