[發(fā)明專利]存儲(chǔ)器失效地址的輸出方法及相關(guān)設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110303962.4 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112927751B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-09-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張朝鋒;王春娟 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安紫光國(guó)芯半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G11C29/56 | 分類(lèi)號(hào): | G11C29/56 |
| 代理公司: | 北京眾達(dá)德權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11570 | 代理人: | 吳瑩 |
| 地址: | 710075 陜西省西安*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 存儲(chǔ)器 失效 地址 輸出 方法 相關(guān) 設(shè)備 | ||
1.一種存儲(chǔ)器失效地址的輸出方法,其特征在于,包括:
獲取目標(biāo)存儲(chǔ)器的結(jié)構(gòu)信息,其中,所述目標(biāo)存儲(chǔ)器為經(jīng)測(cè)試設(shè)備測(cè)試后的存儲(chǔ)器,所述結(jié)構(gòu)信息包括所述目標(biāo)存儲(chǔ)器的層級(jí)間對(duì)應(yīng)關(guān)系以及每個(gè)層級(jí)包含的存儲(chǔ)單元個(gè)數(shù),所述層級(jí)包括存儲(chǔ)器、存儲(chǔ)塊、子塊以及行列,所述層級(jí)對(duì)應(yīng)關(guān)系中包含所述存儲(chǔ)器、存儲(chǔ)塊、子塊以及所述行列間的關(guān)系,其中,所述存儲(chǔ)器至少包含一個(gè)所述存儲(chǔ)塊,所述存儲(chǔ)塊至少包含一個(gè)所述子塊,所述子塊至少包含一個(gè)行列,所述一個(gè)行列至少包含一個(gè)所述存儲(chǔ)單元;
根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)記錄失效信息,其中,所述測(cè)試數(shù)據(jù)為所述測(cè)試設(shè)備對(duì)所述目標(biāo)存儲(chǔ)器測(cè)試后得到的失效地址,所述失效信息包含所述目標(biāo)存儲(chǔ)器中每個(gè)所述層級(jí)包含的失效地址數(shù)量;
根據(jù)所述失效信息按照所述層級(jí)進(jìn)行分析,確定目標(biāo)存儲(chǔ)器的失效類(lèi)型,其中,所述失效類(lèi)型包括第一失效類(lèi)型及第二失效類(lèi)型,所述第一失效類(lèi)型用于表征所述目標(biāo)存儲(chǔ)器中失效單元按照整個(gè)所述層級(jí)失效,所述第二失效類(lèi)型用于表征所述失效單元呈散點(diǎn)分布;
根據(jù)預(yù)設(shè)輸出策略,按照所述第一失效類(lèi)型選取對(duì)應(yīng)的輸出方式進(jìn)行輸出,其中,所述預(yù)設(shè)輸出策略中包含有所述第一失效類(lèi)型對(duì)應(yīng)的輸出方式。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)記錄失效信息,包括:
根據(jù)所述測(cè)試數(shù)據(jù)分別確定每個(gè)所述層級(jí)的失效地址數(shù)量;
按照所述層級(jí)統(tǒng)計(jì)對(duì)應(yīng)各個(gè)所述層級(jí)的失效地址數(shù)量,得到所述失效信息。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一失效類(lèi)型包括存儲(chǔ)器失效、存儲(chǔ)塊失效、子塊失效以及行列失效;
所述根據(jù)所述失效信息按照所述層級(jí)進(jìn)行分析,確定目標(biāo)存儲(chǔ)器的失效類(lèi)型包括:
按照所述層級(jí)對(duì)應(yīng)關(guān)系,判斷所述目標(biāo)存儲(chǔ)器是否符合所述第一失效類(lèi)型對(duì)應(yīng)的失效條件;
若是,則確定所述目標(biāo)存儲(chǔ)器的失效類(lèi)型為所述第一失效類(lèi)型。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述失效條件包括:存儲(chǔ)器失效條件對(duì)應(yīng)的失效地址數(shù)量、存儲(chǔ)塊失效條件對(duì)應(yīng)的失效地址數(shù)量、子塊失效條件對(duì)應(yīng)的失效地址數(shù)量,以及行列失效條件對(duì)應(yīng)的失效地址數(shù)量;
所述按照所述層級(jí)對(duì)應(yīng)關(guān)系,判斷所述目標(biāo)存儲(chǔ)器是否符合所述第一失效類(lèi)型對(duì)應(yīng)的失效條件,包括:
根據(jù)所述層級(jí)對(duì)應(yīng)關(guān)系,按照層級(jí)順序依次確定所述目標(biāo)存儲(chǔ)器是否滿足所述存儲(chǔ)器失效條件對(duì)應(yīng)的失效地址數(shù)量、所述存儲(chǔ)塊失效條件對(duì)應(yīng)的失效地址數(shù)量、所述子塊失效條件對(duì)應(yīng)的失效地址數(shù)量,以及所述行列失效條件對(duì)應(yīng)的失效地址數(shù)量;
所述判斷所述目標(biāo)存儲(chǔ)器符合所述第一失效類(lèi)型對(duì)應(yīng)的失效條件,則確定所述目標(biāo)存儲(chǔ)器的失效類(lèi)型為所述第一失效類(lèi)型,包括:
當(dāng)所述目標(biāo)存儲(chǔ)器滿足所述存儲(chǔ)器失效條件對(duì)應(yīng)的失效地址數(shù)量時(shí),確定所述目標(biāo)存儲(chǔ)器符合所述第一失效類(lèi)型中的所述存儲(chǔ)器失效;
當(dāng)所述目標(biāo)存儲(chǔ)器不滿足所述存儲(chǔ)器失效條件對(duì)應(yīng)的失效地址數(shù)量,但滿足所述存儲(chǔ)塊失效條件對(duì)應(yīng)的失效地址數(shù)量時(shí),確定所述目標(biāo)存儲(chǔ)器符合所述第一失效類(lèi)型中的所述存儲(chǔ)塊失效;
當(dāng)所述目標(biāo)存儲(chǔ)器不滿足所述存儲(chǔ)器失效條件對(duì)應(yīng)的失效地址數(shù)量及所述存儲(chǔ)塊失效條件對(duì)應(yīng)的失效地址數(shù)量,但滿足所述子塊失效條件對(duì)應(yīng)的失效地址數(shù)量時(shí),確定所述目標(biāo)存儲(chǔ)器符合所述第一失效類(lèi)型中的所述子塊失效;
當(dāng)所述目標(biāo)存儲(chǔ)器不滿足所述存儲(chǔ)器失效條件對(duì)應(yīng)的失效地址數(shù)量、所述存儲(chǔ)塊失效條件對(duì)應(yīng)的失效地址數(shù)量以及所述子塊失效條件對(duì)應(yīng)的失效地址數(shù)量,但滿足所述行列失效條件對(duì)應(yīng)的失效地址數(shù)量時(shí),確定所述目標(biāo)存儲(chǔ)器符合所述第一失效類(lèi)型中的所述行列失效。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,按照所述層級(jí)對(duì)應(yīng)關(guān)系,判斷所述目標(biāo)存儲(chǔ)器是否符合所述第一失效類(lèi)型對(duì)應(yīng)的失效條件之后,所述方法還包括:
若確定所述目標(biāo)存儲(chǔ)器不符合所述第一失效類(lèi)型,且確定所述目標(biāo)存儲(chǔ)器存在失效地址時(shí),則確定所述目標(biāo)存儲(chǔ)器的失效類(lèi)型為所述第二失效類(lèi)型。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于西安紫光國(guó)芯半導(dǎo)體有限公司,未經(jīng)西安紫光國(guó)芯半導(dǎo)體有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110303962.4/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類(lèi)專利
- 專利分類(lèi)
G11C 靜態(tài)存儲(chǔ)器
G11C29-00 存儲(chǔ)器正確運(yùn)行的校驗(yàn);備用或離線操作期間測(cè)試存儲(chǔ)器
G11C29-02 .損壞的備用電路的檢測(cè)或定位,例如,損壞的刷新計(jì)數(shù)器
G11C29-04 .損壞存儲(chǔ)元件的檢測(cè)或定位
G11C29-52 .存儲(chǔ)器內(nèi)量保護(hù);存儲(chǔ)器內(nèi)量中的錯(cuò)誤檢測(cè)
G11C29-54 .設(shè)計(jì)檢測(cè)電路的裝置,例如,可測(cè)試性設(shè)計(jì)
G11C29-56 .用于靜態(tài)存儲(chǔ)器的外部測(cè)試裝置,例如,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
- 用于控制非易失性存儲(chǔ)器的控制器
- 處理器、存儲(chǔ)器、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、系統(tǒng)LSI及其驗(yàn)證方法
- 存儲(chǔ)和檢索處理系統(tǒng)的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器系統(tǒng)和性能監(jiān)視方法
- 用于控制半導(dǎo)體裝置的方法
- 存儲(chǔ)器存儲(chǔ)裝置及其測(cè)試方法
- 存儲(chǔ)器裝置及可促進(jìn)張量存儲(chǔ)器存取的方法
- 使用雙通道存儲(chǔ)器作為具有間隔的單通道存儲(chǔ)器
- 用于管理存儲(chǔ)器訪問(wèn)操作的方法和系統(tǒng)
- 存儲(chǔ)器控制器、存儲(chǔ)裝置和存儲(chǔ)裝置的操作方法
- 具有部分組刷新的存儲(chǔ)器
- 備用線分配裝置、存儲(chǔ)器修補(bǔ)裝置、備用線分配方法、存儲(chǔ)器制造方法和程序
- 車(chē)輛失效分析系統(tǒng)、車(chē)輛失效分析設(shè)備及車(chē)輛失效分析方法
- 失效檢測(cè)方法以及失效檢測(cè)裝置
- 電子產(chǎn)品失效分析方法
- 元器件失效分析專家系統(tǒng)中失效分析流程構(gòu)建方法及系統(tǒng)
- 基于失效機(jī)理的元器件FMEA分析方法與系統(tǒng)
- 關(guān)聯(lián)失效影響下的頁(yè)巖氣壓裂管柱風(fēng)險(xiǎn)排序方法及裝置
- 材料失效分析方法
- 產(chǎn)品失效知識(shí)庫(kù)建立方法與失效分析方法、裝置、介質(zhì)
- 功率器件的失效分析方法





