[發明專利]一種磁粉探傷機的多芯單片機間數據校驗電路及其系統

有效

• 申請號: 202110321259.6
• 申請日: 2021-03-25
• 公開（公告）號: CN113064402B
• 公開（公告）日: 2021-10-26
• 發明（設計）人: 李永建;許怡航
• 申請（專利權）人: 鹽城工學院
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02
• 代理公司: 南京業騰知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 32321
• 代理人: 李靜

本發明公開一種磁粉探傷機的多芯單片機間數據校驗電路及其系統，屬于檢測技術領域，包括與觸摸屏通信和處理電流檢測信號的主單片機、分別控制周向、縱向電流磁化工作的第一次級單片機、第二次級單片機，還包括異或門、或門、第一電阻、第二電阻、第五電阻、第六電阻、第一二極管、第二二極管、第一三極管、第二三極管、第一蜂鳴器和第二蜂鳴器。本發明科學合理，使用安全方便，以硬件方式對傳輸數據進行校驗，方法更快速，不占用CPU，而且通過發光二極管和蜂鳴器還能提供聲光報警，提醒工作人員注意。本發明還采用冗余方案，在提醒工作人員主要數據傳輸錯誤的同時，做出進一步的處理，避免系統傳輸出錯后影響數據傳輸。

技術領域

本發明涉及檢測技術領域，具體是一種磁粉探傷機的多芯單片機間數據校驗電路及其系統。

背景技術

磁粉探傷機經常需要周向和縱向電流進行同時磁化，需要極高的實時性，在開發的時候多采用三芯單片機。目前，三片單片機間的通信有許多種，由于磁粉探傷機在磁化時對時序要求過高，經常采用并行通信的方法，提高通信速度。在數據傳輸過程中，不可避免的是出現傳輸誤差，采用奇偶校驗要犧牲一半的數據容量，不適合探傷機的多單片機間傳輸數據的效驗；采用CRC效驗卻無法對單一數據進行效驗，無法保證實時的單個數據是否出錯，不能滿足磁粉探傷機這種實時性要求高的場合。所以，人們需要一種磁粉探傷機的多芯單片機間數據校驗電路來解決上述問題。

發明內容

發明目的：本發明目的在于針對現有技術，提供一種磁粉探傷機的多芯單片機間數據校驗電路及其系統解決的數據校驗實時性要求高問題。

技術方案：本發明所述一種磁粉探傷機的多芯單片機間數據校驗電路，包括與觸摸屏通信和處理電流檢測信號的主單片機、分別控制周向、縱向電流磁化工作的第一次級單片機、第二次級單片機，還包括異或門、或門、第一電阻、第二電阻、第五電阻、第六電阻、第一二極管、第二二極管、第一三極管、第二三極管、第一蜂鳴器和第二蜂鳴器；

所述主單片機與第一次級單片機相連，傳輸第一完全數據和用于校驗的第一完全數據的第一輸幅值校驗位數據；所述主單片機與第二次級單片機相連，傳輸第二完全數據和用于檢驗第二完全數據的第二幅值校驗位數據；所述主單片機還通過IIC通信傳輸冗余電流參數數據；

所述主單片機、第一次級單片機與異或門相連，將第一完全數據和第一幅值校驗位數據送入異或門校驗，各數據輸出、合并并送至或門，第一完全數據和第二幅值校驗位數據之間的差異使得異或門和或門輸出高電平；所述異或門、或門與第一電阻和第二電阻相連，第一電阻和第二電阻與第一二極管相連，第一二極管和第一三極管相連，第一三極管和第一蜂鳴器相連，高電平驅動第一二極管和第一三極管點亮、第一蜂鳴器蜂鳴，發出報警信息；所述第一次級單片機對高電平做出反饋，接收主單片機通過IIC通信傳輸的冗余電流參數數據，直至數據正常；

所述主單片機、第二次級單片機與異或門相連，將第二完全數據和第二幅值校驗位數據送入異或門校驗，各數據輸出、合并并送至或門，第二完全數據和第二幅值校驗位數據之間的差異使得異或門和或門輸出高電平；所述異或門、或門與第五電阻和第六電阻相連，第五電阻和第六電阻與第二二極管相連，第二二極管和第二三極管相連，第二三極管和第二蜂鳴器相連，高電平驅動第二二極管和第二三極管點亮、第二蜂鳴器蜂鳴，發出報警信息；所述第二次級單片機對高電平做出反饋，接收主單片機通過IIC通信傳輸的冗余電流參數數據，直至數據正常。

優選的，所述主單片機F端口的第0～15個引腳與第一次級單片機F端口的第0～15個引腳相連，所述主單片機C端口第0～7個引腳與第一次級單片機C端口的第0～7個引腳相連；所述主單片機G端口的第0～15個引腳與第二次級單片機G端口的第0～15個引腳相連，所述主單片機D端口的第0～7引腳與第二次級單片機D端口的第0～7個引腳相連。

優選的，所述主單片機C端口的第0～7個引腳、第一次級單片機F端口的第0～7個引腳與異或門相連；所述主單片機D端口的第0～7個引腳和第二次級單片機G端口的第0～7個引腳與異或門相連。