[發(fā)明專利]被測裝置的自動化識別

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110301497.0
• 申請日: 2021-03-22
• 公開（公告）號: CN113495180A
• 公開（公告）日: 2021-10-12
• 發(fā)明（設計）人: S·J·施特里克林;A·麥卡恩;D·S·弗勒利希;M·L·鮑德溫;J·辛;陳霖永
• 申請（專利權）人: 特克特朗尼克公司
• 主分類號: G01R13/02
• 分類號: G01R13/02
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 鄭瑾彤;呂傳奇

本發(fā)明涉及被測裝置的自動化識別。用于被測裝置的自動化識別并基于該識別來檢索與被測裝置相關聯(lián)的數(shù)據(jù)的系統(tǒng)和方法。系統(tǒng)和方法包括：接收基于被測裝置的標識特性的識別密鑰；將接收到的識別密鑰與數(shù)據(jù)庫中存儲的密鑰進行匹配；當接收到的識別密鑰與所存儲的密鑰匹配時，檢索與所存儲的密鑰相關的數(shù)據(jù)；基于檢索到的數(shù)據(jù)傳送在測試和測量裝置上執(zhí)行動作的指令；接收與被測裝置相關的新數(shù)據(jù)；以及用新數(shù)據(jù)來更新數(shù)據(jù)庫中的與所存儲的密鑰相關的數(shù)據(jù)。

優(yōu)先權

本公開要求對提交于2020年3月22日的題為“AUTOMATED RECOGNITION OF ADEVICE UNDER TEST（被測裝置的自動化識別）”的美國臨時申請?zhí)?2/993,025和提交于2020年8月1日的題為“AUTOMATIC RECOGNITION OF SILICON IN A DEVICE UNDER TEST（被測裝置中的硅的自動識別）”的美國臨時申請?zhí)?3/060,021的權益，通過引用將其全部內(nèi)容結合于此。

技術領域

本公開涉及與測試和測量系統(tǒng)相關的系統(tǒng)和方法，并且特別地涉及自動識別被測裝置并組織與被測裝置的識別相關的數(shù)據(jù)。

背景技術

工程師和其他人員通常使用測試和測量儀器（如示波器）來測量被測裝置（DUT）的各種信號和參數(shù)，以測試、測量、排除故障、或以其他方式表征和/或驗證DUT的性能。用戶通常采用測試和測量儀器來在DUT上在大量的測試點處采集測量數(shù)據(jù)，例如信號波形。例如，如果用戶正在測量響應于輸入信號的變化的參數(shù)的DUT的輸出信號，則用戶通常會針對單個測試點進行多次測量，即采集多次數(shù)據(jù)。

此外，在許多情況下，用戶將需要針對給定的項目測試DUT設計的多個實例或副本。例如，工程師可能已針對一個項目構建了特定的印刷電路板組裝件（PCBA）設計的十個原型，并且可能需要在這十個DUT中的每一個上對相同組的測試點執(zhí)行相同組的測量，以便比較測得的數(shù)據(jù)、確定數(shù)據(jù)的統(tǒng)計屬性、確定項目設計的操作性能范圍等。隨著測試點數(shù)量、在每個測試點處要執(zhí)行的測試數(shù)量以及DUT數(shù)量的增加，針對一個項目管理和組織所有測得數(shù)據(jù)可能會變得充滿挑戰(zhàn)。特別地，需要用戶能夠容易地將一組測得數(shù)據(jù)與特定DUT和/或作為特定項目的一部分的一組DUT相關聯(lián)。測得數(shù)據(jù)可以包括例如波形數(shù)據(jù)文件、設定文件、測試和測量儀器的顯示器截屏等。

傳統(tǒng)上，用戶可以通過使用特定的命名方案保存數(shù)據(jù)來將測得數(shù)據(jù)與DUT相關聯(lián)。然而，對共享項目工作的所有用戶都必須記住并嚴格堅持這樣的文件命名方案，否則數(shù)據(jù)可能會丟失或放錯位置。

本公開的示例針對的是現(xiàn)有技術的這些和其他缺陷。

附圖說明

本公開的示例的方面、特征和優(yōu)點將從參考附圖的對示例的以下描述中變得顯而易見，在附圖中：

圖1例示了根據(jù)本公開的一些示例的測試和測量系統(tǒng)的示例。

圖2例示了圖1的通信裝置的示例。

圖3是根據(jù)本公開的一些示例的用于生成DUT的識別密鑰或標識符的示例框圖。

圖4是例示圖1的測試和測量系統(tǒng)的操作的流程圖。

圖5是例示圖1的測試和測量系統(tǒng)的另一操作的另一流程圖。

具體實施方式