[發(fā)明專利]郵件危險品的檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110296324.4 | 申請日: | 2021-03-19 |
| 公開(公告)號: | CN113189037A | 公開(公告)日: | 2021-07-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李濤;顧大勇;葉穎;何建安;張然;張思祥;張良 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市第二人民醫(yī)院;深圳市檢驗檢疫科學(xué)研究院 |
| 主分類號: | G01N21/3586 | 分類號: | G01N21/3586 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 紀(jì)婷婧 |
| 地址: | 518048 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 郵件 危險品 檢測 方法 | ||
1.一種郵件危險品的檢測方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取待測郵件對太赫茲波的樣品吸收譜;
當(dāng)所述樣品吸收譜在特征頻段內(nèi)存在無效數(shù)據(jù)時,對所述樣品吸收譜進(jìn)行校正處理并生成校正吸收譜;
根據(jù)所述校正吸收譜獲取危險品的檢測結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法,其特征在于,所述當(dāng)所述樣品吸收譜在特征頻段內(nèi)存在無效數(shù)據(jù)時,對所述樣品吸收譜進(jìn)行校正處理并生成校正吸收譜,包括:
當(dāng)所述樣品吸收譜在特征頻段內(nèi)存在無效數(shù)據(jù)時,根據(jù)所述無效數(shù)據(jù)相鄰的多個數(shù)據(jù)點的數(shù)據(jù)值獲取替代數(shù)據(jù)值;
采用所述替代數(shù)據(jù)值替代所述無效數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)值以進(jìn)行數(shù)據(jù)校正,并生成所述校正吸收譜。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測方法,其特征在于,所述對所述樣品吸收譜進(jìn)行校正處理并生成校正吸收譜前,還包括:
獲取所述樣品吸收譜中多個特征數(shù)據(jù)點的數(shù)據(jù)值,各所述特征數(shù)據(jù)點的頻率均位于所述特征頻段內(nèi);
獲取各所述特征數(shù)據(jù)點的數(shù)據(jù)值與相鄰的數(shù)據(jù)點的數(shù)據(jù)值之間的差值;
當(dāng)任一所述特征數(shù)據(jù)點的兩個所述差值均超出預(yù)設(shè)差值范圍時,判定所述特征數(shù)據(jù)點為無效數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法,其特征在于,所述根據(jù)所述校正吸收譜獲取危險品的檢測結(jié)果前,還包括:
對所述校正吸收譜進(jìn)行平滑濾波處理,以獲取濾波吸收譜;
所述根據(jù)所述校正吸收譜獲取危險品的檢測結(jié)果,包括:
根據(jù)所述濾波吸收譜獲取所述危險品的檢測結(jié)果。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測方法,其特征在于,所述對所述校正吸收譜進(jìn)行平滑濾波處理,以獲取濾波吸收譜,包括:
對所述校正吸收譜進(jìn)行多重非對稱最小二乘平滑濾波處理,以獲取所述樣品吸收譜。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法,其特征在于,所述根據(jù)所述校正吸收譜獲取危險品的檢測結(jié)果,包括:
當(dāng)所述校正吸收譜包括危險品的特征吸收峰時,判定所述待測郵件中存在危險品。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢測方法,其特征在于,所述當(dāng)所述校正吸收譜包括危險品的特征吸收峰時,判定所述待測郵件中存在危險品,包括:
比對所述校正吸收譜和吸收譜庫,所述吸收譜庫包括多個危險品的特征吸收峰;
當(dāng)所述校正吸收譜的各吸收峰分別與任一所述危險品的各特征吸收峰一一對應(yīng)時,判定所述待測郵件中存在與所述特征吸收峰對應(yīng)的危險品。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測方法,其特征在于,所述當(dāng)所述校正吸收譜包括危險品的特征吸收峰時,判定所述待測郵件中存在危險品,還包括:
當(dāng)不存在與所述校正吸收譜的各吸收峰均對應(yīng)的所述危險品時,對所述校正吸收譜中峰值最小的吸收峰進(jìn)行去除處理;
根據(jù)去除處理后的所述校正吸收譜重復(fù)所述比對所述校正吸收譜和吸收譜庫的步驟。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法,其特征在于,所述獲取待測郵件對太赫茲波的樣品吸收譜,包括:
獲取所述待測郵件對太赫茲波的樣品透射頻譜;
根據(jù)公式獲取所述待測郵件的樣品吸收譜;
其中,Esam(ω)為所述樣品透射頻譜,Eref(ω)為預(yù)設(shè)的環(huán)境頻譜,A(ω)為所述待測郵件的樣品吸收譜。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法,其特征在于,所述獲取所述待測郵件對太赫茲波的樣品透射頻譜前,還包括:
通過太赫茲相機(jī)對所述待測郵件進(jìn)行掃描,以確定待測郵件中的目標(biāo)成像區(qū)域;
所述獲取所述待測郵件對太赫茲波的樣品透射頻譜,包括:
通過太赫茲頻譜儀對所述目標(biāo)成像區(qū)域進(jìn)行掃描,以獲取所述目標(biāo)成像區(qū)域?qū)μ掌澆ǖ臉悠吠干漕l譜。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳市第二人民醫(yī)院;深圳市檢驗檢疫科學(xué)研究院,未經(jīng)深圳市第二人民醫(yī)院;深圳市檢驗檢疫科學(xué)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110296324.4/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





