[發明專利]一種鋼渣的綜合利用方法

有效

• 申請號: 202110337498.0
• 申請日: 2021-03-30
• 公開（公告）號: CN113121129B
• 公開（公告）日: 2022-02-08
• 發明（設計）人: 焦林春;閆得慧;胡寶林;趙翠霞
• 申請（專利權）人: 內蒙古金輝稀礦股份有限公司
• 主分類號: C04B7/21
• 分類號: C04B7/21;C04B7/153;C04B7/38;C04B7/36;B02C21/00;B07B1/42;B01D53/00
• 代理公司: 深圳市興科達知識產權代理有限公司 44260
• 代理人: 覃曼萍

1.一種鋼渣的綜合利用方法，其特征在于，包括：

步驟S1，利用破碎機將鋼鐵廠生產的廢渣進行破碎處理以得到鋼渣；

步驟S2，利用干法磁選機將所述鋼渣進行磁選篩分以得到高鐵鋼渣與低鐵鋼渣；

步驟S3，將所述高鐵鋼渣利用自磨機球磨后經濕法磁選機進行磁選以得到全鐵和尾泥，所述尾泥經晾曬、干燥后用以制備尾氣凈化劑；

步驟S4，將所述低鐵鋼渣與脫硫石膏、熟料及激發劑在球磨機中進行球磨磨粉以制備膠凝劑；

所述步驟S2中，篩分前，粒度檢測儀對第一篩分單元上的經過干法磁選后的鋼渣的顆粒度進行檢測，中控單元將測得的實際鋼渣顆粒度L與中控單元內儲存的預設渣鋼顆粒度進行比較以確定第一篩分單元的篩分功率，將粒度差值△L與標準粒度差值進行比較以確定第一篩分單元的篩分時間；篩分時，磁性檢測儀對經過所述第一篩分單元后掉落至第二篩分單元上的低鐵鋼渣的磁性進行檢測，所述中控單元將測得的實際磁性C與中控單元內儲存的標準磁性C0進行比較以確定低鐵鋼渣是否符合標準，結合磁性差值系數、磁性差值△C和實際重量M確定不符合篩分標準時第二篩分單元的篩分功率和篩分時間；

所述步驟S2中，篩分前，所述中控單元獲取所述粒度檢測儀測得的所述第一篩分單元上的鋼渣的顆粒度并將其設置為實際鋼渣顆粒度L，設置完成時，中控單元將實際鋼渣顆粒度L與預設鋼渣顆粒度進行比較以確定第一篩分單元的篩分功率，中控單元確定第一篩分單元的篩分功率為Pai時控制第一調節器將第一篩分單元的篩分功率調節為Pai,設定i=1,2,3,4;

其中，所述中控單元設置有預設鋼渣顆粒度和預設篩分功率，所述預設鋼渣顆粒度包括第一預設鋼渣顆粒度A1，第二預設鋼渣顆粒度A2和第三預設鋼渣顆粒度A3，其中，A1＜A2＜A3＜10mm；所述預設篩分功率包括第一預設篩分功率Pa1，第二預設篩分功率Pa2，第三預設篩分功率Pa3和第四預設篩分功率Pa4，其中，Pa1＜Pa2＜Pa3＜Pa4；

若L＜A1，所述中控單元判定所述第一篩分單元的篩分功率為Pa1；

若A1≤L＜A2，所述中控單元判定所述第一篩分單元的篩分功率為Pa2；

若A2≤L＜A3，所述中控單元判定所述第一篩分單元的篩分功率為Pa3；

若L≥A3，所述中控單元判定所述第一篩分單元的篩分功率為Pa4；

所述中控單元確定所述第一篩分單元的篩分功率時，中控單元將粒度差值△L與標準粒度差值進行比較以確定第一篩分單元的篩分時間，中控單元確定第一篩分單元的篩分時間為Tai時控制所述第一調節器將第一篩分單元的篩分時間調節為Tai，設定i=1,2,3,4;

其中，所述中控單元還設置有預設篩分時間,包括第一預設篩分時間Ta1，第二預設篩分時間Ta2，第三預設篩分時間Ta3和第四預設篩分時間Ta4，其中，Ta1＜Ta2＜Ta3＜Ta4；

若△L＜△L1，所述中控單元判定所述第一篩分單元的篩分時間為Ta1；

若△L1≤△L＜△L2，所述中控單元判定所述第一篩分單元的篩分時間為Ta2；

若△L2≤△L＜△L3，所述中控單元判定所述第一篩分單元的篩分時間為Ta3；

若△L≥△L3，所述中控單元判定所述第一篩分單元的篩分時間為Ta4；

所述步驟S2中，篩分時，所述中控單元獲取所述磁性檢測儀測得的所述第二篩分單元上的低鐵鋼渣的磁性并將其設置為實際磁性C，設置完成時，中控單元將實際磁性C與標準磁性C0進行比較以確定低鐵鋼渣是否符合標準，若中控單元判定低鐵鋼渣符合標準，控制第一控制閥打開第一開口將第二篩分單元上的低鐵鋼渣倒入所述球磨機中制備膠凝劑，若中控單元判定低鐵鋼渣不符合標準，計算磁性差值△C；

其中，若C≤C0，所述中控單元判定低鐵鋼渣符合標準；

若C＞C0，所述中控單元判定低鐵鋼渣不符合標準；

所述中控單元判定低鐵鋼渣不符合標準時，中控單元結合所述第一篩分單元的篩分時間Tai確定磁性差值系數，中控單元確定選用磁性差值第i系數δi計算磁性差值時，中控單元計算磁性差值△C，設定△C=（C-C0）×δi，i=1,2,3,4；

其中，所述中控單元還設置有磁性差值系數，包括磁性差值第一系數δ1，磁性差值第二系數δ2，磁性差值第三系數δ3和磁性差值第四系數δ4，其中，δ1+δ2+δ3+δ4=2；

當第一篩分單元的篩分時間為Ta1時，所述中控單元選用δ1計算磁性差值；

當第一篩分單元的篩分時間為Ta2時，所述中控單元選用δ2計算磁性差值；

當第一篩分單元的篩分時間為Ta3時，所述中控單元選用δ3計算磁性差值；

當第一篩分單元的篩分時間為Ta4時，所述中控單元選用δ4計算磁性差值；

所述中控單元確定所述第二篩分單元的篩分功率時，中控單元控制重量檢測儀檢測第二篩分單元上承載的重量并將測得的實際重量設置為M，設置完成時，中控單元將實際重量M與標準重量進行比較以確定第二篩分單元的篩分時間，中控單元確定第二篩分單元的篩分時間為Tbi時控制所述第二調節器將第二篩分單元的篩分時間調節為Tbi，設定i=1,2,3,4,；

其中，所述中控單元還設置有標準重量，包括第一標準重量M1，第二標準重量M2和第三標準重量M3，其中，M1＜M2＜M3；

若M＜M1，所述中控單元判定所述第二篩分單元的篩分時間為Tb1，設定Tb1=Ta1；

若M1≤M＜M2，所述中控單元判定所述第二篩分單元的篩分時間為Tb2，設定Tb2=1.5×Ta2；

若M2≤M＜M3，所述中控單元判定所述第二篩分單元的篩分時間為Tb3，設定Tb3=2×Ta3；

若M≥M3，所述中控單元判定所述第二篩分單元的篩分時間為Tb4，設定Tb3=2.5×Ta4。