[發(fā)明專利]銅導(dǎo)線的形成方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110309302.7 | 申請日: | 2021-03-23 |
| 公開(公告)號: | CN113078068B | 公開(公告)日: | 2022-04-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃馳;張育龍;王永平;曾海 | 申請(專利權(quán))人: | 長江存儲科技有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | H01L21/48 | 分類號: | H01L21/48 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570 | 代理人: | 遠(yuǎn)明 |
| 地址: | 430205 湖北省武漢*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 導(dǎo)線 形成 方法 | ||
1.一種銅導(dǎo)線的形成方法,其特征在于,包括如下步驟:
提供基底層;
在所述基底層的第一表面上中形成開口;
在所述開口的表面形成銅籽層;
從所述基底層的所述第一表面對所述銅籽層加熱,以使所述銅籽層團(tuán)聚在所述開口中形成銅導(dǎo)線;
其中,在所述從所述基底層的所述第一表面對所述銅籽層加熱的步驟中,所述基底層的第二表面被靜電吸附盤吸附。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的形成方法,其特征在于,所述基底層包括襯底和介質(zhì)層,其中,所述介質(zhì)層在所述襯底上形成;所述在所述基底層的第一表面上中形成開口的步驟,具體包括:
在所述介質(zhì)層的所述第一表面上中形成所述開口。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的形成方法,其特征在于,所述從所述基底層的所述第一表面對所述銅籽層加熱,以使所述銅籽層團(tuán)聚在所述開口中形成銅導(dǎo)線的步驟,具體包括:
在所述基底層的所述第一表面上方提供熱源;
在第一預(yù)設(shè)時(shí)長內(nèi),通過所述熱源以熱輻射的方式加熱所述銅籽層;
在第二預(yù)設(shè)時(shí)長內(nèi),冷卻所述銅籽層以形成所述銅導(dǎo)線。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的形成方法,其特征在于,所述在所述開口的表面形成銅籽層的步驟,包括:
在所述開口的側(cè)面及底面形成過渡層;
在所述過渡層的表面形成所述銅籽層。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的形成方法,其特征在于,在所述對所述銅籽層加熱以形成銅導(dǎo)線的步驟之后,還包括:
采用電化學(xué)鍍銅工藝,在所述銅導(dǎo)線上繼續(xù)生長銅以完全填滿所述開口。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的形成方法,其特征在于,在所述完全填滿所述開口之后,還包括:
在所述銅導(dǎo)線的表面進(jìn)行平坦化工藝,去除所述開口外的多余銅,以使所述銅導(dǎo)線的表面與所述基底層的第一表面平齊。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的形成方法,其特征在于,所述在所述開口的表面形成銅籽層的步驟,具體包括:
采用物理氣相沉積工藝在所述開口的表面形成銅籽層。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的形成方法,其特征在于,所述開口為通過刻蝕工藝對所述基底層進(jìn)行刻蝕以形成。
9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的形成方法,其特征在于,所述熱源為鹵素?zé)簟?/p>
10.根據(jù)權(quán)利要求3所述的形成方法,其特征在于,所述銅籽層在第一預(yù)設(shè)時(shí)長的加熱溫度為300℃~360℃。
11.根據(jù)權(quán)利要求4所述的形成方法,其特征在于,所述過渡層的材料為氮化鉭。
12.根據(jù)權(quán)利要求4所述的形成方法,其特征在于,所述過渡層的厚度為2nm~4nm。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





