[發(fā)明專利]電磁光一體化測試的物理特性綜合測試系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110328547.4
• 申請日: 2021-03-26
• 公開（公告）號: CN113067549A
• 公開（公告）日: 2021-07-02
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳水源;張裕祥;王可;霍冠忠;葉晴瑩;裴哲;林文青
• 申請（專利權(quán)）人: 福建師范大學
• 主分類號: H02S50/10
• 分類號: H02S50/10;H02S50/15
• 代理公司: 福州君誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 35211
• 代理人: 戴雨君

1.電磁光一體化測試的物理特性綜合測試系統(tǒng)，其特征在于：其包括光源、樣品臺和光電性能測試儀；光源設(shè)于樣品臺的上方并發(fā)射模擬太陽光，樣品臺的上表面設(shè)有塊狀樣品放置臺，塊狀樣品放置臺具有多種不同規(guī)格的樣品限位槽，塊狀樣品放置臺的底面設(shè)置材料槽，材料槽的一端開口位于樣品臺的正面，材料槽內(nèi)放置導(dǎo)電抗磁材料，導(dǎo)電抗磁材料與塊狀樣品放置臺上放置的塊狀樣品的底面接觸，樣品臺的正面對應(yīng)材料槽的兩側(cè)分別設(shè)有一螺絲釘鎖孔，螺絲釘鎖孔內(nèi)鎖附有螺絲釘，導(dǎo)電抗磁材料延伸出材料槽纏部分繞于螺絲釘上，光電性能測試儀的測試端連接至螺絲釘；樣品臺底部具有正面開口的磁體放置腔，磁體放置腔內(nèi)可更換放置有磁體放置器，磁體放置器的上端面設(shè)有磁體定位槽，磁體定位槽固定有磁體。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁光一體化測試的物理特性綜合測試系統(tǒng)，其特征在于：磁體放置器根據(jù)所需磁場強度具有多種不同高度規(guī)格。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電磁光一體化測試的物理特性綜合測試系統(tǒng)，其特征在于：磁體放置器有三種高度規(guī)格，分別為高1cm*長10.5cm*寬5.5cm、高1.5cm*長10.5cm*寬5.5cm及高2cm*長10.5cm*寬5.5cm的磁體放置器。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電磁光一體化測試的物理特性綜合測試系統(tǒng)，其特征在于：磁體放置腔的規(guī)格大小為長11cm*寬5.6cm*高6cm。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁光一體化測試的物理特性綜合測試系統(tǒng)，其特征在于：樣品限位槽的規(guī)格有0.5cm*0.5cm、1cm*1cm或1cm*0.5cm及2cm*2cm或2cm*1cm。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁光一體化測試的物理特性綜合測試系統(tǒng)，其特征在于：樣品臺的上表面還設(shè)有磁體放置器觀測槽孔，磁體放置器觀測槽孔用于觀測磁體放置器是否處于同一位置。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁光一體化測試的物理特性綜合測試系統(tǒng)，其特征在于：螺絲釘采用抗磁導(dǎo)電材料或者非抗磁導(dǎo)電材料成型；螺絲釘?shù)闹睆铰源笥诼萁z釘鎖孔的直徑。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁光一體化測試的物理特性綜合測試系統(tǒng)，其特征在于：樣品臺的高度為7.7cm，樣品臺與光源的距離滿足光到達樣品處的距離達到太陽能標準測試條件。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁光一體化測試的物理特性綜合測試系統(tǒng)，其特征在于：磁體定位槽內(nèi)放置長為4cm*寬為6cm的磁體。