[發(fā)明專利]功率源調(diào)試方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110331867.5 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112799459B | 公開(公告)日: | 2021-07-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何磊 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 成都沃特塞恩電子技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G05F1/56 | 分類號(hào): | G05F1/56 |
| 代理公司: | 北京卓恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11394 | 代理人: | 孔鵬 |
| 地址: | 610041 四川省成都市高*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 功率 調(diào)試 方法 裝置 存儲(chǔ) 介質(zhì) 電子設(shè)備 | ||
1.一種功率源調(diào)試方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取功率源在不同運(yùn)行電壓下的多個(gè)運(yùn)行功率;其中,所述功率源運(yùn)行在第一頻率;
根據(jù)所述多個(gè)運(yùn)行功率和每個(gè)運(yùn)行功率對(duì)應(yīng)的期望功率調(diào)整所述功率源的運(yùn)行參數(shù),以使調(diào)整后的所述功率源的運(yùn)行功率與對(duì)應(yīng)的期望功率之間的差值小于或等于調(diào)試閾值;
根據(jù)調(diào)整后的所述功率源的多個(gè)運(yùn)行功率以及每個(gè)運(yùn)行功率對(duì)應(yīng)的運(yùn)行電壓,確定所述功率源的第一檢波曲線;
所述方法還包括:
獲取所述功率源運(yùn)行在第二頻率的第二檢波曲線,以及所述功率源運(yùn)行在第三頻率的第三檢波曲線;所述第三頻率大于所述第二頻率;
根據(jù)所述第二檢波曲線和所述第三檢波曲線確定所述功率源運(yùn)行在第四頻率的第四檢波曲線;所述第四頻率位于所述第二頻率和所述第三頻率之間,且所述第四檢波曲線上的檢波電壓V1對(duì)應(yīng)的運(yùn)行功率P4滿足如下公式:
P4=P2+(f4-f2)*(P3-P2)/(f3-f2);
其中,f2為所述第二頻率,f3為所述第三頻率,f4為所述第四頻率,P2為所述第二檢波曲線上的檢波電壓V1對(duì)應(yīng)的運(yùn)行功率,P3為所述第三檢波曲線上的檢波電壓V1對(duì)應(yīng)的運(yùn)行功率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的功率源調(diào)試方法,其特征在于,所述獲取所述功率源運(yùn)行在第二頻率的第二檢波曲線,以及所述功率源運(yùn)行在第三頻率的第三檢波曲線的步驟,包括:
根據(jù)所述功率源運(yùn)行在所述第二頻率的多個(gè)運(yùn)行功率以及每個(gè)運(yùn)行功率對(duì)應(yīng)的運(yùn)行電壓,擬合第一線性曲線;所述第一線性曲線為所述第二檢波曲線;
根據(jù)所述功率源運(yùn)行在所述第三頻率的多個(gè)運(yùn)行功率以及每個(gè)運(yùn)行功率對(duì)應(yīng)的運(yùn)行電壓,擬合第二線性曲線;所述第二線性曲線為所述第三檢波曲線。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的功率源調(diào)試方法,其特征在于,所述根據(jù)所述多個(gè)運(yùn)行功率和每個(gè)運(yùn)行功率對(duì)應(yīng)的期望功率調(diào)整所述功率源的運(yùn)行參數(shù)的步驟,包括:
根據(jù)比例積分微分控制PID算法、所述多個(gè)運(yùn)行功率和每個(gè)運(yùn)行功率對(duì)應(yīng)的期望功率調(diào)整所述功率源的運(yùn)行參數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的功率源調(diào)試方法,其特征在于,所述運(yùn)行功率包括:所述功率源的輸出功率或反射功率。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的功率源調(diào)試方法,其特征在于,所述運(yùn)行參數(shù)包括:所述功率源的衰減的值以及電流的值。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的功率源調(diào)試方法,其特征在于,所述運(yùn)行電壓為通過檢波器檢測(cè)所述功率源的檢波電壓。
7.一種功率源調(diào)試裝置,其特征在于,包括:
獲取模塊,用于獲取功率源在不同運(yùn)行電壓下的多個(gè)運(yùn)行功率;其中,所述功率源運(yùn)行在第一頻率;
調(diào)試模塊,用于根據(jù)所述多個(gè)運(yùn)行功率和每個(gè)運(yùn)行功率對(duì)應(yīng)的期望功率調(diào)整所述功率源的運(yùn)行參數(shù),以使調(diào)整后的所述功率源的運(yùn)行功率與對(duì)應(yīng)的期望功率之間的差值小于或等于調(diào)試閾值;
所述調(diào)試模塊,還用于根據(jù)調(diào)整后的所述功率源的多個(gè)運(yùn)行功率以及每個(gè)運(yùn)行功率對(duì)應(yīng)的運(yùn)行電壓,確定所述功率源的第一檢波曲線;
所述獲取模塊,還用于獲取所述功率源運(yùn)行在第二頻率的第二檢波曲線,以及所述功率源運(yùn)行在第三頻率的第三檢波曲線;所述第三頻率大于所述第二頻率;
所述調(diào)試模塊,還用于根據(jù)所述第二檢波曲線和所述第三檢波曲線確定所述功率源運(yùn)行在第四頻率的第四檢波曲線;所述第四頻率位于所述第二頻率和所述第三頻率之間,且所述第四檢波曲線上的檢波電壓V1對(duì)應(yīng)的運(yùn)行功率P4滿足如下公式:
P4=P2+(f4-f2)*(P3-P2)/(f3-f2);
其中,f2為所述第二頻率,f3為所述第三頻率,f4為所述第四頻率,P2為所述第二檢波曲線上的檢波電壓V1對(duì)應(yīng)的運(yùn)行功率,P3為所述第三檢波曲線上的檢波電壓V1對(duì)應(yīng)的運(yùn)行功率。
8.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述的功率源調(diào)試方法。
9.一種電子設(shè)備,其特征在于,包括處理器和存儲(chǔ)器,所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有機(jī)器可讀指令,所述處理器用于執(zhí)行所述機(jī)器可讀指令,以實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述的功率源調(diào)試方法。
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