[發明專利]一種飛機缺陷評估用的對比試塊及其使用方法

有效

• 申請號: 202110302562.1
• 申請日: 2021-03-22
• 公開（公告）號: CN113109429B
• 公開（公告）日: 2023-09-19
• 發明（設計）人: 汪榮華;盧新亮;張鄭浩;范鑫;張平
• 申請（專利權）人: 國營蕪湖機械廠
• 主分類號: G01N27/90
• 分類號: G01N27/90
• 代理公司: 北京匯信合知識產權代理有限公司 11335
• 代理人: 王帥

1.一種飛機缺陷評估用的對比試塊的使用方法，該飛機缺陷評估用的對比試塊具體為水平筋條、豎直筋條與壁板交接匯合處切割外部線條吻合的三角狀對比試塊，對比試塊上設置有用于標記缺陷的標記一(1)-標記九(9)，對比試塊上的筋條部位設置有用于裝配螺栓的若干組螺栓孔(10)，其特征在于：使用方法的具體步驟如下：

S1：從報廢的飛機中央翼中選取水平筋條、豎直筋條與壁板交接匯合處切割基材作為試塊制作的原材料；

S2：在標記一(1)-標記九(9)標記位置加工九個缺陷；

S3：螺栓孔處標記七(7)-標記九(9)標記位置表面水平方向和豎直方向分別加工缺陷，標記七(7)-標記九(9)標記位置加工完缺陷后，3處位置裝配統一規格螺栓和墊片，使得標記七(7)-標記九(9)位置水平方向外露出墊片外裂紋長度2mm，豎直方向外露出墊片外裂紋長度為4mm；

S4：飛機筋條和R角渦流探傷：

a：首先使用高頻渦流點探頭KAS-34H-66.10.1，探頭外徑尺寸為3mm，分別在七號缺陷和一號缺陷位置標定檢測靈敏度；

b：探傷飛機筋條時，調節渦流設備參數，探頭輕輕劃過七號缺陷，信號阻抗幅值達到屏幕滿刻度的20％時為剛好，此時可以檢測飛機筋條表面質量狀況；

c：當掃查飛機筋條表面渦流設備屏幕出現幅值信號時，比對信號是否達到20％幅值，使用高頻點探頭輕輕重復來回掃查缺陷，觀察信號幅值；

d：使用高頻點探頭輕輕重復來回掃查七號缺陷、八號缺陷和九號缺陷，對比筋條上缺陷的信號幅值與試塊上七號缺陷-九號缺陷幅值的大小；

e：筋條上缺陷的信號幅值高度大小最接近試塊上幾號缺陷幅值高度，則可評估飛機筋條該處缺陷深度和大小；

f：當該處缺陷信號幅值遠超過對比試塊9號缺陷幅值時，則可直接評估該處缺陷達到報廢的水平，大曲率R角弧度上的缺陷評估遵行同樣的辦法。

2.根據權利要求1所述的一種飛機缺陷評估用的對比試塊的使用方法，其特征在于：所述的步驟S2的標記一(1)-標記九(9)與一號缺陷-九號缺陷一一對應。

3.根據權利要求1所述的一種飛機缺陷評估用的對比試塊的使用方法，其特征在于：所述的一號缺陷、二號缺陷、三號缺陷位于大曲率圓弧R與水平筋條相切的位置，四號缺陷、五號缺陷、六號缺陷位于大曲率R弧的表面正中間位置。

4.根據權利要求1所述的一種飛機缺陷評估用的對比試塊的使用方法，其特征在于：所述的步驟S2中一號缺陷和四號缺陷規格為：深度0.2±0.02mm，長度5±0.05mm；二號缺陷和五號缺陷規格為：深度0.3±0.03mm，長度5±0.05mm；三號缺陷和六號缺陷規格為：深度0.5±0.05mm，長度5±0.05mm；七號位置缺陷規格為：水平方向深度0.2±0.02mm，長度4±0.04mm，豎直方向深度0.2±0.02mm，長度6±0.06mm；八號缺陷規格為：水平方向深度0.3±0.03mm，長度4±0.04mm，豎直方向深度0.3±0.03mm，長度6±0.06mm；九號缺陷規格為：水平方向深度0.5±0.05mm，長度4±0.04mm，豎直方向深度0.5±0.05mm，長度6±0.06mm。

5.根據權利要求1所述的一種飛機缺陷評估用的對比試塊的使用方法，其特征在于：所述的步驟S3的3處位置分別為標記七(7)、標記八(8)、標記九(9)的3個螺栓孔。

6.根據權利要求1所述的一種飛機缺陷評估用的對比試塊的使用方法，其特征在于：所述的步驟S4的c中未達到20％幅值，則能夠判斷為表面狀態干擾信號。

7.根據權利要求1所述的一種飛機缺陷評估用的對比試塊的使用方法，其特征在于：所述的步驟S4的c中幅值超過20％，則能夠判定此處存在缺陷。