[發(fā)明專利]全尺寸葉片剛度檢測(cè)方法、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110313512.3 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113029479B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-11-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 潘祖金;白宏偉;王國(guó)軍;馬銳 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海電氣風(fēng)電集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01M5/00 | 分類(lèi)號(hào): | G01M5/00;G01B11/24 |
| 代理公司: | 上海元好知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31323 | 代理人: | 張靜潔;曹媛 |
| 地址: | 200241 上海*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 尺寸 葉片 剛度 檢測(cè) 方法 電子設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種全尺寸葉片剛度檢測(cè)方法,其特征在于,包括:
步驟S11、將待檢測(cè)葉片放置在支撐臺(tái)上,在所述待檢測(cè)葉片的驗(yàn)證區(qū)域設(shè)置若干個(gè)測(cè)試點(diǎn);
步驟S12、測(cè)量每一所述測(cè)試點(diǎn)的撓度;
步驟S13、根據(jù)所有所述測(cè)試點(diǎn)的撓度建立葉片撓度曲線函數(shù);
步驟S14、采用所述葉片撓度曲線函數(shù)得到每一所述測(cè)試點(diǎn)的葉片截面的實(shí)測(cè)曲率,將所述實(shí)測(cè)曲率與所述待測(cè)葉片的對(duì)應(yīng)的各個(gè)截面的理論曲率進(jìn)行對(duì)比,得到檢測(cè)結(jié)果;
所述待測(cè)葉片的各個(gè)截面的理論曲率采用如下公式進(jìn)行計(jì)算:
采用如下公式計(jì)算待測(cè)葉片在自身重力作用下,每一所述測(cè)試點(diǎn)受到的剪切力:
式中,表示截面i在擺振方向上的剪切力,表示截面i-1在擺振方向上的剪切力;y表示葉片擺振方向,i表示截面編號(hào),表示截面i-1在擺振方向的分布力,表示截面i在擺振方向的分布力;zi表示截面i距離葉根的長(zhǎng)度;zi-1表示i-1截面距離葉根的長(zhǎng)度;
表示截面i-1在揮舞方向上的剪切力,表示截面i在揮舞方向上的剪切力;x表示葉片揮舞方向,i表示截面編號(hào),表示截面i-1在揮舞方向的分布力,表示截面i在揮舞方向的分布力;
采用如下公式計(jì)算待測(cè)葉片在自身重力作用下,每一所述測(cè)試點(diǎn)受到的彎矩:
式中,表示截面i-1在擺振方向上的彎矩,表示截面i在擺振方向上的彎矩;表示截面i-1在揮舞方向上的彎矩,表示截面i在揮舞方向上的彎矩;
結(jié)合待測(cè)葉片的各個(gè)截面的目標(biāo)剛度采用如下公式計(jì)算所述待測(cè)葉片在自重作用下的各個(gè)截面的理論曲率:
式中,表示截面i在揮舞方向上的曲率;E表示材料的彈性模量;Ix表示揮舞方向的慣性矩;表示截面i在擺振方向上的曲率;Iy表示擺振方向的慣性矩。
2.如權(quán)利要求1所述的全尺寸葉片剛度檢測(cè)方法,其特征在于,所述步驟S12包括:將所述待測(cè)葉片放置在支撐臺(tái)上,得到所述待測(cè)葉片的每一測(cè)試點(diǎn)的初始高度值;受所述待測(cè)葉片自身重力作用后,獲取待測(cè)葉片的每一測(cè)試點(diǎn)的測(cè)量高度值,將每一所述測(cè)試點(diǎn)的初始高度值對(duì)應(yīng)與所述測(cè)試點(diǎn)的測(cè)量高度值相減得到每一所述測(cè)試點(diǎn)的撓度。
3.如權(quán)利要求2所述的全尺寸葉片剛度檢測(cè)方法,其特征在于,所述步驟S13包括:對(duì)所有所述測(cè)試點(diǎn)的撓度進(jìn)行擬合,得到所述葉片撓度曲線函數(shù)如下:
y=a0+a1x+a2x2+...+anxn
式中,y表示為相應(yīng)截面上的撓度,x表示述待測(cè)葉片上各截面與葉根之間的距離,n表示多項(xiàng)式的階數(shù),a0~an分別表示多項(xiàng)式的系數(shù)。
4.如權(quán)利要求3所述的全尺寸葉片剛度檢測(cè)方法,其特征在于,
所述步驟S14包括,對(duì)所述葉片撓度曲線函數(shù)進(jìn)行二階求導(dǎo),得到每一所述測(cè)試點(diǎn)的葉片截面的所述實(shí)測(cè)曲率。
5.如權(quán)利要求1所述的全尺寸葉片剛度檢測(cè)方法,其特征在于,
所述待檢測(cè)葉片的驗(yàn)證區(qū)域占所述待測(cè)葉片長(zhǎng)度70%及以上。
6.如權(quán)利要求1~5中任意一項(xiàng)所述的全尺寸葉片剛度檢測(cè)方法,其特征在于,所述步驟S14包括:在所述待測(cè)葉片的葉根和葉中位置采用兩個(gè)支撐架進(jìn)行支撐,所述待測(cè)葉片、葉根位置處的第一支撐點(diǎn)和葉中位置處的第二支撐點(diǎn)這三者共同構(gòu)成簡(jiǎn)支梁;
所述第一支撐點(diǎn)上設(shè)置有第一稱重傳感器,所述第一稱重傳感器用于采集所述第一支撐點(diǎn)上的第一重量信息;所述第二支撐點(diǎn)上設(shè)置有第二稱重傳感器,所述第二稱重傳感器用于采集所述第二支撐點(diǎn)上的第二重量信息;
根據(jù)所述第一重量信息和所述第二重量信息計(jì)算所述待測(cè)葉片的自重和重心;
根據(jù)所述第一重量信息和所述第二重量信息計(jì)算得到所述第一支撐點(diǎn)上的第一剪切力和所述第二支撐點(diǎn)上的第二剪切力;根據(jù)所述第一剪切力、所述第二剪切力和所述待測(cè)葉片線密度分布得到所述待測(cè)葉片上各個(gè)截面的剪切力。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海電氣風(fēng)電集團(tuán)股份有限公司,未經(jīng)上海電氣風(fēng)電集團(tuán)股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110313512.3/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





