[發(fā)明專利]一種基于粒子群與遺傳算法聯(lián)合的天線陣列布置優(yōu)化方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110315980.4 | 申請日: | 2021-03-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113191070A | 公開(公告)日: | 2021-07-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 邢振華;梁作賓;吳斌;趙治國;許行;李兆飛;葉俊;代佳佳;郭昱延;韓平;秦松 | 申請(專利權(quán))人: | 國網(wǎng)山東省電力公司泰安供電公司;國家電網(wǎng)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F30/27 | 分類號(hào): | G06F30/27;G06F30/18;G06N3/00;G06N3/12;G06F111/04 |
| 代理公司: | 濟(jì)南舜源專利事務(wù)所有限公司 37205 | 代理人: | 李舜江 |
| 地址: | 271099 山東*** | 國省代碼: | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 粒子 遺傳 算法 聯(lián)合 天線 陣列 布置 優(yōu)化 方法 | ||
1.一種基于粒子群與遺傳算法聯(lián)合的天線陣列布置優(yōu)化方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1:確定優(yōu)化目標(biāo)函數(shù)的步驟,具體為:
以克拉美羅下界CRLB的最小值為目標(biāo)優(yōu)化天線的陣列布置,根據(jù)坐標(biāo)定位和波達(dá)方向估計(jì),確定基于CRLB的優(yōu)化目標(biāo)函數(shù);
S2:確定約束條件的步驟,具體為:
根據(jù)現(xiàn)場檢測區(qū)域確定限制區(qū)域的大小,采用矩形或者圓形兩種形式的限制區(qū)域形式對現(xiàn)場區(qū)域進(jìn)行檢測;
S3:天線陣列優(yōu)化的步驟,具體為:
結(jié)合矩形或者方形的限制區(qū)域形式,通過粒子群算法PSO和遺傳算法GA對坐標(biāo)定位的天線陣列和波達(dá)方向估計(jì)的天線陣列進(jìn)行優(yōu)化處理;
S4:獲得天線陣列最優(yōu)化的步驟,具體為:
采用克拉美羅下屆解析計(jì)算,并結(jié)合陣列尺寸、寬度比以及布置方式,對比矩形、菱形以及Y形陣列的定位性能,獲得天線陣列的最優(yōu)布置方法。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于粒子群與遺傳算法聯(lián)合的天線陣列布置優(yōu)化方法,其特征在于,步驟S1中,克拉美羅下界由Fisher信息矩陣(FIM)的逆計(jì)算求得,F(xiàn)IM由概率密度函數(shù)與時(shí)差定位方程推導(dǎo)得到;傳播速度為c2,時(shí)差估計(jì)誤差為σd2,放電源距離為r4,天線陣列布置方式為M、X′、Y′、Z′,通過對FIM求逆得到距離r與方位角θ的CRLB分別為:
與r2呈正比,而與r無關(guān),說明當(dāng)r較大時(shí)放電源距離誤差迅速增大,但方位角估計(jì)誤差不隨r變化;因CRLB反映估計(jì)參量的方差,計(jì)算中統(tǒng)一轉(zhuǎn)換為其標(biāo)準(zhǔn)差形式,即通過對比不同天線陣列的eCRLB得到最優(yōu)的陣列型式。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于粒子群與遺傳算法聯(lián)合的天線陣列布置優(yōu)化方法,其特征在于,所述步驟S1中,針對坐標(biāo)定位的基于CRLB的優(yōu)化目標(biāo)函數(shù)為:
J=J1+J2+J3 (3)
式中,方位角為J1定義為eCRLB大于et的方位角范圍,設(shè)置時(shí)差誤差閾值et為20%r;J2表示在某一方位角下陰影區(qū)域的上邊界為eCRLB和et兩者中的最小值,該參數(shù)表征eCRLB的整體大小;J3為eCRLB的最小值。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于粒子群與遺傳算法聯(lián)合的天線陣列布置優(yōu)化方法,其特征在于,所述步驟S1中,針對波達(dá)方向估計(jì)的基于CRLB的優(yōu)化目標(biāo)函數(shù)可按以下公式計(jì)算:
CRLB(φ)=[G(B,φ)·P]-1 (5)
式中,方位角為俯仰角為θ,計(jì)算得CRLB分布不隨方位角變化,隨俯仰角增大而增大,eθ隨俯仰角增大而減小,和eθ定位誤差均較小;因此波達(dá)方向估計(jì)的優(yōu)化目標(biāo)函數(shù)采用以下形式:
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種基于粒子群與遺傳算法聯(lián)合的天線陣列布置優(yōu)化方法,其特征在于,所述步驟S2中,對尺寸為a×b的矩形限制區(qū)域,優(yōu)化算法中的個(gè)體采用天線陣元的直角坐標(biāo)編碼,X=[x1,x2,…,xM,y1,y2,…,yM],需要滿足以下限制條件:
對半徑為rc的圓形限制區(qū)域,個(gè)體采用極坐標(biāo)方式編碼,并滿足以下限制條件:
在計(jì)算個(gè)體的適應(yīng)度時(shí),需要將編碼轉(zhuǎn)換為CRLB計(jì)算所需的坐標(biāo)形式。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于國網(wǎng)山東省電力公司泰安供電公司;國家電網(wǎng)有限公司,未經(jīng)國網(wǎng)山東省電力公司泰安供電公司;國家電網(wǎng)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110315980.4/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





