[發(fā)明專利]一種基于SVM分類的工業(yè)部件表面輕微缺陷檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110300455.5 | 申請日： | 2021-03-22 |
| 公開（公告）號： | CN112669322B | 公開（公告）日： | 2021-06-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 邱增帥;謝亮;王罡;潘正頤;侯大為 | 申請（專利權(quán)）人： | 常州微億智造科技有限公司 |
| 主分類號： | G06T7/00 | 分類號： | G06T7/00;G06T7/70;G06K9/62 |
| 代理公司： | 常州至善至誠專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32409 | 代理人： | 趙旭 |
| 地址： | 213100 江蘇省常*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 基于 svm 分類 工業(yè) 部件 表面 輕微 缺陷 檢測 方法 | ||
1. 一種基于SVM分類的工業(yè)部件表面輕微缺陷檢測方法，其檢測步驟為：
S100、仿射變換
對部件表面缺陷的圖像進(jìn)行仿射變換；
S200、隨機(jī)點(diǎn)遍歷
對仿射變換后的圖像分塊并進(jìn)行隨機(jī)點(diǎn)遍歷；
S300、缺陷識別
通過圖像上的隨機(jī)點(diǎn)進(jìn)行缺陷識別運(yùn)算：
S310、以隨機(jī)點(diǎn)作為缺陷基準(zhǔn)直線的中心點(diǎn)，統(tǒng)計(jì)經(jīng)過此中心點(diǎn)每一條直線的黑色像素點(diǎn)個(gè)數(shù)；
S320、統(tǒng)計(jì)基準(zhǔn)直線上的像素值，提取此基準(zhǔn)直線兩側(cè)一定距離的兩根直線，根據(jù)兩根直線上的像素值求取兩根直線的均值，并與基準(zhǔn)直線的像素值進(jìn)行比較；
S330、獲得黑色像素點(diǎn)較多且與兩根直線的均值差別較多的直線；
S400、SVM分類
根據(jù)缺陷檢測結(jié)果和SVM分類法，獲取準(zhǔn)確度較高的超平面，判斷是否存在缺陷。
2.如權(quán)利要求1所述的一種基于SVM分類的工業(yè)部件表面輕微缺陷檢測方法，其特征在于：
步驟S100包括：
S110、采集圖像并對其進(jìn)行組裝，作為原始輸入圖像；
S120、對輸入的圖像中的傾斜圖像進(jìn)行定位，并進(jìn)行仿射變換。
3.如權(quán)利要求1所述的一種基于SVM分類的工業(yè)部件表面輕微缺陷檢測方法，其特征在于：
步驟S200包括：
S210、對仿射變換后的圖像進(jìn)行分塊，進(jìn)行砂痕印提取算法，并行處理；
S220、對分塊后的小圖像采用蒙特卡羅隨機(jī)取點(diǎn)法，以隨機(jī)點(diǎn)作為基準(zhǔn)點(diǎn)，基準(zhǔn)點(diǎn)采用白色像素點(diǎn)標(biāo)注，并對其進(jìn)行遍歷。
4.如權(quán)利要求1所述的一種基于SVM分類的工業(yè)部件表面輕微缺陷檢測方法，其特征在于：
步驟S400包括：
S410、提取黑色像素點(diǎn)較多的多張圖像；
S420、對多張圖像進(jìn)行SVM分類法，獲取準(zhǔn)確度較高的超平面，判斷部件表面是否存在輕微缺陷。
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