[發明專利]一種封框膠寬度檢測方法、顯示面板及顯示裝置有效
| 申請號: | 202110302207.4 | 申請日: | 2021-03-22 |
| 公開(公告)號: | CN113031323B | 公開(公告)日: | 2022-09-09 |
| 發明(設計)人: | 張建英;唐榕;鄭浩旋 | 申請(專利權)人: | 綿陽惠科光電科技有限公司;惠科股份有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13;G02F1/1339;G01B11/02 |
| 代理公司: | 深圳中一專利商標事務所 44237 | 代理人: | 張海燕 |
| 地址: | 621000 四川*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 封框膠 寬度 檢測 方法 顯示 面板 顯示裝置 | ||
本發明適用于顯示技術領域,提供了一種封框膠寬度檢測方法、顯示面板及顯示裝置,該封框膠寬度檢測方法包括在第一基板的非顯示區形成反光層;在反光層上涂布一周封框膠,并使得封框膠的寬度小于反光層的寬度,將第二基板蓋設于封框膠上,并使得第一基板和第二基板貼合成盒,得到成盒后的顯示面板。根據封框膠和反光層對于紫外光的反應存在差異,通過紫外光發生檢測裝置對顯示面板進行照射,當紫外光照射顯示面板時,固化封框膠的同時反光層反射光,根據封框膠兩側反射回來的光線之間的距離,從而可以計算出封框膠的寬度,無需額外增加檢測設備,操作簡單方便,且反光層位于非顯示區,僅在紫外光照射時反光,不會影響顯示面板的正常顯示。
技術領域
本發明屬于顯示技術領域,特別涉及一種封框膠寬度檢測方法、顯示面板及顯示裝置。
背景技術
隨著顯示技術的發展,液晶顯示器(Liquid Crystal Display,LCD)因其具有高畫質及機身薄等優點,而被廣泛應用。在液晶顯示面板的生產工藝中,通過彩膜(CF,ColorFilter)基板、薄膜晶體管(TFT,Thin Film Transistor)陣列基板、夾設于彩膜基板和薄膜晶體管基板之間的液晶(LC,Liquid Crystal)及密封框膠(Sealant)對盒形成。其中,對盒工藝主要包括封框膠涂布、固化等步驟。
目前,現有的顯示面板通過封框膠粘合彩膜基板和薄膜晶體管陣列基板,封框膠通過陣列基板照射進來的紫外光(UV,Ultraviolet Rays)進行固化,達到粘附上下基板的作用。當對盒后上下基板間封框膠寬度過寬時,不利于窄邊框的實現,且易影響切割工藝;當封框膠寬度過窄時,容易出現液晶滲漏等問題,影響顯示面板的顯示效果,成本高,所以對于封框膠寬度的檢測十分重要,但是現有的封框膠寬度檢測需要專門的設備對封框膠的寬度進行檢測,操作繁瑣。
發明內容
本發明的目的在于提供一種封框膠寬度檢測方法及顯示面板,旨在解決現有的封框膠寬度檢測需要專門的設備對其進行檢測,操作繁瑣的技術問題。
本發明是這樣實現的,一種封框膠寬度檢測方法,包括:
在第一基板的非顯示區形成反光層;
在所述反光層上涂布封框膠,并使得所述封框膠的寬度小于所述反光層的寬度,將第二基板蓋設于所述封框膠上,使得所述第一基板和所述第二基板貼合成盒,得到成盒后的顯示面板;
通過紫外光發生檢測裝置對所述顯示面板進行照射,使所述封框膠因吸收紫外光后發生固化,同時,通過所述紫外光發生檢測裝置接收所述反光層反射回來的光線;
通過測量從所述封框膠兩側反射回來的光線之間的距離計算出所述封框膠的寬度。
本發明提供的封框膠寬度檢測方法的有益效果在于:根據封框膠和反光層對于紫外光的反應存在差異,通過紫外光發生檢測裝置對顯示面板進行照射,當紫外光照射的顯示面板時,固化封框膠的同時反光層反射光,根據封框膠兩側反射回來的光線之間的距離,從而可以計算出封框膠的寬度,無需額外增加檢測設備,操作簡單方便,且反光層位于非顯示區,僅在紫外光照射時反光,不會影響顯示面板的正常顯示。
在一個實施例中,在通過所述紫外光發生檢測裝置對對盒后的所述顯示面板進行照射的步驟中,對第一基板一側的封框膠進行照射。在一個實施例中,在通過紫外光發生檢測裝置對對盒后的顯示面板進行照射的步驟中,所述紫外光發生檢測裝置發出的紫外光垂直入射于所述第二基板內。
在一個實施例中,所述反光層為熒光油墨層,通過計算所述封框膠兩側反射回來的光線的距離計算所述封框膠的寬度包括:
選取所述封框膠的一段為測量區域;
通過所述紫外光發生檢測裝置對所述顯示面板進行照射,使所述封框膠的一段吸收紫外光,通過所述紫外光發生檢測裝置接收所述熒光油墨層反射的熒光;
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