[發明專利]阻抗測試方法及其測試裝置

有效

• 申請號: 202110297820.1
• 申請日: 2021-03-19
• 公開（公告）號: CN113203894B
• 公開（公告）日: 2022-11-18
• 發明（設計）人: 趙宇明;王靜;李艷;劉國偉;劉京斗;張友剛
• 申請（專利權）人: 深圳供電局有限公司
• 主分類號: G01R27/08
• 分類號: G01R27/08;G01R23/02
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 紀婷婧

1.一種阻抗測試方法，其特征在于，包括：

注入第一頻率的第一激勵信號和第二頻率的第二激勵信號至待測設備；

獲取所述待測設備響應于所述第一激勵信號產生的第一阻抗信息，以及響應于所述第二激勵信號產生的第二阻抗信息；

根據所述第一阻抗信息和所述第二阻抗信息獲取差值阻抗信息，所述差值阻抗信息包括電阻值和相位值，根據所述電阻值、相位值和預設調整策略更新所述第一頻率和所述第二頻率；

根據調整后的所述第一頻率和所述第二頻率，重復執行注入所述第一激勵信號和所述第二激勵信號的步驟，以獲取更新的所述第一阻抗信息和所述第二阻抗信息，直至所述第二頻率等于預設頻率閾值；

根據獲取的多個所述第一阻抗信息和多個所述第二阻抗信息生成并顯示阻抗曲線。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述注入第一頻率的第一激勵信號和第二頻率的第二激勵信號至待測設備前，還包括：

注入第一電流值的諧波電流信號至所述待測設備；

當所述第一阻抗信息或所述第二阻抗信息的幅值大于或等于幅值閾值時，根據預設電流調節系數調節所述第一電流值，并根據調節后的所述第一電流值重新注入諧波電流信號至所述待測設備。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述電阻值、相位值和預設調整策略更新所述第一頻率和所述第二頻率，包括：

當所述電阻值大于或等于電阻閾值時，根據第一調整策略調整所述第一頻率和所述第二頻率。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據第一調整策略調整所述第一頻率和所述第二頻率，包括：

更新頻率步長為εω_e，其中，ω_e為更新前的所述頻率步長，所述頻率步長為所述第一頻率與所述第二頻率的差值，|ΔZ|為所述電阻值，k_p、k_r為預設定值；

根據更新后的所述頻率步長和公式調整所述第一頻率和第二頻率，其中，ω₀為所述第一頻率，ω₁為所述第二頻率。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述電阻值、相位值和預設調整策略更新所述第一頻率和所述第二頻率，還包括：

當所述電阻值小于電阻閾值，且所述相位值小于相位閾值時，根據第二調整策略調整所述第一頻率和所述第二頻率。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述根據第二調整策略調整所述第一頻率和所述第二頻率，包括：

保持所述頻率步長不變，所述頻率步長為所述第一頻率與所述第二頻率的差值；

根據所述頻率步長和公式調整所述第一頻率和第二頻率，其中，ω₀為所述第一頻率，ω₁為所述第二頻率，ω_e為所述頻率步長。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述電阻值、相位值和預設調整策略更新所述第一頻率和所述第二頻率，包括：

當所述電阻值小于電阻閾值，且所述相位值大于或等于相位閾值時，以及時，根據第三調整策略調整所述第一頻率和所述第二頻率，其中，Z_e為電阻閾值，為相位閾值，為所述相位值，|ΔZ|為所述電阻值，

所述第三調整策略包括：

更新頻率步長為εω_e，其中，所述頻率步長為所述第一頻率與所述第二頻率的差值，ω_e為更新前的所述頻率步長，|ΔZ|為所述電阻值，k_p、k_r為預設定值；

根據更新后的所述頻率步長和公式調整所述第一頻率和第二頻率，其中，ω₀為所述第一頻率，ω₁為所述第二頻率。