[發明專利]一種二維分區測向通道校正的方法及系統

有效

• 申請號: 202110320023.0
• 申請日: 2021-03-25
• 公開（公告）號: CN113219396B
• 公開（公告）日: 2022-07-15
• 發明（設計）人: 李釗;劉濤;任鋒;梁龍龍;郎少波;吳自新;羅紹彬;龔小立
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第二十九研究所
• 主分類號: G01S3/02
• 分類號: G01S3/02
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214
• 代理人: 賈年龍

1.一種二維分區測向通道校正的方法，其特征在于，包括步驟：

S1，通過信號源輸出射頻信號給喇叭天線輻射，喇叭天線法線正對寬帶射頻系統的二維天線的中心法線方向；

S2，二維天線將收到的信號送給前端接收模塊，二維天線中每個天線收到的信號的強度和角度進行相加和相減，得到和信號、方位差信號和俯仰差信號；

S3，再將和信號、方位差信號和俯仰差信號通過相應的通道傳輸給開關組件，開關組件再根據不同的系統功能切換至不同的射頻通道，傳輸給后級變頻組件；

S4，后級變頻組件將收到的和信號、方位差信號和俯仰差信號進行下變頻至中頻信號，傳遞給后級數字處理；

S5，后級數字處理通過計算機處理模塊的控制和處理，將各個頻點的和信號、方位差信號和俯仰差信號進行校正歸一化。

2.根據權利要求1所述的一種二維分區測向通道校正的方法，其特征在于，包括步驟：

S6，按頻率步進將步驟S2~步驟S5得到的校正值形成全頻段的校正表，并且下發給數字處理單元使用。

3.根據權利要求2所述的一種二維分區測向通道校正的方法，其特征在于，包括步驟：

S7，二次校正檢查，再次發送開始校正命令，檢查在啟用得到的校正表后，通道幅度是否校平，通道間相位差是否歸零。

4.根據權利要求1所述的一種二維分區測向通道校正的方法，其特征在于，在步驟S1中，在屏蔽室里通過信號源輸出射頻信號給喇叭天線輻射。

5.根據權利要求1~4任一所述的一種二維分區測向通道校正的方法，其特征在于，在步驟S1中，所述二維天線由四個獨立天線組成。

6.一種二維分區測向通道校正的系統，其特征在于，基于權利要求1所述二維分區測向通道校正的方法，還包括：

信號源、喇叭天線、二維天線、前端接收模塊、開關組件、變頻組件、數字處理模塊和計算機處理模塊；所述信號源的輸出端與喇叭天線的輸入端連接，所述喇叭天線的輸出端與二維天線的輸入端連接，所述二維天線的輸出端與前端接收模塊的輸入端連接，所述前端接收模塊的輸出端與開關組件的輸入端連接，所述開關組件的輸出端與變頻組件的輸入端連接，所述變頻組件的輸出端與數字處理模塊的輸入端連接，所述數字處理模塊的輸入輸出端與計算機處理模塊的輸入輸出端連接，所述數字處理模塊的輸出端將校準信號輸入到所述前端接收模塊。