[發明專利]一種側向光光纖透鏡的測量裝置及其測量方法

在審

• 申請號: 202110319929.0
• 申請日: 2021-03-25
• 公開（公告）號: CN113029527A
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發明（設計）人: 王正義;魏魯明;侯利平;吳振英;張林濤
• 申請（專利權）人: 蘇州阿格斯醫療技術有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京彩和律師事務所 11688
• 代理人: 劉磊;閆桑田

本申請公開了一種側向光光纖透鏡的測量裝置，包括XZ移動平臺和XY移動平臺，XZ移動平臺上設置有可旋轉地容納管件，XY移動平臺上設置有光探測卡，光探測卡的下方設置有光功率探頭，且光探測卡的高度小于容納管件的高度。本申請還提供采用側向光光纖透鏡的測量裝置測量側向光光纖透鏡的出光角度和發散角的方法。本申請提供的側向光光纖透鏡的測量裝置，可以測量側向光光纖透鏡的出光角度以及發散角，通過容納管件可以旋轉光纖透鏡，并通過XZ移動平臺可以調整光纖透鏡的位置和高度，從而改變光纖透鏡出光方向，然后利用激光的高單色性、高方向性等特點，并通過光探測卡以及光功率探頭，定位光斑投影落點，測量出光角度、發散角度。

技術領域

本申請涉及光纖技術領域，具體涉及一種側向光光纖透鏡的測量裝置及其測量方法。

背景技術

光學相干斷層掃描技術(Optical Coherence Tomography，簡稱OCT)是近年來發展較快的一種最具發展前途的新型層析成像技術，特別是在生物組織活體檢測和成像方面具有誘人的應用前景，已嘗試在心內科、眼科、牙科和皮膚科的臨床診斷中應用，是繼X-CT和MRI技術之后的又一大技術突破，近年來已得到了迅速的發展，基于該技術的光學干涉斷層成像系統可使人們獲得微米量級空間分辨率的超高清影像。光學干涉斷層成像系統掃描用的成像導管常常是基于側向光光纖透鏡，與此同時，側向光光纖透鏡的出光角度和發散角度等關鍵指標的測量成為此技術領域的重要課題。

目前現有技術中的并沒有統一的有關于側向光光纖透鏡的出光角度和發散角度的測量裝置以及測量方法，因此研究一種方便、易行準確率高的測量方法以及裝置是該領域亟待解決的問題之一。

發明內容

針對，本申請提出一種側向光光纖透鏡的測量裝置，以及采用該測量裝置測量所述光纖透鏡的出光角度以及發散角，通過所述測量裝置，旋轉和移動光纖透鏡，從而改變和移動光纖透鏡出光方向，然后利用激光的高單色性、高方向性等特點，并通過特殊光探測卡，定位光斑投影落點，測量出光角度、發散角度。

本申請提供如下技術方案。

1、一種側向光光纖透鏡的測量裝置，其特征在于，包括XZ移動平臺和XY移動平臺，所述XZ移動平臺上設置有可旋轉的容納管件，所述XY移動平臺上設置有光探測卡，所述光探測卡的下方設置有光功率探頭，且所述光探測卡的高度小于所述容納管件的高度。

2、根據項1所述的測量裝置，其特征在于，在所述XZ移動平臺和XY移動平臺之間還設置有固定底座，且所述固定底座上設置有卡槽，所述卡槽內設置有所述光功率探頭。

3、根據項2所述的測量裝置，其特征在于，所述光探測卡的第一端固定在所述XY移動平臺上，所述光探測卡的第二端位于所述卡槽的上方；

所述XY移動平臺上具有帶刻度旋鈕，用于記錄所述光探測卡沿X軸方向和/或Y軸方向移動的相對距離。

4、根據項2所述的測量裝置，其特征在于，所述光探測卡為矩形片，在所述光探測卡的第二端處具有正方形標識區，且所述正方形標識區位于所述卡槽上方；所述正方形標識區的面積不小于光功率探頭探測面的面積。

5、根據項1所述的測量裝置，其特征在于，所述XZ移動平臺包括固定部、控制部以及升降部，且所述控制部固設于所述固定部上，所述升降部可升縮的設置于所述控制部上。

6、根據項5所述的測量裝置，其特征在于，所述升降部沿Z軸設置有刻度，用于記錄所述升降部的升降高度。

7、根據項5所述的測量裝置，其特征在于，所述升降部的頂端設置有通孔，所述容納管件貫穿所述通孔，且所述容納管件與所述升降部垂直設置。

8、根據項7所述的測量裝置，其特征在于，所述通孔的內徑大于所述容納管件的外徑。

9、根據項7所述的測量裝置，其特征在于，所述升降部上還設置有用于鎖合所述容納管件的卡鎖件。