[發(fā)明專利]一種避免芯片位置出現(xiàn)偏離的自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110308329.4
• 申請(qǐng)日: 2021-03-23
• 公開（公告）號(hào): CN113075530A
• 公開（公告）日: 2021-07-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張杰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 嘉術(shù)信息科技（上海）有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 北京同輝知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11357
• 代理人: 于晶晶

1.一種避免芯片位置出現(xiàn)偏離的自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備，包括芯片測(cè)驗(yàn)座(1)，其特征在于：所述芯片測(cè)驗(yàn)座(1)的內(nèi)部固定連接有防護(hù)座(2)，所述芯片測(cè)驗(yàn)座(1)的內(nèi)部轉(zhuǎn)動(dòng)連接有驅(qū)動(dòng)座(3)，所述防護(hù)座(2)的內(nèi)部固定連接有芯片卡軌(4)，所述防護(hù)座(2)的內(nèi)部活動(dòng)連接有壓力架(5)，所述壓力架(5)的內(nèi)部活動(dòng)連接有壓力簧(6)，所述壓力架(5)的側(cè)表面活動(dòng)連接有凸形壓座(7)，所述防護(hù)座(2)的內(nèi)部且位于凸形壓座(7)的側(cè)表面活動(dòng)連接有第一壓縮囊座(8)，所述第一壓縮囊座(8)的左右兩側(cè)均貫穿有環(huán)形管道(9)，所述環(huán)形管道(9)的另一端貫穿在第二壓縮囊座(10)的內(nèi)部，所述第二壓縮囊座(10)的內(nèi)部活動(dòng)連接有形變簧(11)，所述第二壓縮囊座(10)的外表面活動(dòng)連接有推座(12)，所述推座(12)的外表面固定連接有弧形扶板(13)，所述第二壓縮囊座(10)的另一側(cè)活動(dòng)連接有嚙合柱(14)，所述防護(hù)座(2)的內(nèi)部固定連接有限位盤(15)，所述限位盤(15)的外表面且位于嚙合柱(14)的另一端轉(zhuǎn)動(dòng)連接有斜軸(16)，所述斜軸(16)的側(cè)表面活動(dòng)連接有嵌入柱(17)，所述嵌入柱(17)的另一側(cè)固定連接有電性板(18)，所述電性板(18)的外表面固定連接有檢測(cè)板(19)，所述防護(hù)座(2)的外表面固定連接有回收架(20)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種避免芯片位置出現(xiàn)偏離的自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于：所述驅(qū)動(dòng)座(3)的內(nèi)部轉(zhuǎn)動(dòng)連接有轉(zhuǎn)軸，所述芯片測(cè)驗(yàn)座(1)的內(nèi)部開設(shè)有與驅(qū)動(dòng)座(3)相適配的槽。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種避免芯片位置出現(xiàn)偏離的自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于：所述防護(hù)座(2)的內(nèi)部開設(shè)有與芯片卡軌(4)相適配的槽，所述防護(hù)座(2)的內(nèi)部開設(shè)有與壓力架(5)相適配的槽。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種避免芯片位置出現(xiàn)偏離的自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于：所述防護(hù)座(2)的內(nèi)部開設(shè)有與第一壓縮囊座(8)相適配的安裝槽，所述第一壓縮囊座(8)的內(nèi)部開設(shè)有與環(huán)形管道(9)相適配的槽，所述第二壓縮囊座(10)的外表面開設(shè)有與環(huán)形管道(9)相適配的槽。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種避免芯片位置出現(xiàn)偏離的自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于：所述弧形扶板(13)的外表面套接有橡膠套，所述弧形扶板(13)設(shè)置在芯片卡軌(4)的兩側(cè)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種避免芯片位置出現(xiàn)偏離的自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備，其特征在于：所述防護(hù)座(2)的內(nèi)部設(shè)置有與嚙合柱(14)相適配的限位架，所述限位盤(15)的外表面設(shè)置有與斜軸(16)相適配的限位槽。