[發明專利]導電粒子的檢測方法

在審

• 申請號: 202110319251.6
• 申請日: 2021-03-25
• 公開（公告）號: CN113112396A
• 公開（公告）日: 2021-07-13
• 發明（設計）人: 戴斌宇;熊星;張操
• 申請（專利權）人: 蘇州華興源創科技股份有限公司
• 主分類號: G06T3/00
• 分類號: G06T3/00;G06T3/60;G06T7/11;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/187;G06T7/64;G06K9/20
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 仝麗

1.一種導電粒子的檢測方法，其特征在于，包括：

采集導電粒子圖像，所述導電粒子圖像中包括標記圖形和目標區域；所述標記圖形用于定位所述目標區域；

根據所述標記圖形和所述目標區域的相對位置關系，獲取所述導電粒子圖像中的目標區域圖像；

確定所述目標區域圖像中凸點區域的邊緣，并對所述目標區域圖像進行劃分獲取凸點區域圖像；

查找所述凸點區域圖像中的導電粒子；

統計并輸出所述導電粒子的檢測結果。

2.根據權利要求1所述的導電粒子的檢測方法，其特征在于，在根據所述標記圖形和目標區域的相對位置關系，獲取所述導電粒子圖像中的目標區域圖像前，所述方法還包括：

利用所述標記圖形對所述導電粒子圖像進行旋轉校正。

3.根據權利要求2所述的導電粒子的檢測方法，其特征在于，所述導電粒子圖像中包括兩個以上的所述標記圖形，所述利用所述標記圖形對所述導電粒子圖像進行旋轉校正包括：

獲取兩個所述標記圖形的坐標，根據兩個所述標記圖形的坐標獲取所述標記圖形的旋轉校正角度；

根據所述旋轉校正角度，利用仿射變換對所述導電粒子圖像進行校正。

4.根據權利要求1或2所述的導電粒子的檢測方法，其特征在于，所述根據所述標記圖形和目標區域的相對位置關系，獲取所述導電粒子圖像中的目標區域圖像包括：

獲取所述標記圖形和所述目標區域的相對位置關系；

根據所述導電粒子圖像中的所述標記圖形，定位所述導電粒子圖像中的目標區域；

根據所述目標區域對所述導電粒子圖像進行劃分，獲取所述目標區域圖像。

5.根據權利要求1所述的導電粒子的檢測方法，其特征在于，所述確定所述目標區域圖像中凸點區域的邊緣，并對所述目標區域圖像進行劃分獲取凸點區域圖像包括：

獲取所述目標區域圖像中的梯度變換，對所述目標區域圖像進行卷積；

通過所述目標區域圖像的灰度直方圖確定第一預設閾值；

根據所述第一預設閾值對所述目標區域圖像進行二值分割，獲取所述目標區域圖像的二值圖；

根據所述二值圖的水平垂直投影特征確定所述凸點區域的邊緣參數；

根據所述邊緣參數對所述目標區域圖像進行劃分，獲取凸點區域圖像。

6.根據權利要求1所述的導電粒子的檢測方法，其特征在于，所述查找所述凸點區域圖像中的導電粒子包括：

利用直方圖均衡化增強所述凸點區域圖像的圖像對比度；

對增強圖像對比度后的所述凸點區域圖像求二階導，確定所述凸點區域圖像中的導電粒子區域；

根據所述導電粒子區域中的連通域形位特征尋找所述導電粒子。

7.根據權利要求6所述的導電粒子的檢測方法，其特征在于，所述連通域形位特征包括所述導電粒子區域中的連通域所占的像素寬度、像素高度、中心坐標和平均灰度。

8.根據權利要求7所述的導電粒子的檢測方法，其特征在于，所述根據所述導電粒子區域中的連通域形位特征尋找所述導電粒子包括：

將尋找到的粒子的連通域形位特征分別與第二預設閾值進行比較，判斷尋找到的所述粒子是否為真實的導電粒子。

9.根據權利要求8所述的導電粒子的檢測方法，其特征在于，所述統計并輸出所述導電粒子的檢測結果包括：

對判定為真實粒子的所述導電粒子的大小、數量和分布情況進行統計；所述分布結果包括偏移量。

10.根據權利要求1所述的導電粒子的檢測方法，其特征在于，在所述統計并輸出所述導電粒子的檢測結果后，所述方法還包括：

將所述檢測結果與第三預設閾值進行比較，并根據比較結果判斷導電粒子壓合是否合格。