[發明專利]一種用于獲取CT設備測量孔徑位置度準確性的測量方法

有效

• 申請號: 202110334565.3
• 申請日: 2021-03-29
• 公開（公告）號: CN113091661B
• 公開（公告）日: 2023-03-31
• 發明（設計）人: 左欣;付康;喬日東;齊子誠;郭智敏;倪培君;張榮繁;唐盛明;鄭穎;王曉艷;李紅偉;庚喜慧
• 申請（專利權）人: 中國兵器科學研究院寧波分院
• 主分類號: G01B15/00
• 分類號: G01B15/00
• 代理公司: 寧波誠源專利事務所有限公司 33102
• 代理人: 袁忠衛;方寧

1.一種用于獲取CT設備測量孔徑位置度準確性的測量方法，其特征在于：用于獲取CT設備測量孔徑位置度準確性的試塊包括有：

基準塊(1)，其中心開設有第一貫穿孔(11)；

滑動塊(2)，其中心開設有與第一貫穿孔(11)大小相同的第二貫穿孔(21)，所述滑動塊(2)滑動地設于基準塊(1)上；初始狀態時，所述滑動塊(2)上的第二貫穿孔(21)與所述基準塊(1)上的第一貫穿孔(11)上下對齊，所述滑動塊(2)能沿基準塊(1)橫向和縱向方向滑動；

用于獲取CT設備測量孔徑位置度準確性的測量方法包括以下步驟：

步驟1、使用上述試塊，并保持滑動塊(2)上的第二貫穿孔(21)與基準塊(1)上的第一貫穿孔(11)上下對齊；

步驟2、控制滑動塊(2)沿基準塊(1)的橫向和縱向方向滑動，使滑動塊(2)上第二貫穿孔(21)的中心偏離基準塊(1)上第一貫穿孔(11)的中心，且至少保證基準塊(1)上的第一貫穿孔(11)的中心外露；

步驟3、對步驟2中滑動塊(2)滑動后的試塊進行三維CT掃描，得到試塊掃描后的三維CT圖像；

步驟4、根據掃描后的三維CT圖像擬合出基準塊(1)上的第一貫穿孔(11)和滑動塊(2)上的第二貫穿孔(21)，之后，計算第一貫穿孔(11)的中心與第二貫穿孔(21)的中心之間的距離d，將d與實際滑動的距離L進行比較，即得到CT設備測量孔徑位置度的準確性。

2.根據權利要求1所述的用于獲取CT設備測量孔徑位置度準確性的測量方法，其特征在于：所述基準塊(1)的上端面上設有以所述第一貫穿孔(11)的中心位置為中心的十字型第一刻度線(12)，所述第一刻度線(12)包括第一橫向刻度線(121)以及與第一橫向刻度線(121)垂直的第一縱向刻度線(122)。

3.根據權利要求2所述的用于獲取CT設備測量孔徑位置度準確性的測量方法，其特征在于：所述滑動塊(2)的上端面上設有以所述第二貫穿孔(21)的中心位置為中心的十字型第二刻度線(22)，所述第二刻度線(22)包括與第一橫向刻度線(121)平行的第二橫向刻度線(221)以及與第一縱向刻度線(122)平行的第二縱向刻度線(222)。

4.根據權利要求1所述的用于獲取CT設備測量孔徑位置度準確性的測量方法，其特征在于：還包括用于驅動滑動塊(2)橫向和縱向滑動的兩驅動機構。

5.根據權利要求4所述的用于獲取CT設備測量孔徑位置度準確性的測量方法，其特征在于：所述兩驅動機構均為集成有驅動功能和測量功能的螺旋測微器，所述螺旋測微器包括測桿和旋轉后能驅動測桿移動的旋鈕，所述兩螺旋測微器的測桿均與所述滑動塊(2)相抵，用于分別驅動滑動塊(2)橫向和縱向滑動。

6.根據權利要求1所述的用于獲取CT設備測量孔徑位置度準確性的測量方法，其特征在于：所述第一貫穿孔(11)和第二貫穿孔(21)的橫截面均為圓形。

7.根據權利要求1所述的用于獲取CT設備測量孔徑位置度準確性的測量方法，其特征在于：所述步驟4中實際滑動的距離L的計算公式為：

其中，x為滑動塊(2)在橫向方向上滑動的距離，y為滑動塊(2)在縱向方向上滑動的距離。