[發(fā)明專利]一種提高中頻采樣信號穩(wěn)定性的方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110324546.2
• 申請日: 2021-03-26
• 公開（公告）號: CN112946594B
• 公開（公告）日: 2023-01-31
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張達凱;劉胤凱;李熙民;苗苗;馮孝斌;沈小玲;張云;馮雨;王曉;邵景星;李萬珅
• 申請（專利權(quán)）人: 北京環(huán)境特性研究所
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40
• 代理公司: 北京格允知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11609
• 代理人: 周嬌嬌

1.一種提高中頻采樣信號穩(wěn)定性的方法，其特征在于，包括：

根據(jù)系統(tǒng)采樣參數(shù)計算信號整數(shù)采樣點位置；

計算離散頻譜中頻點位置為所述信號整數(shù)采樣點位置時對應(yīng)的信號頻點與數(shù)字采樣中心頻點的誤差作為中頻采樣頻點誤差；

根據(jù)中頻采樣頻點誤差對信號源射頻頻率進行修正后輸出；

所述根據(jù)系統(tǒng)采樣參數(shù)計算信號整數(shù)采樣點位置，包括通過以下公式計算：

其中，P為信號整數(shù)采樣點位置，f₀為數(shù)字采樣中心頻點，F(xiàn)_s為系統(tǒng)采樣率，N為采樣點數(shù)，(*)表示對數(shù)值進行四舍五入取整數(shù)；

所述計算離散頻譜中頻點位置為所述信號整數(shù)采樣點位置時對應(yīng)的信號頻點與數(shù)字采樣中心頻點的誤差作為中頻采樣頻點誤差，包括通過以下公式計算：

其中，E為中頻采樣頻點誤差，P為信號整數(shù)采樣點位置，f₀為數(shù)字采樣中心頻點，F(xiàn)_s為系統(tǒng)采樣率，N為采樣點數(shù)；

所述根據(jù)中頻采樣頻點誤差對信號源射頻頻率進行修正后輸出，包括通過以下公式計算：

f_t＝f_t0±E

其中，f_t0為修正前的信號源射頻頻率，f_t為修正后的信號源射頻頻率，E為中頻采樣頻點誤差。

2.一種提高中頻采樣信號穩(wěn)定性的裝置，其特征在于，包括：

整數(shù)采樣點位置計算模塊，用于根據(jù)系統(tǒng)采樣參數(shù)計算信號整數(shù)采樣點位置；

中頻采樣頻點誤差計算模塊，用于計算離散頻譜中頻點位置為所述信號整數(shù)采樣點位置時對應(yīng)的信號頻點與數(shù)字采樣中心頻點的誤差作為中頻采樣頻點誤差；

頻率修正模塊，用于根據(jù)中頻采樣頻點誤差對信號源射頻頻率進行修正后輸出；

所述整數(shù)采樣點位置計算模塊用于通過以下公式計算信號整數(shù)采樣點位置：

其中，P為信號整數(shù)采樣點位置，f₀為數(shù)字采樣中心頻點，F(xiàn)_s為系統(tǒng)采樣率，N為采樣點數(shù)，(*)表示對數(shù)值進行四舍五入取整數(shù)；

所述中頻采樣頻點誤差計算模塊用于通過以下公式計算中頻采樣頻點誤差：

其中，E為中頻采樣頻點誤差，P為信號整數(shù)采樣點位置，f₀為數(shù)字采樣中心頻點，F(xiàn)_s為系統(tǒng)采樣率，N為采樣點數(shù)；

所述頻率修正模塊用于通過以下公式計算修正后的信號源射頻頻率：

f_t＝f_t0±E

其中，f_t0為修正前的信號源射頻頻率，f_t為修正后的信號源射頻頻率，E為中頻采樣頻點誤差。

3.一種提高中頻采樣信號穩(wěn)定性的裝置，其特征在于，包括：至少一個存儲器和至少一個處理器；

所述至少一個存儲器，用于存儲機器可讀程序；

所述至少一個處理器，用于調(diào)用所述機器可讀程序，執(zhí)行權(quán)利要求1所述的方法。

4.一種計算機可讀介質(zhì)，其特征在于，所述計算機可讀介質(zhì)上存儲有計算機指令，所述計算機指令在被處理器執(zhí)行時，使所述處理器執(zhí)行權(quán)利要求1所述的方法。