[發明專利]芯片FT與EQC一體化測試方法及系統

在審

• 申請號: 202110294598.X
• 申請日: 2021-03-19
• 公開（公告）號: CN113051115A
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發明（設計）人: 吳春誠;徐磊;趙世偉
• 申請（專利權）人: 珠海芯網測控有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F8/61;G06F9/445
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 張志輝

1.一種芯片FT與EQC一體化測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

上位機根據測試請求運行對應的測試程序，基于測試配置表從所述測試程序中讀取燒碼數據，通過中斷方式向單片機發送所述燒碼數據；

所述單片機接收所述燒碼數據并保存至外部Flash，并將所述燒碼數據燒錄至待測芯片中；

所述上位機通過所述單片機對所述待測芯片進行FT測試，若檢測到通過所述FT測試的所述待測芯片的數量大于等于預設EQC測試需求數量，則對通過所述FT測試的所述待測芯片進行EQC測試。

2.根據權利要求1所述的芯片FT與EQC一體化測試方法，其特征在于，所述上位機向所述單片機發送所述燒碼數據的方法包括：

所述上位機首次運行所述測試程序時，基于所述測試配置表判斷是否執行燒碼操作；

若執行燒碼操作，則所述上位機從所述測試程序中讀取所述燒碼數據，向所述單片機發送燒碼中斷后，發送所述燒碼數據。

3.根據權利要求2所述的芯片FT與EQC一體化測試方法，其特征在于，所述單片機接收到所述燒碼中斷后，通過串口接收所述燒碼數據并保存，并通過I2C總線將所述燒碼數據燒錄至所述待測芯片。

4.根據權利要求2所述的芯片FT與EQC一體化測試方法，其特征在于，所述單片機通過I2C總線獲取所述待測芯片的燒錄返回值，并通過串口發送給所述上位機，所述上位機根據所述燒錄返回值判斷是否燒錄成功。

5.根據權利要求1所述的芯片FT與EQC一體化測試方法，其特征在于，所述上位機根據所述測試配置表判斷是否執行EQC測試，若執行所述EQC測試，且檢測到通過所述FT測試的所述待測芯片的數量等于所述預設EQC測試需求數量的整數倍，則對通過所述FT測試的所述待測芯片進行EQC測試。

6.根據權利要求1所述的芯片FT與EQC一體化測試方法，其特征在于，所述上位機提供交互界面，用于根據業務需求編輯所述測試程序，添加相應的所述燒碼數據，以及，配置所述測試程序的EQC配置項，并保存至所述測試配置表，其中所述EQC配置項包括：是否進行EQC測試以及所述預設EQC測試需求數量。

7.根據權利要求1所述的芯片FT與EQC一體化測試方法，其特征在于，所述測試配置表包括：測試項編號、測試項名稱、測試類型、FT測試檢測閾值及錯誤分類。

8.一種芯片FT與EQC一體化測試系統，使用權利要求1至7中任一項的方法，其特征在于，包括：

上位機，用于根據測試請求運行對應的測試程序，對待測芯片進行FQ測試及EQC測試，所述上位機包括：燒寫模塊，用于基于測試配置表從所述測試程序中讀取燒碼數據，通過中斷方式向單片機發送所述燒碼數據；以及，EQC測試控制模塊，用于確定通過所述FT測試的所述待測芯片的數量是否大于等于預設EQC測試需求數量，若是，則對通過所述FT測試的所述待測芯片進行EQC測試；

單片機，分別與所述上位機及所述待測芯片連接，用于接收所述燒碼數據并保存至外部Flash內，并將所述燒碼數據燒錄至所述待測芯片中。

9.根據權利要求8所述的芯片FT與EQC一體化測試系統，其特征在于，所述上位機通過串口與所述單片機連接，所述單片機通過I2C總線與所述待測芯片連接。

10.根據權利要求8所述的芯片FT與EQC一體化測試系統，其特征在于，所述上位機還包括：

交互界面模塊，用于根據業務需求編輯所述測試程序，添加相應的所述燒碼數據，以及，配置所述測試程序的EQC配置項，并保存至所述測試配置表，其中所述EQC配置項包括：是否進行EQC測試以及所述預設EQC測試需求數量。