[發(fā)明專利]基于到達(dá)角度測(cè)距的定位方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110328310.6 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113050030B | 公開(公告)日: | 2021-11-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 汪菲;謝小勇;管根崇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇藍(lán)策電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01S3/46 | 分類號(hào): | G01S3/46;G01S5/02 |
| 代理公司: | 北京科聚知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11916 | 代理人: | 陳義 |
| 地址: | 226010 江蘇省南通市*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 到達(dá) 角度 測(cè)距 定位 方法 裝置 | ||
1.一種基于到達(dá)角度測(cè)距的定位方法,其特征在于,所述方法包括:
S1、接收器天線組在基于各個(gè)天線進(jìn)行入射信號(hào)數(shù)據(jù)采集后,對(duì)所述入射信號(hào)數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理并構(gòu)建初始樣本矩陣;
S2、將所述初始樣本矩陣進(jìn)行重構(gòu)后生成映射樣本矩陣;
S3、將所述映射樣本矩陣的損耗進(jìn)行修正后,對(duì)映射樣本矩陣內(nèi)的元素進(jìn)行調(diào)整;
S4、通過入射角計(jì)算模型選擇并計(jì)算樣本之間的相位差,然后根據(jù)所述相位差估計(jì)入射信號(hào)的角度;
所述S1具體包括:
接收器天線組包括Ne個(gè)天線,每個(gè)天線在周期T內(nèi)按照順序進(jìn)行樣本采集,單個(gè)天線采集了N個(gè)樣本為一個(gè)小組,切換由下個(gè)天線進(jìn)行入射信號(hào)數(shù)據(jù)采集,合計(jì)采集到Np個(gè)樣本停止采集,將Np個(gè)樣本組成一個(gè)入射信號(hào)數(shù)據(jù)包,M=Np/N,m=M/Ne,進(jìn)行I/Q樣本分析,并將入射信號(hào)數(shù)據(jù)包用初始樣本矩陣R進(jìn)行表示為,其中,R的第k列表示為r[k],其含義為一個(gè)入射信號(hào)數(shù)據(jù)包內(nèi)天線ek所采集的樣本,1≤k≤Ne;
所述S2具體包括:
將初始樣本矩陣R中的元素一一映射到相位為Rφ、幅值為RA的映射樣本矩陣中,其中,1≤k≤Ne,1≤l≤mN,基于I/Q樣本分析中,r[k]的離散形式表示為r[k]=rI[k]+jrQ[k],1≤j≤Ne;
所述S3具體包括:
S31、構(gòu)建損耗函數(shù)其中,t為函數(shù)變量,1≤t≤Ne,fc為對(duì)應(yīng)入射信號(hào)數(shù)據(jù)包的頻率,φI和φQ分別為I/Q樣本對(duì)應(yīng)的相位,AI和AQ分別為I/Q樣本對(duì)應(yīng)的幅值;
S32、定義
S33、令其中,
S34、對(duì)進(jìn)行迭代求解直到dγI和dγQ小于預(yù)設(shè)值后,輸出γI和γQ,然后對(duì)映射樣本矩陣內(nèi)的元素進(jìn)行調(diào)整。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于到達(dá)角度測(cè)距的定位方法,其特征在于,所述S4具體包括:
S41、構(gòu)建入射角計(jì)算模型;
S42、從調(diào)整后的映射樣本矩陣中選擇樣本元素;
S43、通過入射角計(jì)算模型計(jì)算之間的相位差,然后根據(jù)所述相位差估計(jì)入射信號(hào)的角度。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于到達(dá)角度測(cè)距的定位方法,其特征在于,所述S41具體包括:
所述入射角計(jì)算模型為:
其中,可通過計(jì)算獲得,xi=[x(1+(1-μ)N),i,…,xμN(yùn),i)]T,是xi的共軛復(fù)數(shù),1≤μ≤m;ρ(k)和τ(k)為高斯變量,
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