[發(fā)明專利]一種模型生成及電池劣化推測(cè)裝置、方法、介質(zhì)及設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110308218.3 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113219341B | 公開(公告)日: | 2023-04-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳九廷;連源 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 陳九廷;連源 |
| 主分類號(hào): | G01R31/367 | 分類號(hào): | G01R31/367;G01R31/392;G06F30/27 |
| 代理公司: | 北京辰權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11619 | 代理人: | 谷波 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 模型 生成 電池 推測(cè) 裝置 方法 介質(zhì) 設(shè)備 | ||
本公開提供了一種模型生成及電池劣化推測(cè)裝置、方法、介質(zhì)及設(shè)備,其中,模型生成裝置包括:實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)獲取模塊,用于獲取測(cè)量得到的電池?cái)?shù)據(jù),所述電池?cái)?shù)據(jù)指包含:電流、電壓和/或溫度的電池?cái)?shù)據(jù)集;實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊,用于存儲(chǔ)所述實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)獲取模塊獲取的電池?cái)?shù)據(jù);訓(xùn)練數(shù)據(jù)獲取模塊,用于從所述電池?cái)?shù)據(jù)中獲取用于模型訓(xùn)練的訓(xùn)練數(shù)據(jù);預(yù)處理模塊,用于對(duì)所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理;模型訓(xùn)練生成模塊,用于利用所述預(yù)處理模塊處理后的數(shù)據(jù)進(jìn)行模型訓(xùn)練得到訓(xùn)練后的模型;模型存儲(chǔ)模塊,用于存儲(chǔ)所述模型訓(xùn)練生成模塊訓(xùn)練后的模型;模型輸出模塊,用于輸出訓(xùn)練后的模型;模型訓(xùn)練參數(shù)訓(xùn)練模塊,用于訓(xùn)練所述模型訓(xùn)練生成模塊中模型訓(xùn)練的參數(shù)。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開涉及電池技術(shù)領(lǐng)域,更為具體來說,本公開涉及一種模型生成及電池劣化推測(cè)裝置、方法、介質(zhì)及設(shè)備。
背景技術(shù)
近年來蓄電池被用于各種場(chǎng)合,第一個(gè)例子是蓄電池用于車輛等運(yùn)行的交通工具的電源。第二個(gè)例子是,蓄電池用于暫時(shí)存儲(chǔ)剩余電力。
蓄電池再使用時(shí),蓄電池的劣化程度(后文中稱為SOH)的精確計(jì)算十分重要。例如,專利文獻(xiàn)1記載了,使用第1個(gè)時(shí)間點(diǎn)的蓄電池的SOH,推測(cè)之后的第2個(gè)時(shí)間點(diǎn)的SOH的內(nèi)容。還有專利文獻(xiàn)2中記載了,使用第1時(shí)間點(diǎn)的蓄電池SOH和第1時(shí)間點(diǎn)之后的第2時(shí)間點(diǎn)的蓄電池狀態(tài)相關(guān)的時(shí)間序列的數(shù)據(jù),推測(cè)第2時(shí)間點(diǎn)的SOH的內(nèi)容。相關(guān)的專利文獻(xiàn)有:
【專利文獻(xiàn)1】國(guó)際公開第2019/181728號(hào);
【專利文獻(xiàn)2】國(guó)際公開第2019/181729號(hào)。
發(fā)明內(nèi)容
為解決現(xiàn)有技術(shù)不能高度精確地推測(cè)蓄電池未來劣化程度的技術(shù)問題。
為實(shí)現(xiàn)上述技術(shù)目的,本公開提供了一種模型生成裝置,包括:
實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)獲取模塊,用于獲取測(cè)量得到的電池?cái)?shù)據(jù),其中,所述電池?cái)?shù)據(jù)指包含:電流、電壓和/或溫度的電池?cái)?shù)據(jù)集;
實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊,用于存儲(chǔ)所述實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)獲取模塊獲取的電池?cái)?shù)據(jù);
訓(xùn)練數(shù)據(jù)獲取模塊,用于從所述電池?cái)?shù)據(jù)中獲取用于模型訓(xùn)練的訓(xùn)練數(shù)據(jù);
預(yù)處理模塊,用于對(duì)所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理;
模型訓(xùn)練生成模塊,用于利用所述預(yù)處理模塊處理后的數(shù)據(jù)進(jìn)行模型訓(xùn)練得到訓(xùn)練后的模型;
模型存儲(chǔ)模塊,用于存儲(chǔ)所述模型訓(xùn)練生成模塊訓(xùn)練后的模型;
模型輸出模塊,用于輸出訓(xùn)練后的模型;
還包括:
模型訓(xùn)練參數(shù)訓(xùn)練模塊,用于訓(xùn)練所述模型訓(xùn)練生成模塊中模型訓(xùn)練的參數(shù)。
進(jìn)一步,所述實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)獲取模塊還用于:
獲取經(jīng)劣化推測(cè)裝置推測(cè)后的電池?cái)?shù)據(jù)。
進(jìn)一步,所述模型訓(xùn)練參數(shù)訓(xùn)練模塊具體包括:
利用深度學(xué)習(xí)模型、機(jī)械學(xué)習(xí)模型和/或線性回歸分析方法對(duì)所述模型訓(xùn)練生成模塊中的參數(shù)進(jìn)行訓(xùn)練。
進(jìn)一步,所述深度學(xué)習(xí)模型具體包括:
深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),循環(huán)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),遞歸神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),長(zhǎng)短期記憶網(wǎng)絡(luò)和/或雙向長(zhǎng)短期記憶網(wǎng)絡(luò)。
進(jìn)一步,還包括:
驗(yàn)證模塊,用于驗(yàn)證訓(xùn)練后的所述模型是否正確。
為實(shí)現(xiàn)上述技術(shù)目的,本公開還能夠提供一種電池劣化推測(cè)裝置,包括:
模型獲取模塊,用于從上述的模型生成裝置中獲取訓(xùn)練后的模型;
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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