[發明專利]尺寸檢測方法及尺寸檢測系統有效
| 申請號： | 202110302554.7 | 申請日： | 2021-03-22 |
| 公開（公告）號： | CN113218303B | 公開（公告）日： | 2023-03-14 |
| 發明（設計）人： | 郭敬 | 申請（專利權）人： | 蘇州世椿新能源技術有限公司 |
| 主分類號： | G01B11/00 | 分類號： | G01B11/00;G06T7/70 |
| 代理公司： | 深圳壹舟知識產權代理事務所(普通合伙) 44331 | 代理人： | 歐志明 |
| 地址： | 215600 江蘇省蘇州市張*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 尺寸 檢測 方法 系統 | ||
本發明適用于數據處理，提供了一種尺寸檢測方法，包括：獲取待測物的3D掃描數據；將所述3D掃描數據按照預設方式進行轉換，得到平面圖像；獲取所述平面圖像的目標定位點，根據所述目標定位點和預設檢測軌跡獲取所述平面圖像中所述待測物的若干基準點；根據若干所述基準點進行計算，得到所述待測物的檢測結果。本發明實施例通過將獲取的3D掃描數據轉換成2D的平面圖像，并通過對2D的平面圖像的處理得到待測物的檢測結果，本發明實施例相對于直接對3D掃描數據進行處理，通過對2D的平面圖像的處理，減少運算設備本身的運行內存，在進行大批量的3D掃描數據處理時消耗的內存大大減少，提高了數據處理速度和檢測效率上。
技術領域
本發明屬于數據處理領域，尤其涉及一種尺寸檢測方法及尺寸檢測系統。
背景技術
在現有技術中，為了獲取膠條的具體尺寸，如寬度和厚度等，經常使用3D檢測技術，以快速得到膠條的具體尺寸。
現有的膠條檢測技術對于3D數據的批量處理有較大的優勢，如準確率較高，但針對性相對薄弱，如存在運算效率較低的問題，現有技術不適用多數據、高效率的技術需求。
發明內容
本發明所要解決的技術問題在于提供一種尺寸檢測方法及尺寸檢測系統，旨在解決現有技術提供的膠條檢測技術不適用于多數據，運算效率低的問題。
本發明是這樣實現的，一種尺寸檢測方法，包括：
獲取待測物的3D掃描數據；
將所述3D掃描數據按照預設方式進行轉換，得到平面圖像；
獲取所述平面圖像的目標定位點，根據所述目標定位點和預設檢測軌跡獲取所述平面圖像中所述待測物的若干基準點；
根據若干所述基準點進行計算，得到所述待測物的檢測結果。
進一步地，所述獲取待測物的3D掃描數據包括：
在檢測到掃描操作時，向掃描設備進行復位指令，所述復位指令用于指示所述掃描設備進行復位操作；
在確定所述掃描設備完成復位操作后，控制所述掃描設備按照預設掃描策略對所述待測物進行掃描，獲取所述待測物的3D掃描數據。
進一步地，所述將所述3D掃描數據按照預設方式進行轉換，得到平面圖像包括：
獲取所述3D掃描數據中的所述待測物的掃描位置及掃描編號，其中，所述掃描位置與所述掃描編號一一對應；
對所述掃描編號進行順序排序，根據排序后的所述掃描編號將所述3D掃描數據進行轉換，得到所述平面圖像。
進一步地，所述獲取所述平面圖像的目標定位點包括：
對所述平面圖像進行遍歷；
將所述遍歷點與預設定位點進行比較，若所述遍歷點與所述預設定位點一致，則以所述遍歷點為所述目標定位點。
進一步地，所述根據所述目標定位點和預設檢測軌跡獲取所述平面圖像中所述待測物的若干基準點包括：
以所述目標定位點為定位基準點，將所述預設檢測軌跡平鋪于所述平面圖像；
對所述預設檢測軌跡進行包括細分和抓邊的處理，得到所述待測物的邊緣位置的第一基準點和第二基準點；
以所述第一基準點和所述第二基準點為基準向外膨脹預設長度，得到第三基準點和第四基準點。
進一步地，所述根據若干所述基準點進行計算，得到所述待測物的檢測結果包括：
以所述第一基準點和所述第二基準點在所述平面圖像上的距離，作為所述待測物的寬度；
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