[發(fā)明專利]一種單目結(jié)構(gòu)光的深度計(jì)算方法及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110321751.3 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-25 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113034565B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-07-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蘭富洋;楊鵬;王兆民;黃源浩;肖振中 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 奧比中光科技集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06T7/521 | 分類號(hào): | G06T7/521;G06T7/55;G06T7/80 |
| 代理公司: | 深圳中一聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44414 | 代理人: | 夏智海 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南山區(qū)粵*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 結(jié)構(gòu) 深度 計(jì)算方法 系統(tǒng) | ||
本申請(qǐng)適用于圖像處理領(lǐng)域,提供了一種單目結(jié)構(gòu)光的深度計(jì)算方法,包括:對(duì)第一結(jié)構(gòu)光相機(jī)進(jìn)行極線校正,獲取轉(zhuǎn)換矩陣并構(gòu)建第二結(jié)構(gòu)光相機(jī);利用第一結(jié)構(gòu)光相機(jī)獲取第一參考圖像,并根據(jù)轉(zhuǎn)換矩陣將第一參考圖像映射至第二結(jié)構(gòu)光相機(jī)對(duì)應(yīng)的第一坐標(biāo)系中,得到第二參考圖像;將第二參考圖像變換為第二坐標(biāo)系中的歸一化投影圖像;通過(guò)第二結(jié)構(gòu)光相機(jī)獲取歸一化投影圖像對(duì)應(yīng)的第三參考圖像;利用第二結(jié)構(gòu)光相機(jī)獲取目標(biāo)區(qū)域的目標(biāo)圖像,并與第三參考圖像進(jìn)行視差計(jì)算以獲取深度信息。上述方案,將原本系統(tǒng)外參為非理想狀態(tài)的結(jié)構(gòu)光系統(tǒng)變換成一個(gè)系統(tǒng)外參為理想狀態(tài)的結(jié)構(gòu)光系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了高精度的深度測(cè)量。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)屬于圖像處理領(lǐng)域,尤其涉及一種單目結(jié)構(gòu)光的深度計(jì)算方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
單目結(jié)構(gòu)光由一個(gè)投影模塊和一個(gè)相機(jī)構(gòu)成,為了實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的深度測(cè)量,通常需要嚴(yán)格約束投影模塊和相機(jī)的相對(duì)姿態(tài),使相機(jī)光軸與二者構(gòu)成的基線相互垂直。但是,實(shí)際裝配中不可避免地會(huì)存在誤差,若直接按照理想姿態(tài)下的深度計(jì)算方法計(jì)算深度,無(wú)法得到高精度的深度信息,導(dǎo)致結(jié)構(gòu)光系統(tǒng)測(cè)量精度的降低。
發(fā)明內(nèi)容
本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種單目結(jié)構(gòu)光的深度計(jì)算方法及系統(tǒng),可以解決現(xiàn)有的深度計(jì)算方法無(wú)法得到高精度的深度信息,導(dǎo)致結(jié)構(gòu)光系統(tǒng)測(cè)量精度的降低的問(wèn)題。
第一方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種單目結(jié)構(gòu)光的深度計(jì)算方法,包括:
對(duì)第一結(jié)構(gòu)光相機(jī)進(jìn)行極線校正,獲取轉(zhuǎn)換矩陣并構(gòu)建第二結(jié)構(gòu)光相機(jī);
利用第一結(jié)構(gòu)光相機(jī)獲取第一參考圖像,并根據(jù)轉(zhuǎn)換矩陣將第一參考圖像映射至第二結(jié)構(gòu)光相機(jī)對(duì)應(yīng)的第一坐標(biāo)系中,得到第二參考圖像;
將第二參考圖像變換為第二坐標(biāo)系中的歸一化投影圖像;其中,第二坐標(biāo)系為投影模塊對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)系;
通過(guò)第二結(jié)構(gòu)光相機(jī)獲取歸一化投影圖像對(duì)應(yīng)的第三參考圖像;
利用第二結(jié)構(gòu)光相機(jī)獲取目標(biāo)區(qū)域的目標(biāo)圖像,并與第三參考圖像進(jìn)行視差計(jì)算以獲取深度信息。
進(jìn)一步地,對(duì)第一結(jié)構(gòu)光相機(jī)進(jìn)行極線校正,獲取轉(zhuǎn)換矩陣并構(gòu)建第二結(jié)構(gòu)光相機(jī),包括:
根據(jù)第一結(jié)構(gòu)光相機(jī)的相機(jī)參數(shù)對(duì)第一結(jié)構(gòu)光相機(jī)進(jìn)行極線校正,得到第二結(jié)構(gòu)光相機(jī),并獲取第一結(jié)構(gòu)光相機(jī)和所述第二結(jié)構(gòu)光相機(jī)之間的轉(zhuǎn)換矩陣。
進(jìn)一步地,根據(jù)所述轉(zhuǎn)換矩陣將第一參考圖像映射至第二結(jié)構(gòu)光相機(jī)對(duì)應(yīng)的第一坐標(biāo)系中,得到第二參考圖像,包括:
獲取第一參考圖像在第一參考平面上的目標(biāo)投影圖像;
獲取目標(biāo)投影圖像在所述第一結(jié)構(gòu)光相機(jī)對(duì)應(yīng)的第三坐標(biāo)系中的坐標(biāo)信息;
根據(jù)坐標(biāo)信息和轉(zhuǎn)換矩陣,將目標(biāo)投影圖像映射至第二結(jié)構(gòu)光相機(jī)對(duì)應(yīng)的第一坐標(biāo)系中,得到第二參考圖像。
進(jìn)一步地,將第二參考圖像變換為第二坐標(biāo)系中的歸一化投影圖像,包括:
利用第二結(jié)構(gòu)光相機(jī)的基線向量,將第二參考圖像變換至第一投影模塊的坐標(biāo)系下,并獲取第二參考圖像在第一投影模塊對(duì)應(yīng)的第二坐標(biāo)系下的坐標(biāo);
將第二參考圖像在第一投影模塊的坐標(biāo)系下的坐標(biāo)沿坐標(biāo)軸進(jìn)行歸一化,獲取歸一化后的投影圖像。
進(jìn)一步地,通過(guò)第二結(jié)構(gòu)光相機(jī)獲取歸一化投影圖像對(duì)應(yīng)的第三參考圖像,包括:
通過(guò)坐標(biāo)縮放將歸一化投影圖像投影至第二參考平面,得到縮放投影圖像;
獲取第二結(jié)構(gòu)光相機(jī)的內(nèi)參,并且根據(jù)內(nèi)參將所述縮放投影圖像映射至第二結(jié)構(gòu)光相機(jī)的成像平面上,得到第三參考圖像。
進(jìn)一步地,利用第二結(jié)構(gòu)光相機(jī)獲取目標(biāo)區(qū)域的目標(biāo)圖像,并與第三參考圖像進(jìn)行視差計(jì)算以獲取深度信息,包括:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于奧比中光科技集團(tuán)股份有限公司,未經(jīng)奧比中光科技集團(tuán)股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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