[發明專利]一種面板缺陷檢測設備有效
| 申請號: | 202110305681.2 | 申請日: | 2021-03-19 |
| 公開(公告)號: | CN113176277B | 公開(公告)日: | 2022-12-27 |
| 發明(設計)人: | 王紹凱;黃運;羅川淦;譚久彬 | 申請(專利權)人: | 哈工大機器人(中山)無人裝備與人工智能研究院 |
| 主分類號: | G01N21/95 | 分類號: | G01N21/95;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京隆源天恒知識產權代理有限公司 11473 | 代理人: | 段守富 |
| 地址: | 528400 廣東省中山市翠亨新區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 面板 缺陷 檢測 設備 | ||
1.一種面板缺陷檢測設備,其特征在于,包括承載臺、第一龍門(5)、第二龍門(6)、調平機構、初檢機構(7)和復檢機構(8),所述承載臺用于承載待測面板(9)并驅動所述待測面板(9)運動,所述第一龍門(5)的兩端和所述第二龍門(6)的兩端分別通過所述調平機構連接于所述承載臺上,所述調平機構適于升降,所述初檢機構(7)設于所述第一龍門(5)上,所述初檢機構(7)適于在所述第一龍門(5)上移動,所述復檢機構(8)設于所述第二龍門(6)上,所述復檢機構(8)適用在所述第二龍門(6)上移動,所述初檢機構(7)用于掃描所述待測面板(9),和所述復檢機構(8)用于對所述待測面板(9)進行復檢,所述復檢機構(8)包括第二對焦裝置(81)和設于所述第二對焦裝置(81)上的復掃相機(82),所述第二對焦裝置(81)包括活動板(818)、兩個第三測距傳感器、音圈電機(811)、第一測距傳感器(815)、位置編碼器(816)、處理器、連接板(817)和重力補償機構(812),所述復掃相機(82)適于設于所述活動板(818)上,兩個所述第三測距傳感器與所述活動板(818)下端邊緣的距離相同,所述音圈電機(811)、所述第一測距傳感器(815)和所述位置編碼器(816)分別與所述處理器電連接,所述第一測距傳感器(815)用于監測所述復掃相機(82)與所述待測面板(9)的間隔距離并反饋所述間隔距離給所述處理器,所述位置編碼器(816)用于監測所述復掃相機(82)的位置信息并反饋所述位置信息給所述處理器,所述音圈電機(811)用于驅動所述復掃相機(82)運動,所述處理器用于根據所述間隔距離、所述位置信息和預知的所述復掃相機(82)的最佳成像距離控制所述音圈電機(811),所述位置編碼器(816)、所述第一測距傳感器(815)和所述處理器構成閉環控制,所述位置編碼器(816)設于所述活動板(818)上,所述第一測距傳感器(815)設于所述復掃相機(82)上,所述復掃相機(82)用于對所述待測面板(9)進行復檢,所述第二對焦裝置(81)用于監測所述復掃相機(82)與所述待測面板(9)的距離,并根據所述復掃相機(82)與所述待測面板(9)的距離使所述復掃相機(82)相對所述第二龍門(6)垂向運動,以使所述復掃相機(82)與所述待測面板(9)的距離為所述復掃相機(82)的最佳成像距離,所述音圈電機(811)定子設于所述連接板(817)上,所述音圈電機(811)動子與所述活動板(818)連接,所述活動板(818)適于相對所述連接板(817)垂向運動,所述音圈電機(811)用于驅動所述活動板(818)運動,以帶動所述復掃相機(82)運動,所述重力補償機構(812)用于輸出一個與所述復掃相機(82)的重力方向相反的恒力。
2.根據權利要求1所述的面板缺陷檢測設備,其特征在于,所述承載臺包括承載架(1)和設于所述承載架(1)上的氣浮機構(2),所述氣浮機構(2)用于懸浮支撐所述待測面板(9)。
3.根據權利要求2所述的面板缺陷檢測設備,其特征在于,所述氣浮機構(2)包括氣浮臺(21)和氣浮條(22),所述氣浮臺(21)和所述氣浮條(22)用于懸浮支撐所述待測面板(9),所述承載架(1)包括依次設置的第一支架(11)、第二支架(12)和第三支架(13),所述第一支架(11)和所述第三支架(13)上設有所述氣浮條(22),所述第二支架(12)上設有所述氣浮臺(21),所述初檢機構(7)和/或所述復檢機構(8)掃描所述待測面板(9)時,所述待測面板(9)懸浮于所述氣浮臺(21)上。
4.根據權利要求3所述的面板缺陷檢測設備,其特征在于,所述承載臺還包括面板夾持機構(3),所述面板夾持機構(3)用于帶動所述待測面板(9)在所述承載臺上運動。
5.根據權利要求4所述的面板缺陷檢測設備,其特征在于,所述面板夾持機構(3)包括吸附機構(34),所述吸附機構(34)適于垂向吸附所述待測面板(9),并適于帶動所述待測面板(9)移動。
6.根據權利要求5所述的面板缺陷檢測設備,其特征在于,所述承載臺還包括預定位機構(4),所述預定位機構(4)用于對所述待測面板(9)進行位置矯正。
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