[發明專利]一種基于PLC的X光分選控制系統

有效

• 申請號: 202110335176.2
• 申請日: 2021-03-29
• 公開（公告）號: CN113083723B
• 公開（公告）日: 2022-12-20
• 發明（設計）人: 肖颯
• 申請（專利權）人: 安徽名德智能科技有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/36
• 代理公司: 合肥洪雷知識產權代理事務所(普通合伙) 34164
• 代理人: 孫小華

本發明公開了一種基于PLC的X光分選控制系統，涉及礦石分選技術領域。本發明中：PLC控制器同步獲取到噴閥指令時間、實時的控制系統時間，對二者時間進行比對分析，判斷并控制噴吹電磁閥得電狀態。PLC控制器根據當前礦石分選數據指令信號以及對噴吹電磁閥的驅動控制；礦石分選自動控制系統獲取到礦石受X光照射分析出的礦石內部所含礦物質的原子序數信息，PLC控制器驅動噴吹電磁閥進行對應氣壓等級的噴氣分選操作。本發明通過對礦石進行X光分析，并進行系統時域化精準分析控制，并通過對噴吹電磁閥的噴氣進行動作信號、氣體驅動力進行驅動控制，較為精準的完成對應礦石的分選操作，降低了人工二次分選勞作，提高了勞動效率。

技術領域

本發明屬于礦石分選技術領域，特別是涉及一種基于PLC的X光分選控制系統。

背景技術

目前，針對原礦顆粒的分選，主要有濕選和干選兩種方法。濕選方法是以水、重懸浮液或其它液態流體作為分選介質的一類分選方法。濕選存在工藝復雜、設備較多、耗費大量水資源、環境污染較大、投資運行成本較高等問題，而且在嚴重缺水的地區也限制了濕選方法的應用。相比于濕選，干選方法具有投資少，工藝簡單，運行成本低的優點。傳統的干選方法是人工干選，靠人眼根據被選原礦顆粒中礦石顆粒和廢石顆粒在顏色、紋理上的區別來進行識別，然后用手將廢石顆粒撿出。人工干選或其它依靠光學成像的分選方法只能看到被選原礦顆粒中礦石顆粒和廢石顆粒在顏色、紋理上的區別，但看不到它們在密度或內部物質組成上的區別，不能很好的對礦石顆粒和廢石顆粒進行區分，人工干選方法還有生產效率較低的缺點。

另外，若是采用分選機器對礦石顆粒進行分選過程中，整個分選礦石的時域性以及分選時的控制精準性，都是需要注意的問題。

發明內容

本發明的目的在于提供一種基于PLC的X光分選控制系統，通過對礦石進行X光分析，并進行系統時域化精準分析控制，并通過對噴吹電磁閥的噴氣進行動作信號、氣體驅動力進行驅動控制，較為精準的完成對應礦石的分選操作，降低了人工二次分選勞作，提高了勞動效率。

為解決上述技術問題，本發明是通過以下技術方案實現的：

本發明為一種基于PLC的X光分選控制系統，包括礦石分選自動控制系統，礦石分選自動控制系統中配置有PLC控制器和算法工控機，PLC控制器的輸出端口連接噴吹電磁閥，PLC控制器驅動連接有X光發生器、X光接收器，X光發生器、X光接收器對所選礦石進行X光透射掃描；算法工控機獲取到礦石X光圖片，對礦石X光圖片進行數據處理并進行深度學習；算法工控機通過以太網將礦石分選數據指令發送至PLC控制器；PLC控制器同步獲取到噴閥指令時間、實時的控制系統時間，對二者時間進行比對分析，判斷并控制噴吹電磁閥得電狀態。

PLC控制器根據當前礦石分選數據指令信號以及對噴吹電磁閥的驅動控制，對當前礦石進行噴吹分選；其中，礦石分選自動控制系統獲取到礦石受X光照射分析出的礦石內部所含礦物質的原子序數信息，PLC控制器驅動噴吹電磁閥進行對應氣壓等級的噴氣分選操作。

作為本發明的一種優選技術方案，礦石分選自動控制系統通過數據信號線路連接有顯示板和警示設備。

作為本發明的一種優選技術方案，設X光發生器、X光接收器之間對礦石進行照射圖像采集至算法工控機發出礦石分選數據指令的系統時間間隔為Δt₁；設算法工控機發出礦石分選數據指令至PLC控制器接收到礦石分選數據指令時的系統時間間隔為Δt₂；設PLC控制器從獲取到礦石分選數據指令至驅動噴吹電磁閥吹出分選氣體的系統時間間隔為Δt₃；則當前礦石從X光照射至到達噴吹電磁閥噴氣分選位置的時間為ΔT，存在ΔT＝Δt₁+Δt₂+Δt₃。